Investigation of structural and luminescent characterization of wet-etched silicon
Kimyasal aşındırmalı silisyumun yapısal ve ışıldamalı karakteristiğinin incelenmesi
- Tez No: 282906
- Danışmanlar: DOÇ. DR. BAYRAM ÜNAL
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
- Yıl: 2010
- Dil: İngilizce
- Üniversite: Fatih Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: 73
Özet
Bu çalışmada, oda sıcaklığında, homojen lüminesant nanoyapıları karakterizeetmek için, lekeli aşındırma metodu basamaklarında çeşitli surfaktanlar kullanılarakgörünür fotoluminesant silisyum ince film üretilmiştir. Lekeli aşındırma metodu için,aşındırma işlemini durduran, genellikle, aşındırma çözeltisi içerine bir çeşitsurfaktanların eklenmesi ilk defa kullanılmıştır.Lüminesent gözenekli silisumyum tabakalarının aşındırma mekanizmasını veoptiksel özelliklerini anlamak için, ilk defa derinlik profillerinide içeren çeşitlikarakterizasyon teknikleri kullanılmıştır.Bu karakterizasyon teknikleri ile deneyde kullanılan surfaktanın tipi ve içeriğiilişkilendirilmiştir. Gözenekli silisyumun nanoyapıların optiksel ve yapısal etkileriFotolüminesant Spektroskopisi, X-ışını Fotoelektron Spektroskopisi ve Konfokal LazerTaramalı Mikroskop kullanılarak elde edilmiştir.Sonuç olarak, yukarıda bahsedilen karakterizasyon teknikleri; bu çalışmadakullanılan başlıca PF ve RF olarak adlandırılan surfaktanların , görünür fotolüminesantgözenekli silisyumun hem optiksel ve yapısal özellliklerinde, hem de aşındırmaişlemlerinin hızı üzerindeki derin etkilerinin çeşitliğini göstermektedir.
Özet (Çeviri)
In this thesis, visible photoluminecent nanoporous silicon thin film is fabricatedby the method of stain etching processes under various surfactants in order tocharacterize the homogenous luminescent nanostructures at room temperature. For thefist time, a couple of special surfactants has been used for the stain etching techniquewhich prevents to ceasing the etching process, usually addition of some kind ofsurfactans into etching solution ending most of the etching processes.Several characterization techniques have been utilized in order to understand theetching mechanism and optical properties of the luminescent porous silicon layersincluding depth profiles for the first time in the literature. These characterizationtechniques have also been correlated with the type and content of the surfactants usedin this experiment. Optical and structural effects of the surfactants on the nanostructuresof porous silicon have been evaluated using a photoluminescence (PL) spectroscopy,photoluminescence excitation (PLE) spectroscopy, x-ray photoelectron (XPS)spectroscopy and confocal scanning laser optical (CSLM) microscopy.As a conclusion, the characterization techniques mentioned above show thatsurfactants mainly labeled as PF and RF types used in this study have variety of the deep influences on the speed of etching processes, as well as on optical and thestructural properties, of the visible photoluminecent porous silicon.
Benzer Tezler
- Gama ışınlarına maruz kalmış ZrO2 ince filmlerin karakterizasyonu
The characterization of ZrO2 thin films irradiated with gamma radiation
DEFNE ABAYLI
Yüksek Lisans
Türkçe
2015
Nükleer Mühendislikİstanbul Teknik ÜniversitesiNükleer Araştırmalar Ana Bilim Dalı
PROF. DR. NİLGÜN BAYDOĞAN
- ZnO nanopartikül katkılı yeni kalamitik sıvı kristallerin sentezi ve mesomorfik incelemeleri
Synthesis and mesomorphic investigation of new calamitic liquid crystals doped with ZnO nanoparticles
YAĞMUR BİNGÖL
Yüksek Lisans
Türkçe
2021
KimyaYıldız Teknik ÜniversitesiKimya Ana Bilim Dalı
PROF. DR. HALE OCAK
DOÇ. DR. HATİCE HANDE MERT
- Synthesis, characterization and investigation of thermoluminescence properties of strontium pyrophosphate doped with metals
Metal katkılı stronsiyum pirofosfat sentezi, karakterizasyonu ve ısısal ışıma özelliklerinin incelenmesi
LEVENT SAİT İLKAY
Yüksek Lisans
İngilizce
2009
KimyaOrta Doğu Teknik ÜniversitesiMaden Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. AYŞEN YILMAZ
PROF. DR. GÜLHAN ÖZBAYOĞLU
- Capacitance-voltage and current-voltage characteristic properties of ZnO:Al/p-Si heterojunction
ZnO:Al/p-Si heterokavşakların kapasitans-voltaj ve akım-voltaj karakteristik özellikleri
YELİZ KÖSE
Yüksek Lisans
İngilizce
2015
Metalurji Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiMetalurji ve Malzeme Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. MURAT BAYDOĞAN
- Synthesis and characterization of Yb3+-doped Y3Al5O12 nanocrystals to develop an absolute luminescent thermometer
Yb3+:Y3Al5O12 nanokristallerinin mutlak bir lüminesans termometre geliştirmek için sentez ve karakterizasyonu
HOSSEIN EBRAHIM HOSSEINI TAZEH KANDI
Yüksek Lisans
İngilizce
2018
Bilim ve TeknolojiSakarya ÜniversitesiNanobilim ve Nanomühendislik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. HATEM AKBULUT