Vakumda buharlaştırma yöntemiyle hazırlanan Cu2S ince filmlerin optik özelliklerinin elipsometrik incelenmesi
Ellipsometric study of optical properties of Cu2S thin films prepared by vacuum evaporation technique
- Tez No: 245715
- Danışmanlar: YRD. DOÇ. DR. HÜSEYİN DERİN
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Enerji, Fizik ve Fizik Mühendisliği, Energy, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Ellipsometry, thin films, optical properties
- Yıl: 2009
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Adnan Menderes Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: 75
Özet
Bu çalışmada vakumda buharlaştırma yöntemiyle hazırlanan Cu, Cu2S/Cu ve Cu2S filmlerinin optik özellikleri elipsometrik ve spektrofotometrik yöntemlerle incelenmiştir. Bundan başka Cu2S ince filmlerin yapısal verileri X-ışını difraktometresiyle elde edildi. Cu ve Cu2S/Cu sistemlerinin görünür ışık bölgesindeki optik özelliklerinin foton enerjisi ile değişimi elipsometrik yöntemle belirlenmiştir. Opak Cu filmin ve elipsometrik parametrelerinin gelme açısıyla değişiminden belirlenen asal gelme açısı değerinin 66,8 ? olduğu bulunmuştur. Farklı sıcaklıktaki cam taşıyıcılar üzerinde elde edilen Cu2S ince filmlerinin yasak band aralığı optik absorpsiyon ölçümlerinden belirlenmiştir. Cu2S ince filmlerin belirlenen yasak band aralığı değerlerinin 2,48-2,52 eV enerji aralığında olduğu ve literatürde verilen sonuçlarla uyumlu olduğu görülmüştür (Bagul, Chavhan, Sharma, 2007; Zhuge, Li, Gao, Gan, Zhou, 2009). Büyütülen filmlerin X-ışını kırınım difraktometresi ile belirlenen kırınım desenleri büyüyen fazın Cu2S olduğunu göstermiştir.Anahtar SözcüklerElipsometri, ince filmler, optik özellikler
Özet (Çeviri)
In this study, optical properties of Cu, Cu2S/Cu and Cu2S films prepared by vacuum evaporation have been investigated by ellipsometric and spectrophotometric methods. Moreover, the structural data of Cu2S thin films were obtained by X-ray diffractometer. The photon energy dependence of optical properties of Cu and Cu2S/Cu systems in the visible range has been determined by ellipsometric method. The principle angle of opaque Cu film has been obtained to be in the value of 66.8 ? degrees from the variation of the ellipsometric angles and with the angle of incidence. The forbidden band gaps of Cu2S thin films deposited on the glass substrates for different temperatures have been determined by the optical absorption measurements. It has been stated that the values of the forbidden band gaps determined the Cu2S thin films are in the energy range of 2.48-2.52 eV and convenient with the results reported in the literature (Bagul, Chavhan, Sharma, 2007; Zhuge, Li, Gao, Gan, Zhou, 2009). The diffraction patterns of deposited films determined by X-ray diffractometer have represented to be Cu2S of the phase grown.
Benzer Tezler
- Vakumda buharlaştırma yöntemiyle hazırlanan Cu ve Au yüzeyleri üzerindeki ısısal Cu2O ince filmlerinin optik özellikleri
Başlık çevirisi yok
HÜSEYİN DERİN
Doktora
Türkçe
1997
Fizik ve Fizik MühendisliğiEge ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF.DR. KAYHAN KANTARLI
- Vakumda buharlaştırma yöntemiyle hazırlanan alüminyum ince filmlerin optik özellikleri
Başlık çevirisi yok
HÜSEYİN DERİN
Yüksek Lisans
Türkçe
1991
Fizik ve Fizik MühendisliğiEge ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF.DR. KAYHAN KANTARLI
- PbTe filmlerin elektriksel özelliklerinin hazırlama koşullarına bağlılığı
Başlık çevirisi yok
ALİ RIZA ÇİLOĞLU
Yüksek Lisans
Türkçe
1987
Fizik ve Fizik MühendisliğiHacettepe ÜniversitesiFizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
YRD. DOÇ. DR. NECDET BAŞTÜRK
- Altın filmlerin görünür ışık bölgesindeki optik özelliklerinin elipsometrik yöntemle incelenmesi
Başlık çevirisi yok
NEŞE ELGÜN
Yüksek Lisans
Türkçe
1988
Fizik ve Fizik MühendisliğiEge ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. KAYHAN KANTARLI
- Conductive polymer nanocomposites of polypropylene and organic field effect transistors with polyethylene gate dielectric
Polipropilen iletken nanokompozitleri ve polietilen kapı dilektrikli organik alan etkili transistörler
YASİN KANBUR
Doktora
İngilizce
2011
Polimer Bilim ve TeknolojisiOrta Doğu Teknik ÜniversitesiPolimer Bilim ve Teknolojisi Bölümü
PROF. DR. ZUHAL KÜÇÜKYAVUZ