Güneş pili uygulamaları için ultrasonik kimyasal püskürtme yöntemiyle CuxS ince filmlerin üretilmesi ve karakterizasyonu
Characterization and fabrication of CuxS thin films by ultrasonic spray pyrolysis method for solar cell applications
- Tez No: 373735
- Danışmanlar: DOÇ. DR. AHMET PEKSÖZ
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
- Yıl: 2014
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Uludağ Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: 73
Özet
Bu çalışmada ultrasonik kimyasal püskürtme yöntemiyle cam alt tabanlar üzerine 240, 280 ve 320 ± 5oC sıcaklıklarında CuxS ince filmleri büyütülmüştür. CuxS ince filmlerin yapısal, optik, yüzeysel ve elektriksel özelliklerine alttaş sıcaklığının etkisi araştırılmıştır. Üretilen ince filmlerin kalınlıklarının, 160 nm – 380 nm arasında olduğu bulundu. X-ışını kırınım desenlerinden filmlerin kübik ve hekzagonal polikristal yapıya sahip oldukları belirlenmiştir. Optik incelemeler, bu materyallerin yasak enerji aralıklarının doğrudan bant geçişli özellik sergildiğini ve enerji aralıklarının yaklaşık 2,07 eV (CuS), 2,5 eV (Cu1,765S) ve 2,28 eV (Cu1,765S – Cu2S) değerlerinde olduğunu göstermiştir. Atomik kuvvet mikroskobu ile filmlerin üç boyutlu yüzey topografileri ve yüzey pürüzlülükleri incelenmiştir. Dört nokta uçlu hall ölçüm sistemi ile filmlerin bazı elektriksel parametreleri belirlenmiştir.
Özet (Çeviri)
In this study, CuxS films were deposited at different substrate temperatures of 240, 280 and 320 ± 5oC on glass substrates by ultrasonic spray pyrolysis tecnique. The effect of substrate temperature on the structural, optical, morphological and electrical properties of CuxS thin films have been investigated. The thicknesses of produced thin films have been found to be in the range of 160 nm and 380 nm. X-ray diffraction spectra of the films showed that all films are polycrytalline with hexagonal and cubic CuxS phases. Optical investigations show that these materials have exhibited direct band gap characteristics with the band gap values of 2,07 eV (CuS), 2,5 eV (Cu1,765S) and 2,28 eV (Cu1,765S – Cu2S). Three dimensional surface topography and surface roughness of the films have been investigated by atomic force microscope. Four-point probe Hall effect measurement system has been used to determine some electrical parameters of the films.
Benzer Tezler
- Ultrasonik kimyasal püskürtme yöntemiyle elde edilen Mn katkılı CdS filmlerinin bazı fiziksel özelliklerinin incelenmesi
The investigation of some physical properties of Mn doped CdS films grown by ultrasonic spray pyrolysis technique
MERYEM POLAT
Doktora
Türkçe
2012
Fizik ve Fizik MühendisliğiEskişehir Osmangazi ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
YRD. DOÇ. DR. SALİH KÖSE
- Preparation of transparent and conductive thin films of single walled carbon nanotubes
Transparan ve iletken tek duvarlı karbon nanotüp ince filmlerin hazırlanması
İPEK ÇAKMAK
Yüksek Lisans
İngilizce
2015
Kimyaİstanbul Teknik ÜniversitesiNanobilim ve Nanomühendislik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. NİLGÜN YAVUZ
- Ultrasonik kimyasal püskürtme tekniği ile büyütülen katkısız ve bor katkılı ZnO filmlerinin optiksel, elektriksel, yapısal ve yüzeysel özelliklerinin ġncelenmesi
Investigation of optical, electrical, structural and surface properties of undoped and boron doped ZnO films deposited by ultrasonic spray pyrolysis technique
SENİYE KARAKAYA
Doktora
Türkçe
2015
Fizik ve Fizik MühendisliğiEskişehir Osmangazi ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
YRD. DOÇ. DR. ÖMER ÖZBAŞ
- Güneş pili uygulamaları için bakır indiyum sülfür absorblayıcı filmlerin ultrasonik sprey ısıl ergime yöntemi ile üretimi ve karakterizasyonu
Characterization of copper indium sulfide absorber films deposited by ultrasonic spray pyrolysis technique for photovoltaic applications
ERKAN AYDIN
Yüksek Lisans
Türkçe
2012
EnerjiTOBB Ekonomi ve Teknoloji ÜniversitesiMikro ve Nanoteknoloji Ana Bilim Dalı
YRD. DOÇ. NURDAN DEMİRCİ SANKIR
- Fotovoltaik uygulamalar için üretilen dörtlü yarıiletken filmlerin optik ve yapısal özellikleri
Optical and structural characteristics of quaternary semiconductor thin films for photovoltaic applications
AHMET TOMBAK
Doktora
Türkçe
2016
Fizik ve Fizik MühendisliğiDicle ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. TAHSİN KILIÇOĞLU