Bulk malzemelerin ve ince filmlerin lazer ablasyon eşik enerji yoğunluklarının d-scan yöntemi ile belirlenmesi
Determining ablation threshold fluences of bulk and thin film materials using d-scan method
- Tez No: 499512
- Danışmanlar: PROF. DR. HAMDİ ŞÜKÜR KILIÇ
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
- Yıl: 2018
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Selçuk Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Nanoteknoloji ve İleri Malzemeler Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: 91
Özet
Lazer-malzeme etkileşimi sonucunda ablasyon gerçekleşmesi için lazer ve işlenen malzemenin özelliklerine bağlı olan bir lazer enerji yoğunluğu değerinin aşılması gerekir. Bu değer lazer ablasyon eşik enerji yoğunluğu (Fth) olarak tanımlanır. Bu değerin bilinmesi, ablasyon işlemi ile elde edilmesi istenen sonuçlara uygun deneysel parametrelerin seçilmesi için önemlidir. Bu çalışmada bulk haldeki metallerin ve ince filmlerin lazer ablasyon eşik enerji yoğunlukları D-scan yöntemi ile hesaplanmıştır. Her bir metal hedeften PLD tekniği ile üç farklı kalınlıkta ince filmler üretilmiştir. D-scan işlemleri femtosaniye (fs) ve nanosaniye (ns) lazer sistemlerinde farklı dalga boyları ile uygulanmıştır. İki lazer sistemi ile çok sayıdaki malzeme yapısı için elde edilen sonuçlar kendi aralarında ve literatür verileri ile karşılaştırılmıştır. Bu karşılaştırma sonucu fs lazer sistemi için elde edilen lazer ablasyon eşik değerlerinin uygun değerler olduğu görülmüştür. Ns lazer sistemi ile elde edilen sayısal verilerin ise gerçek Fth değerleri olmadığı, yine de eşik enerji yoğunluğu değerlerine benzer özellikler gösterdikleri sonucuna ulaşılmıştır.
Özet (Çeviri)
In order to achieve ablation as the result of the laser-material interaction, it is necessary to exceed a certain laser fluence value that depends on the characteristics of the laser and the workpiece. This value is defined as the ablation threshold fluence (Fth). It is important to have Fth value to choose experimental parameters that are suitable for the desired results of the ablation process. In this study, Fth of bulk metals and thin films are calculated using D-scan method. Thin films are produced in three different thicknesses using PLD technique for each metal target. D-scan processes are applied through different wavelengths in femtosecond and nanosecond laser systems. The gathered results obtained for many material structures are compared to each other and the literature data. The results show that the ablation threshold values obtained by the fs laser pulses are appropriate values. It is also seen that numerical data obtained by the ns laser pulses are not exact Fth values though; they show similar characteristics to the threshold values.
Benzer Tezler
- Characterization of zno based diluted magnetic semiconductor thi̇n fi̇lms and nano particles produced by sol-gel method
Sol-gel yöntemiyle üretilen zno tabanlı seyreltik manyetik yarıiletken ince filmlerin ve nano parçacıkların karakterizasyonu
ELİF AŞIKUZUN
Doktora
İngilizce
2016
Fizik ve Fizik MühendisliğiAbant İzzet Baysal ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. CABİR TERZİOĞLU
DOÇ. ÖZGÜR ÖZTÜRK
- CSA'nın P3HT VE MEH-PPV polimerlerinin fiziksel özelliklerine etkisi
Effect of CSA on the physical properties of P3HT and MEH-PPV polymers
CEM ULUDAĞ
Doktora
Türkçe
2023
Fizik ve Fizik Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiFizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. ESRA ALVEROĞLU DURUCU
- Kimyasal yapı ve sıcaklığa bağlı olarak polimerik yüzeylerin ıslanabilme davranışlarının incelenmesi
Investigation of wettability behaviours of polymeric surfaces depending on chemical structure and temperature
ZAFER DEMİR
Yüksek Lisans
Türkçe
2019
Kimya Mühendisliğiİstanbul Üniversitesi-CerrahpaşaKimya Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. HÜSEYİN DELİGÖZ
- Çinko oksit (ZnO) nanoyapıların organik güneş pillerinde uygulaması
Organic solar cells on ZnO nanostructures
FARUK BALLIPINAR
Yüksek Lisans
Türkçe
2012
Enerjiİstanbul Teknik ÜniversitesiEnerji Bilim ve Teknoloji Ana Bilim Dalı
PROF. DR. FİGEN KADIRGAN
- Atomic and island scale diffusion events on Bi2Te3 (0001) surfaces & ultra-thin Bi2Te3 films on SiO2 substrates
Bi2Te3 (0001) yüzeyinde atomik ve ada ölçeklerinde difüzyon & SiO2 alttaşı üzerinde aşırı-ince Bi2Te3 filmleri
MERT TAŞKIN
Yüksek Lisans
İngilizce
2017
Fizik ve Fizik Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiFizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. OĞUZHAN GÜRLÜ