TiO2 ince filmlerinin optik parametrelerinin tayini
Başlık çevirisi mevcut değil.
- Tez No: 1773
- Danışmanlar: DOÇ.DR. ÜLKÜ CANTÜRK
- Tez Türü: Doktora
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
- Yıl: 1985
- Dil: Türkçe
- Üniversite: İstanbul Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: 46
Özet
ÖZET Bu çalışmada Ti02 filmlerinin optik sabitleri incelen di. Bu filmler yüksek vakumda çıplak cam ve Ag kaplı cam ta şıyıcılar üzerine hazırlandı. Bu filmlerini ve 'Vp elipsometrik parametreleri, elip- sometre ile tayin edildi, ve spektrofotometre ile filmlerin geçirgenlikleri ölçüldü. Filmlerin kalınlıkları, kırılma indisleri ve söndürme indisleri, elipsometrik parametreler yardımıyla kompüter tekniği ile hesaplandı. Bu, kalınlık tayini için orijinal bir metottur. Film kalınlıkları 28 £-71 S arasındadır. Kırılma indisi 4.000 S dalga boyu civarında 3~4- ve 5700 S. dalga boyu civarında ise 6-7,5 değerlerini al dı. 5-000 S'lük dalga boyunda minimum gözlendi. Kırılma indisi ve söndürme indisinin dalga boyuna gö re değişimi verildi. Elipsometrik ölçümlerle spektrofotometrik ölçümler uyum sağladı.
Özet (Çeviri)
SUMMARY In this study, optical constants of thin films of TiO~ have been investigated. These films were deposited on bare glass and Ag covered glass substrates in high vacuum. Ellipsometric parameters A. and“Vp of these films were determined by ellipsometer and also transmission of these films were measured by spectrophotometer. The thicknesses and refractive indices and extinction coefficients of these films were determined from ellipso metric parameters by computer technic. This is an original method to determine the thickness. The thickness of these films were between 28 £-71 &. Refractive index values were approximately 5-4- at 4.000 % on the other side 6-7,5 at 5700 % wavelength. It was minimum at 5«000 İÜ. The depence of the wavelength of refractive index and extinction coefficient had been given. Ellipsometric measuremeöt agreed ”with the spectrophometidc values.
Benzer Tezler
- TiN ve TiO2 ince filmlerinin hazırlanması ve optik özelliklerinin incelenmesi
Preparation of tin and TiO2 thin films and investigation of their optical properties
AYŞE BEGÜM ARIĞ
Yüksek Lisans
Türkçe
2010
Fizik ve Fizik MühendisliğiHacettepe ÜniversitesiFizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. HÜSEYİN ZAFER DURUSOY
- Nano brukit TiO2 ve TiO2 nano kompozit filmlerin üretimi ve karakterizasyonu
The production and characterization of nano brookite TiO2 and TiO2 nano composite films
ÜMİT ÖZLEM AKKAYA ARIER
Doktora
Türkçe
2011
Fizik ve Fizik Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiFizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. FATMA ZEHRA TEPEHAN
- Thin film coatings with various materials and techniques for smart glass applications
Akıllı cam uygulamaları için farklı malzemeler ve tekniklerle ince film kaplamalar
AYŞE DİCEL
Yüksek Lisans
İngilizce
2021
Bilim ve Teknolojiİstanbul Teknik ÜniversitesiNanobilim ve Nanomühendislik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. ESRA ZAYİM
- Tungsten oksit ve katkılı tungsten oksit ince filmlerin hazırlanması ve karakterizasyonu
Preparation and characterization of tungsten oxide and doped tungsten oxide thin films
ESRA ÖZKAN ZAYİM
Doktora
Türkçe
2002
Fizik ve Fizik Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiFizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. FATMA Z. TEPEHAN
- Metal katkılı tio2 bileşenli boya duyarlı güneş hücrelerinin (DSSCs) üretimi ve parametrelerinin belirlenmesi
Fabrication of metal doped tio2 based dye sensitized solar cells (DSSCs) and determination of their photovoltaic parameters
ALİ UĞUR
Doktora
Türkçe
2021
Fizik ve Fizik MühendisliğiVan Yüzüncü Yıl ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. ARİFE GENÇER İMER