Geri Dön

Si tabanlı Sn metali ile oluşturulan ince arayüzey doğal oksit tabakalı ve tabakasız schottky diyotların idealite faktörleri ile engel yükseklikleri arasındaki lineer ilişkinin araştırılması

The Investigation of the linear correlation between barrier heights and ideality factors of Si based Sn schottky diodes with and without native interfacial oxide layer

  1. Tez No: 123527
  2. Yazar: KEMAL AKKILIÇ
  3. Danışmanlar: PROF. DR. TAHSİN KILIÇOĞLU
  4. Tez Türü: Doktora
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Engel yüksekliği, Schottky diyodları, İdealite faktörü, Barrier height, Schottky diodes, Ideality factor
  7. Yıl: 2002
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Dicle Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.

Özet

îti ÖZET Bu çalışmada, (100) doğrultusunda büyütülmüş, 400 um kalınlıklı ve direnci 5- 10 Q.cm arasında olan n ve p-tipi Silisyum kullanıldı. Çalışmadaki amacımız, engel yüksekliğinin uzaysal inhomojenliğinin neden olduğu etkin engel yüksekliği ile idealite faktörleri arasındaki lineer ilişkiyi deneysel olarak göstermektir. Bu amaç için, ince arayüzey doğal oksit tabakalı ve tabakasız Sn/n-Si ve Sn/p- Si (n-MS, n-MIS, p-MS ve p-MIS) diyotlarını kendi araştırma laboratuvarımızda imal ettik. Diyotların karakteristik parametreleri, akım-gerilim (I-V), kapasite-gerilim (C- V) ve iletkenlik gerilim (G-V) ölçümlerinden belirlendi. İnce arayüzey doğal oksit tabakasız, n-MS için engel yüksekliği 0.60 eV ile 0.67 eV arasında ve idealite faktörleri 1.349 ile 2.557 arasında, ince arayüzey doğal oksit tabakalı, n-MIS için ise engel yükseklikleri 0.56 eV ile 0.65 eV arasında idealite faktörleri ise 1.381 ile 2.777 arasında sıralandı. İnce arayüzey doğal oksit tabakasız p-MS için engel yüksekliği 0.70 eV İle 0.73 eV ile arasında ve idealite faktörleri 1.002 ile 1.189 arasında, p-MIS için ise engel yükseklikleri 0.77 eV ile 0.80 eV arasında idealite faktörleri ise 1.051 ile 1.199 eV arasında sıralandı. Bunun yanı sıra, deneysel engel yüksekliklerine karşı çizilen doğrusal grafiklerinin ekstrapolasyonuyla, imaj kuvvet azaltma değeri eklenerek, uzaysal homojen engel yüksekliklerini sırasıyla ince arayüzey tabakalı ve tabakasız n-MS için yaklaşık olarak 0.665eV ve 0.692 eV olarak bulundu.

Özet (Çeviri)

IV SUMMARY In this study, we have used n-Si and p-Si with (100) orientation, 400um thickness and resistivity between 5-10 Cl.cm. Our purpose is experimentally to confirm the linear relationship between effective barrier heights and ideality factors for Schottky diodes that can result from lateral inhomogeneities of the barrier height. For this, we have prepared the Sn/n-Si and Sn/p-Si (n-MS, n-MIS, p-MS and p- MIS) diodes with and without the native oxide layer in our research laboratory. The characteristics parameters of diodes using current-voltage (I-V), capacitance-voltage (C- V) and conductance-voltage (G-V) measurements has been determined. The Schottky barrier height for the n-MS without thin native interfacial oxide layer ranged from 0.60 eV to 0.67 eV, and ideality factor n from 1.349 to 2.557, for the n-MIS ranged from 0.56 eV to 0.65 eV, and ideality factor n value from 1.381 to 2.777. The Schottky barrier height, for the p-MS without thin native interfacial oxide layer ranged from 0.70 eV to 0.73 eV and ideality factor n from 1.002 to 1.189, for the p-MIS ranged from 0.77 eV to 0.80 eV and ideality factor n value from 1.051 to 1.199. Furthermore, the extrapolation of the linear plot of the experimental barrier heights versus ideality factors gives the laterally homogeneous barrier heights of approximately 0.665eV and 0.692 eV for the n-MS with and without the interfacial oxide layer, respectively, adding the image force lowering values.

Benzer Tezler

  1. Au/n-InP ve Au/Pyronine-B/n-InP Schottky yapıların sıcaklığa bağlı elektriksel karakterizasyonu

    Temperature dependence of electrical characteristics of Au/n-InP and Au/Pyronine-B/n-InP Schottky structures

    MURAT SOYLU

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2007

    Fizik ve Fizik MühendisliğiAtatürk Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF.DR. BAHATTİN ABAY

  2. Organik tabanlı güneş pili üretimi ve karakterizasyonu

    Organik tabanli güneş pili üretimi ve karakterizasyonu

    SAEEDULLAH SAJJAD

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2013

    Fizik ve Fizik MühendisliğiYıldız Teknik Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. AHMET ALTINDAL

  3. Sensör uygulamaları için farklı kalınlıklarda oluşturulan zno nano ince filmlerin Schottky engel diyotlar üzerine etkisi

    The effect of different thicknesses zno nano thin films on Schottky barrier diodes for sensor applications

    ATAKAN BEKAR

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2022

    Elektrik ve Elektronik MühendisliğiKastamonu Üniversitesi

    Elektrik ve Elektronik Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. OSMAN ÇİÇEK

  4. Discovery of novel enzymes using proteomic approaches

    Proteomik yaklaşımlar kullanılarak yeni enzimlerin keşfi

    MERVE ÖZTUĞ KILINÇ

    Doktora

    İngilizce

    İngilizce

    2021

    Biyokimyaİstanbul Teknik Üniversitesi

    Moleküler Biyoloji-Genetik ve Biyoteknoloji Ana Bilim Dalı (disiplinlerarası)

    PROF. DR. NEVİN GÜL KARAGÜLER

    DOÇ. DR. MÜSLÜM AKGÖZ

  5. Naftokinon tabanlı iyon sensörlerin geliştirilmesi

    Development of ion sensors based on naphthoquinone

    ZELİHA MERMER

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2021

    Kimyaİstanbul Teknik Üniversitesi

    Kimya Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. İSMAİL YILMAZ