Geri Dön

Some physical and magnetic properties of dc sputtered Bi(Pb)SrCaCuO thin film

Doğru akım püskürtme yöntemi ile üretilmiş Bi(Pb)SrCaCuO ince filmlerin bazı fiziksel ve manyetik özellikleri

  1. Tez No: 299832
  2. Yazar: SEVGİ BAL
  3. Danışmanlar: PROF. DR. AHMET VARİLCİ
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
  7. Yıl: 2011
  8. Dil: İngilizce
  9. Üniversite: Abant İzzet Baysal Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Bölümü
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: 100

Özet

Bu tezde, tek kristal yapıya sahip olan magnezyum oksit üzerine 100 Watt'da standart doğru akım (DC) reaktif püskürtme yöntemi ile üretilen Bi(Pb)SrCaCuO (Bi-2212) ince filmler için en uygun tavlama koşulları araştırıldı. Ayrıca, 840 C ve 850 C' de değişik tavlama sürelerinde (1sa, 2sa, 4sa, 6sa and 8sa) tavlanan ince filmlerin bazı fiziksel ve manyetik özellikleri incelendi. Deneysel verileri elde etmek için DC püskürtme cihazı, kriyostat sistemi, X-ışınları kırınım (XRD) cihazı, taramalı elektron mikroskopu (SEM) ve enerji dağılımı spektrum analizi (EDS) kullanıldı. İlk olarak bu çalışmada üretilen ince filmlerin hedef malzemesi katıhal tepkime yöntemiyle hazırlandı. Doğru akım püskürtme cihazında on adet Bi(Pb)SrCaCuO (Bi-2212) ince film magnezyum oksit üzerine üretildi. Özdirenç ölçümleri ile değişik tavlama sürelerinin Bi(Pb)SrCaCuO ince filmlerin süperiletken kritik sıcaklığı (Tc) üzerine etkisi incelendi. Bu ölçümler 30 ile 120 K sıcaklığı aralığında 1 mA' lik doğru akım altında helyum gaz bağlantılı kriyostat tarafından yapıldı. Ayrıca film yüzeyine paralel ve dik olarak uygulanan 0, 0.5, 1, 3 and 5 T'lık manyetik alan kuvvetleri altında sadece 8400C'de 2 saat tavlanan film için sıcaklığa bağlı özdirenç ölçümleri yapıldı. X-ışınları kırınım grafikleri elde edildi ve bu grafiklerin üzerindeki zirve noktaları literatür yardımı ile belirlendi. Ayrıca Bi-2212 ve Bi-2223 hacim oranları ve kafes parametreleri hesaplandı. Sonra yüzey morfolojisini incelemek için taramalı elektron mikroskobu görüntüleri alındı. Son olarak da Bi(Pb)SrCaCuO ince filmlerin enerji dağılımı spektrum analizleri alındı ve elementlerin yüzde ağırlığı hesaplandı.

Özet (Çeviri)

In this thesis, the most suitable annealing condition for the Bi(Pb)SrCaCuO (Bi-2212) thin films produced by standard direct current (DC) magnetron reactive sputtering method at 100 watt on the magnesium oxide (MgO) single crystal substrate was investigated. Moreover, some physical and magnetic properties of the thin films annealed at 840 C and 850 C for different annealing times (1h, 2h, 4h, 6h and 8h) were examined. DC sputter device, cryostat system, X-ray diffractometer (XRD), scanning electron microscopy (SEM) and energy dispersive spectrum analysis were used to obtain the experimental results. At first, target of the thin film samples produced in this work was prepared by means of solid state reaction method. Ten Bi(Pb)SrCaCuO (Bi-2212) thin films were produced on the magnesium oxide at DC sputter device. The effect of different annealing times on the superconducting critical temperature (Tc) of Bi(Pb)SrCaCuO thin films was investigated by the resistivity measurements. These measurements were performed by helium gas contact cryostat in the temperature range from 30 to 120 K with DC current of 1 mA. Moreover, resistivity dependence of temperature measurements for only the film annealed at 8400C for 2 hours were carried out under field strengths of 0, 0.5, 1, 3 and 5 T, which were parallel and perpendicular to the film surface. X-ray diffraction graphs were obtained and the peaks on these graphs were determined by the help of the literature. Volume fractions of Bi-2223 and Bi-2212 and lattices parameters of the all films were also calculated. After that, the images of scanning electron microscopy were obtained to analyze the surface morphology. Finally, the results of energy dispersive spectrum analysis of the Bi(Pb)SrCaCuO thin films were also taken and the weight percent of elements of these films were theoretically calculated.

Benzer Tezler

  1. NiMn,NiMnP+ ve CrFe alaşım ince filmlerinde elektron spin rezonans (ESR) ve direnç ölçümleri

    Başlık çevirisi yok

    MUSTAFA ÖZDEMİR

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    1998

    Fizik ve Fizik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Fizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. YILDIRHAN ÖNER

  2. LFZ tekniği ile üretilen krom katkılı Bi2Sr2Ca1Cu2-xCrxOy süperiletkenlerinin fiziksel, elektriksel ve manyetik özellikleri

    Physical, electrical and magnetic properties of crom doped Bi2Sr2Ca1Cu2-xCrxOy superconductors prepared by laser floating zone technique

    ESEN GÜN

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2017

    Bilim ve TeknolojiMersin Üniversitesi

    Nanoteknoloji ve İleri Malzemeler Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. BERDAN ÖZKURT

  3. Hydrothermal growth of ZnO nanowires enhanced characteristic properties

    ZnO nanotellerin karakteristik özellikleri iyileştirilerek hidrotermal olarak büyütülmesi

    ÜMÜŞ HALE TUĞRAL ARSLAN

    Doktora

    İngilizce

    İngilizce

    2020

    Metalurji Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Metalurji ve Malzeme Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. CÜNEYT ARSLAN

    PROF. DR. NİLGÜN BAYDOĞAN

  4. Enerji iletim hatlarında yorulma olayları

    Fatigue phenomenon on electric power transmission lines

    NİHAT İNANÇ

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1992

    Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    PROF. DR. NESRİN TARKAN