Geri Dön

The growth and characterization of Fe/tTaOx/Co multilayers for spintronics applications

Spintronik uygulamaları için Fe/TaOx/Co çoklu katmanlarının büyütülmesi ve karakterizasyonu

  1. Tez No: 232903
  2. Yazar: HÜSEYİN TOKUÇ
  3. Danışmanlar: YRD. DOÇ. DR. SÜLEYMAN TARI
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
  7. Yıl: 2008
  8. Dil: İngilizce
  9. Üniversite: İzmir Yüksek Teknoloji Enstitüsü
  10. Enstitü: Mühendislik ve Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: 74

Özet

Bu tezde, mıknatıssal sıçratma yöntemiyle büyütülen Fe/TaOx/Co çoklu katmanlarının Ta alt katmanı ve yalıtkan oksit katmanının kalınlığına bağlı olarak yapısal ve manyetik özellikleri incelenmiştir. Yapısal incelemelerde XRD ve AFM teknikleri, manyetik incelemelerde VSM ve kırılma indisinin ölçümünde de elipsometri teknikleri kullanılmıştır.Yapısal incelemeler, Ta alt katmanının, Fe' in kristal özelliğini arttırdığını ve manyetik özelliklerinin değişmesine yolaçtığını göstermiştir. Yapılan AFM ölçümlerinde katmanların yüzey prüzlülüklerinin 1.7 Å ile 6.3 Å arasında değiştiği gözlenmiştir. Tabakaların yüzeyi, ferromanyetik katmanlar arasındaki yüzey prüzlülüğüne bağlı manyetik etkileşimi azaltacak kadar düzgündür. Oksit tabakasının kalınlığı 4 nm olduğunda manyetik etkileşimsizlik gözlenmeye başlanmıştır. Oksit tabakasının kalınlığı artırılmaya devam ettirildiğinde, ferromanyetik tabakaların coersivite alanları arasındaki fark açıkça gözlenmeye başlanmıştır. Tavlamanın çoklu katman üzerindeki etkisi araştırılmış ve Fe/TaOx/Co çoklu katmanının 250°C'ye kadar tavlanması, sadece Fe katmanının coersivite alanının arttığını göstermiştir. 400°C de tavlama, coercivite alanında keskin bir düşüşe neden olmuştur. Bu, Fe/TaOx ara yüzeyinde bir oksijen karışımın olduğunu göstermiştir. Bu çalışmada ayrıca fotolitografi tekniği kullanılarak manyetik tünel eklemleri üretilmiş, elektriksel ve manyetikdirenç ölçümleri yapılmıştır. Oksit tabakasının kalitesi araştırılmıştır. Oksit tabakasının iyi bir dielektrik özelliğine sahip olarak büyümediği gözlenmiştir.

Özet (Çeviri)

In this thesis, structural and magnetic properties of Fe/TaOx/Co multilayers were investigated by depending on the Ta under layer and barrier thickness. The XRD and AFM thecniques were used for structural investigations and the VSM was used for investigation of magnetic properties as well as the ellipsometry thecnique was used for measuring the refractive indexes.The structural investigations showed that Ta under layer increases the crystalline quality of Fe layer and causes a change on magnetic parameters of Fe films. The AFM results showed that the range of the roughnesses for all layers is between 1.7 Å and 6.3 Å. The films are quite smoot for reducing the roughness dependent magnetostatic coupling between the magnetic layers. When the thickness of the oxide layer was 4 nm, the magnetic decoupling starts to appear. Clear differences between the coercivity field of the ferromagnetic layers was observed in the further increase of the barrier layer thickness. The effect of annealing on the Fe/TaOx/Co multilayer was studied and it was found that only the coercivity of Fe increases with increasing temperature up to the 250°C. Then, annealing at 400°C showed a sharp decrease in the coercivity of Fe indicating an intermixing at the interface of Fe/TaOx. In this study, magnetic tunnel junctions have also been fabricated by using photolithograpy technique, electrical and magnetoresistance measurements were done. It was also investigated the quality of oxide layer. The results showed that the barrier layer did not grow as a perfect amorphous structure.

Benzer Tezler

  1. Growth and structural characterization of fe/taox/fe magnetic multilayers

    Fe/taox/fe manyetik çoklu katmanların büyütülmesi ve yapısal özelliklerinin incelenmesi

    KAAN OĞUZ

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2006

    Fizik ve Fizik Mühendisliğiİzmir Yüksek Teknoloji Enstitüsü

    Fizik Ana Bilim Dalı

    Y.DOÇ.DR. SÜLEYMAN TARI

  2. Bridgman-stockbarger yöntemi ile CsCdBr3 tek kristalinin büyütülmesi ve optik özelliklerinin incelenmesi

    Başlık çevirisi yok

    OKAN YILMAZ

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1998

    Fizik ve Fizik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Fizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. GÖNÜL ÖZEN

  3. Fe ve AI ortak katkılı Zn0.95Mn0.05O ince filmlerin büyütülmesi ve karakterizasyonu

    Growth and characterization of Fe and AI co-doped Zn0.95Mn0.05O thin films

    MEHMET YILDİRİM

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2019

    Fizik ve Fizik MühendisliğiHarran Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. YUNUS BABUR

  4. Growth and electrical characterization of high purity carbon nanotubes

    Yüksek saflıkta karbon nanotüplerin büyütülmesi ve elektriksel karakterizasyonu

    SERAP KIR

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2009

    Fizik ve Fizik Mühendisliğiİzmir Yüksek Teknoloji Enstitüsü

    Fizik Bölümü

    DOÇ. DR. LÜTFİ ÖZYÜZER

    YRD. DOÇ. DR. YUSUF SELAMET

  5. ZnO'nun seyreltilmiş manyetik yarıiletken olarak elektrokimyasal yöntemle büyütülmesi ve karakterizasyonu

    Growth and characterization of ZnO as diluted magnetic semiconductor by electrochemical method

    HARUN GÜNEY

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2012

    Fizik ve Fizik MühendisliğiAtatürk Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. CEVDET COŞKUN