Geri Dön

Vakumda buharlaştırma yöntemiyle hazırlanan Cu2S ince filmlerin optik özelliklerinin elipsometrik incelenmesi

Ellipsometric study of optical properties of Cu2S thin films prepared by vacuum evaporation technique

  1. Tez No: 245715
  2. Yazar: FATİH ERSAN
  3. Danışmanlar: YRD. DOÇ. DR. HÜSEYİN DERİN
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Enerji, Fizik ve Fizik Mühendisliği, Energy, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Ellipsometry, thin films, optical properties
  7. Yıl: 2009
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Adnan Menderes Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: 75

Özet

Bu çalışmada vakumda buharlaştırma yöntemiyle hazırlanan Cu, Cu2S/Cu ve Cu2S filmlerinin optik özellikleri elipsometrik ve spektrofotometrik yöntemlerle incelenmiştir. Bundan başka Cu2S ince filmlerin yapısal verileri X-ışını difraktometresiyle elde edildi. Cu ve Cu2S/Cu sistemlerinin görünür ışık bölgesindeki optik özelliklerinin foton enerjisi ile değişimi elipsometrik yöntemle belirlenmiştir. Opak Cu filmin ve elipsometrik parametrelerinin gelme açısıyla değişiminden belirlenen asal gelme açısı değerinin 66,8 ? olduğu bulunmuştur. Farklı sıcaklıktaki cam taşıyıcılar üzerinde elde edilen Cu2S ince filmlerinin yasak band aralığı optik absorpsiyon ölçümlerinden belirlenmiştir. Cu2S ince filmlerin belirlenen yasak band aralığı değerlerinin 2,48-2,52 eV enerji aralığında olduğu ve literatürde verilen sonuçlarla uyumlu olduğu görülmüştür (Bagul, Chavhan, Sharma, 2007; Zhuge, Li, Gao, Gan, Zhou, 2009). Büyütülen filmlerin X-ışını kırınım difraktometresi ile belirlenen kırınım desenleri büyüyen fazın Cu2S olduğunu göstermiştir.Anahtar SözcüklerElipsometri, ince filmler, optik özellikler

Özet (Çeviri)

In this study, optical properties of Cu, Cu2S/Cu and Cu2S films prepared by vacuum evaporation have been investigated by ellipsometric and spectrophotometric methods. Moreover, the structural data of Cu2S thin films were obtained by X-ray diffractometer. The photon energy dependence of optical properties of Cu and Cu2S/Cu systems in the visible range has been determined by ellipsometric method. The principle angle of opaque Cu film has been obtained to be in the value of 66.8 ? degrees from the variation of the ellipsometric angles and with the angle of incidence. The forbidden band gaps of Cu2S thin films deposited on the glass substrates for different temperatures have been determined by the optical absorption measurements. It has been stated that the values of the forbidden band gaps determined the Cu2S thin films are in the energy range of 2.48-2.52 eV and convenient with the results reported in the literature (Bagul, Chavhan, Sharma, 2007; Zhuge, Li, Gao, Gan, Zhou, 2009). The diffraction patterns of deposited films determined by X-ray diffractometer have represented to be Cu2S of the phase grown.

Benzer Tezler

  1. Vakumda buharlaştırma yöntemiyle hazırlanan alüminyum ince filmlerin optik özellikleri

    Başlık çevirisi yok

    HÜSEYİN DERİN

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1991

    Fizik ve Fizik MühendisliğiEge Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF.DR. KAYHAN KANTARLI

  2. PbTe filmlerin elektriksel özelliklerinin hazırlama koşullarına bağlılığı

    Başlık çevirisi yok

    ALİ RIZA ÇİLOĞLU

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1987

    Fizik ve Fizik MühendisliğiHacettepe Üniversitesi

    Fizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    YRD. DOÇ. DR. NECDET BAŞTÜRK

  3. Altın filmlerin görünür ışık bölgesindeki optik özelliklerinin elipsometrik yöntemle incelenmesi

    Başlık çevirisi yok

    NEŞE ELGÜN

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1988

    Fizik ve Fizik MühendisliğiEge Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. KAYHAN KANTARLI

  4. Conductive polymer nanocomposites of polypropylene and organic field effect transistors with polyethylene gate dielectric

    Polipropilen iletken nanokompozitleri ve polietilen kapı dilektrikli organik alan etkili transistörler

    YASİN KANBUR

    Doktora

    İngilizce

    İngilizce

    2011

    Polimer Bilim ve TeknolojisiOrta Doğu Teknik Üniversitesi

    Polimer Bilim ve Teknolojisi Bölümü

    PROF. DR. ZUHAL KÜÇÜKYAVUZ