The design of a test method to identify reliability problems of consumer electronic product during early phases of development
Tüketici elektroniğinde tasarım erken dönemlerinde güvenilirlik problemlerinin belirlenmesi amacıyla test metotlarının tasarlanması
- Tez No: 328324
- Danışmanlar: PROF. DR. MUSTAFA GÜNDÜZALP
- Tez Türü: Doktora
- Konular: Elektrik ve Elektronik Mühendisliği, Electrical and Electronics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
- Yıl: 2012
- Dil: İngilizce
- Üniversite: Dokuz Eylül Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Elektrik-Elektronik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: 100
Özet
Günümüzde tüketici elektroniği pazarı, hızla gelişen teknoloji, artan üretici sayısı ve yüksek müşteri beklentileri sebebiyle aşırı rekabetçi hale gelmiştir. Bu rekabetçi pazar koşulları altında şirketler ürünlerinin kalitesini ve güvenilirlik seviyesini korumaya ve geliştirmeye çalışmaktadırlar. Ürünlerin tasarımda üretime geçiş zamanları oldukça kısalmıştır. Maliyet düşürme çalışmaları, alternatif malzemeler, yeni ek özellikler gibi hızlı tasarım değişiklikleri sebebiyle güvenilirlik testlerinde kullanılan klasik yaklaşım, ürünler için istenilen güvenilirlik seviyesini sağlayamaz ve ihtiyaçlara yeterli hızda cevap veremez. Müşterinin ihtiyaçlarını uzun süre karşılayabilen hatalarından arındırılmış ve sağlam ürünler geliştirmek ve yeni ürünlerin güvenilirliklerini eski ürünler ile karşılaştırabilmek amacıyla güvenilirlik için yeni bir metot geliştirme ihtiyacı oluşmuştur. Bu faktörleri birleştiren, Olgunluk Seviyesi veya Hata Risk Faktörü isimli, yeni bir parametre geliştirilmiştir ve sonrasında bu parametre klasik güvenilirlik tahmin metotlarıyla birleştirilmiştir. Özellikle yeni yaklaşım AR-GE aşamasında yapılan, donanım ve yazılım testlerinden oluşan, nitel güvenilirlik testlerini ele almaktadır ve basit matematiksel yaklaşımlar ile diğer güvenilirlik tahmin metotları ile birleştirilmişlerdir. Sonuç olarak, yeni yaklaşımın klasik tahmin metotlarına göre daha kesin tahmin sonuçları vermesi beklenmektedir. Bu tahmin modeliyle güvenilirlik analistleri, ürünlerinin güvenilirliklerini ve geri dönüş oranlarını hakkında daha kesin tahminlerde bulunabileceklerdir.
Özet (Çeviri)
The rapid advances in technology, the increase on the number of manufacturers and high consumer expectations make today?s consumer electronics market highly competitive. Under these competitive market conditions, companies try to keep and increase their quality and reliability level of their products. Design to manufacturing time is becoming shorter and shorter. The classical approach for reliability testing cannot maintain desired reliability levels for products due to rapid changes on design such as cost down works, alternative components and additional new features and also such methods cannot respond with enough speed. A new approach for reliability must be developed in order to get trouble-free and robust products, which satisfies customer needs for a long time and this approach must show how reliable the new product is against the old one. A novel parameter, called maturity level (ML) or failure risk factor (FRF), which is given by 1-ML, is demonstrated to incorporate such factors and it is combined with traditional reliability prediction methods. Specifically, the new approach takes into account the qualitative reliability tests, which include hardware and software tests, performed during the research and development (R&D) stage and combines them with the other reliability prediction methods by using basic approaches. As a result, the new approach gives more accurate predictions compared with traditional prediction methods. Therefore, reliability analysts can determine the reliability and return rate of their products more accurately with this prediction model.
Benzer Tezler
- Çamaşır makinesi körüğünün dinamik özelliklerinin belirlenmesi ve makinenin dinamiğine etkisi
Determination of washing machine gasket characteristics and its effect on machine dynamics
MERVE EMEKSİZ
Yüksek Lisans
Türkçe
2017
Makine Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiMakine Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. KENAN YÜCE ŞANLITÜRK
- Hataya bağışıklı mikroişlemci tasarımı
Fault tolerant microprocessor design
BUSE USTAOĞLU
Yüksek Lisans
Türkçe
2015
Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiElektronik ve Haberleşme Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. MÜŞTAK ERHAN YALÇIN
- Fiziksel test sonuçlarının kök sebep çalışması ile ürün iyileştirme süreçlerine etkisi (İTÜ-GTTM'de yapılmış bir uygulama)
The effects of physical test results with root cause study on product improvement processes (An application in ITU-GTTM)
MUSTAFA BABAOĞLU
Yüksek Lisans
Türkçe
2017
Denizcilikİstanbul Teknik ÜniversitesiDeniz Ulaştırma Mühendisliği Ana Bilim Dalı
YRD. DOÇ. İSMAİL ÇİÇEK
- Modeling of dynamic systems and nonlinear system identification
Dinamik sistemlerin modellenmesi ve doğrusal olmayan sistemlerin tanılanması
MASOUD ABEDINIFAR
Doktora
İngilizce
2023
Mekatronik Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiMekatronik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. ŞENİZ ERTUĞRUL
- Dövme ürünlerinin kalitesinin geliştirilmesinde olası hata türü ve etkisi analizi tekniğinin uygulanması
Başlık çevirisi yok
LEVENT KÖSEOĞLU