Geri Dön

Extraction and scling of TOM model parameters of GaAs MESFETS

GaAs MESFET'lerin TOM model parametrelerinin bulunması ve ölçeklendirilmesi

  1. Tez No: 93241
  2. Yazar: ABDULLAH ÇELEBİ
  3. Danışmanlar: PROF. DR. CANAN TOKER
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Elektrik ve Elektronik Mühendisliği, Electrical and Electronics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: TOM, MESFET, küçük-işaret parametreleri, büyük-işaret parametreleri, dış devre elemanları, iç devre elemanları, ölçeklendirme iv HC YÜKSEKÖĞRETİM KURULü DOKÜMANTASYON MERKEZİ, TOM, MESFET, small-signal parameters, large-signal parameters, extrinsic circuit elements, intrinsic circuit elements, scaling in
  7. Yıl: 2000
  8. Dil: İngilizce
  9. Üniversite: Orta Doğu Teknik Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Elektrik-Elektronik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: 125

Özet

öz GaAs MESFET'LERIN TOM MODEL PARAMETRELERİNİN BULUNMASI VE ÖLÇEKLENDİRİLMESİ ÇELEBİ, Abdullah Yüksek Lisans, Elektrik ve Elektronik Mühendisliği Bölümü Tez Yöneticisi: Prof. Dr. Canan Toker Ağustos 2000, 107 sayfa Bu tezde, GaAs Metal Yarıiletken Alan Etkili Transistörlerin (MESFETs) Triquint's Own Model' inde (TOM) yer alan DC, küçük- işaret, ve büyük-işaret parametrelerinin bulunması amaçlanmıştır. Bu 27 parametrenin elde edilmesi amacıyla, değişik kapı genişliği ve kapı parmak sayısına sahip 10 transistor üzerinde, bozulma gerilimi ölçümü, eşik gerilimi ölçümleri, ileri kapı gerilimi ölçümleri, ve DC akım-gerilim ölçümlerinden oluşan DC ölçümleri ile iç ve dış devre elemenlan için S-parametreleri ölçümleri yapılmıştır. Parametreleri elde etmek için bir yöntem belirlenmiş ve bu yöntem kullanılarak DC, küçük-işaret, ve büyük işaret parametreleri bulunmuştur. Parametrelerin elde edilmesinden sonra, ölçeklendirilebilir parametreler için ölçeklendirme ifadeleri tanımlanmış ve bu ifadelerdeki katsayılar belirlenmiştir, ölçeklendirme ifadeleri kullanılarak bulunan parametreler ile ölçüm sonucunda elde edilen parametreler karşılaştırılmış ve parametreleri elde etme yönteminin doğruluğunu gösteren tatmin edici uyumlar elde edilmiştir.

Özet (Çeviri)

ABSTRACT EXTRACTION AND SCALING OF TOM MODEL PARAMETERS OF GaAs MESFETS ÇELEBİ, Abdullah M.Sc, Department of Electrical and Electronics Engineering Supervisor: Prof. Dr. Canan Toker August 2000, 1 14 pages In this thesis, the extraction and scaling of DC, small-signal, and large- signal parameters of Triquint's Own Model (TOM) for GaAs Metal Semiconductor Field Effect Transistors (MESFETs) is aimed. For the extraction of these 27 parameters, DC measurements, consisting of the breakdown voltage measurement, pinch-off voltage measurements, forward-bias gate measurements, and DC i-v measurements, and S-parameters measurements for extrinsic and intrinsic circuit elements are performed for 10 transistors with various gate widths and finger numbers. A procedure to extract the parameters is defined and using this procedure the DC parameters, small-signal parameters and large-signal parameters are extracted. After extraction of the parameters, expressions for the scaling factors for the scalable parameters are defined and the coefficients within the expressions are determined. Parameters scaled from the stated scaling factor expressions using a reference transistor are compared with the extracted parameters and it is observed that satisfactory fits between the scaled and extracted parameters are obtained, which is a sign of accurate parameter extraction.

Benzer Tezler

  1. Tez No

    29697

    Feature extraction and selection for classification of air planes

    Başlık çevirisi yok

    SADIK NEJAT EZER

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    1993

    Elektrik ve Elektronik MühendisliğiBoğaziçi Üniversitesi

    Elektrik Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. EMİN ANARIM

    DOÇ. DR. ÖMER CERİD

  2. Tez No

    904565

    Comperative evaluation of unsupervised fraud detection algorithms with feature extraction and scaling in purchasing domain

    Satın alma alanında özellik çıkarma ve ölçekleme ile denetimsiz sahtekarlık tespit algoritmalarının karşılaştırmalı değerlendirmesi

    YİĞİT CAN TAŞOĞLU

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2024

    Bilgisayar Mühendisliği Bilimleri-Bilgisayar ve Kontrolİstanbul Teknik Üniversitesi

    Veri Analitiği Ana Bilim Dalı

    DR. ÖĞR. ÜYESİ MEHMET ALİ ERGÜN

  3. Tez No

    887454

    Web kazıma için mikroservis tabanlı bir sistem

    Microservice-based system for web scraping

    BURAK SEVİNÇ

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2024

    Bilgisayar Mühendisliği Bilimleri-Bilgisayar ve KontrolTekirdağ Namık Kemal Üniversitesi

    Bilgisayar Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. ERDİNÇ UZUN

  4. Tez No

    270018

    Kümeleme algoritmaları kullanılarak tıbbi imgelerin sınıflandırılması

    The classification of medicine image by using clustering algorithm

    ÖZNUR ERKUŞ

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2010

    Bilgisayar Mühendisliği Bilimleri-Bilgisayar ve KontrolFırat Üniversitesi

    Elektronik-Bilgisayar Eğitimi Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. ENGİN AVCI

  5. Tez No

    181964

    Astrofizik ve teknolojik fotometrik görüntü işleme sistemi

    Astrophysic and technological photometric image processing system

    NURETTİN ŞENYER

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2006

    Elektrik ve Elektronik MühendisliğiOndokuz Mayıs Üniversitesi

    Elektrik-Elektronik Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. ÇİNGİZ EFENDİYEV

Geri Dön