Geri Dön

Metal/GaN kontakların yapımı ve sıcaklığa bağlı elektriksel ölçümler

Fabrication of Metal/GaN contacts and the temperature-dependent electrical measurements

  1. Tez No: 360624
  2. Yazar: LEYLA ESMER
  3. Danışmanlar: PROF. DR. ENİSE AYYILDIZ
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
  7. Yıl: 2014
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Erciyes Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Bölümü
  12. Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
  13. Sayfa Sayısı: 111

Özet

Bu çalışmada safir üzerine metal organik kimyasal buhar biriktirme yöntemi ile büyütülen 5 µm kalınlıklı n-GaN altlıklar kullanılarak Ni/n-GaN Schottky diyotlar üretildi. Kontak desenleri fotolitografi işlemiyle oluşturuldu. Omik ve Schottky kontak metalizasyonu dc manyetik saçtırma ve termal buharlaştırma yöntemleriyle n-GaN altlıklar üzerine Ti (20nm)/Al (100nm) ve Ni (30nm)/Au (50nm) metalleri biriktirilerek yapıldı. Üretilen Schottky diyotların oda sıcaklığında akım-gerilim ve kapasite-gerilim, 95 K-305 K sıcaklık aralığında akım-gerilim ölçümleri yapıldı. Schottky diyotların engel yüksekliği ve idealite faktörü değerleri termoiyonik emisyon teori kullanılarak doğru beslem akım-gerilim karakteristiklerinden sırasıyla 0.557±0.005 eV, 1.923±0.183 olarak elde edildi. Diyotların 1 MHz frekans değerinde C-V ölçümleri kullanılarak C-2-V grafiklerinden engel yüksekliği 0.612±0.036 eV olarak hesaplandı. Diyotların sıcaklığa bağlı I-V grafiklerinin analizinden, artan sıcaklıkla engel yüksekliğinin arttığı ve idealite faktörünün azaldığı görüldü. Deneysel olarak gözlenen bu davranış engel yüksekliğinin homojensizliğine atfedildi. Schottky engel yüksekliğinin sıcaklığa bağlılığı metal-yarıiletken ara yüzeyinde oluşan engel yüksekliği homojensizliğinin ikili Gaussian dağılımı göz önünde bulundurularak açıklandı. Schottky engel yüksekliğinin ikili Gaussian dağılım parametreleri kullanılarak modifiye edilmiş Richardson grafikleri çizildi. Bu grafiklerden elde edilen Richardson sabitinin değerleri GaN için bilinen teorik 26.8 A/ cm2 K2 değerine yakındır.

Özet (Çeviri)

In this study, Ni/n-GaN Schottky diodes were fabricated by using n-GaN wafer with a thickness of 5 mm grown by metalorganic chemical vapor deposition on the c-plane sapphire. Contact patterns were made with photolithography process. Ohmic and Schottky contact metallization were formed by depositing Ti (20nm) / Al (100nm) and Ni (30nm)/Au (50 nm) metals on n-GaN substrates using dc magnetic sputtering and thermal evaporation methods. The current-voltage and capacitance-voltage measurements of diodes were carried out at room temperature and in dark. The forward bias I-V characteristics were analyzed on the basis of the thermionic emission theory. The values of the ideality factor and the barrier height of the Ni/n-GaN Schottky diodes were determined to be 0.557±0.005 eV, 1.923±0.183, respectively. The current-conduction mechanism was investigated with the help of the temperature-dependent current-voltage characteristics of the diodes. It was found from the analysis of the I-V-T curves that the ideality factor decreases while the barrier height increases with increasing temperatures. This behavior observed experimentally was attributed to the barrier height inhomogeneity. The temperature dependence of SBHs was explained by considering the existence of the double Gaussian distribution of the barrier height inhomogeneity at metal-semiconductor interface. The modified Richardson plots were constructed by using the double Gaussian distribution parameters of the SBD. The obtained Richardson constant values are in close to the theoretical value of 26.8 A/ cm2 K2 known for n-GaN.

Benzer Tezler

  1. Farklı püskürtme güçleri altında üretilen n-ZnO/AlN/p-GaN yakın UV mavi ışık yayan diyotların (LED) elektriksel, optik, yapısal ve morfolojik özelliklerinin incelenmesi

    Investigation of electrical, optical, structural and morphological properties of n-ZnO/AlN/p-GaN near UV-blue light emitting diodes (LED) fabricated under different sputtering

    DERYA ÜNAL

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2021

    Fizik ve Fizik MühendisliğiGazi Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. ZİYA MERDAN

    DOÇ. DR. SONGÜL FİAT VAROL

  2. Comparison of alloyed and non-alloyed ohmic contacts in GaN/algan HEMT for Ka band radar applications

    Ka bant radar uygulamaları için GaN / algan HEMT yapılarında alaşımlı ve alaşımsız ohmik kontakların karşılaştırılması

    HÜSEYİN ÇAKMAK

    Doktora

    İngilizce

    İngilizce

    2020

    Fizik ve Fizik MühendisliğiOrta Doğu Teknik Üniversitesi

    Mikro ve Nanoteknoloji Ana Bilim Dalı

    DR. ÖĞR. ÜYESİ MUHSİNE BİLGE İMER

    DOÇ. DR. ALPAN BEK

  3. GaN schottky güneş gözelerinin iki boyutlu modellenmesi

    Two-dimensional modeling of GaN schottky solar cells

    BENGÜL METİN

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2014

    Fizik ve Fizik MühendisliğiMuğla Sıtkı Koçman Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. NEŞE KAVASOĞLU

  4. III-V nitrür bileşik yarıiletkenlerin: Nanoyapılarının ve aygıt uygulamalarının incelenmesi

    Investigation of III-V nitride compound semiconductors: nanostructures and device applications

    AHMET EMRE KASAPOĞLU

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2023

    Fizik ve Fizik MühendisliğiAtatürk Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. EMRE GÜR

  5. Nikel-63 ve prometyum-147 radyoizotopları ile güçlendirilmiş betavoltaik ve doğrudan şarjlı nükleer pillerin deneysel incelenmesi

    Experimental investigation of Nickel-63 and Promethium-147 radioisotope-powered betavoltaic and direct charge nuclear batteries

    SELİM AYDIN

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2019

    Fizik ve Fizik MühendisliğiYıldız Teknik Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. EROL KAM