Geri Dön

Atomic resolution imaging and force spectroscopy of silicon surfaces with atomic force microscopy

Silikon yüzeyinin atomik kuvvet mikroskopisi ile atomik çözünürlükte görüntülenmesi ve kuvvet spektroskopisi

  1. Tez No: 112575
  2. Yazar: HAKAN ÖZGÜR ÖZEN
  3. Danışmanlar: DOÇ. DR. RECAİ ELLİALTIOĞLU, YRD. DOÇ. DR. AHMET ORAL
  4. Tez Türü: Doktora
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Taramalı Tünelleme Mikroskobu, Atomik Kuvvet Mikroskobu, Fiber İnterferometresi, Yay, Kuvvet-uzaklık Spektroskopisi, Küçük Salınım Genlikleri, Si(100) 2x1, Si(lll) 7x7, Cu(100), Atomik Çözünürlük, Kısa-menzilli Kuvvetler, Uzun-menzilli Kuvvetler, Etkileşim Menzili, Bağlanma Enerjisi, Scanning Tunnneling Microscope, Atomic Force Microscope, Fiber Interferometer, Cantilever, Force-distance Spectroscopy, Small Oscillation Amplitudes, Si(100) 2x1, Si(lll) 7x7, Cu(100), Atomic Resolution, Short-range Forces, Long-range Forces, Interaction Length Scale, Binding Energy
  7. Yıl: 2001
  8. Dil: İngilizce
  9. Üniversite: İhsan Doğramacı Bilkent Üniversitesi
  10. Enstitü: Mühendislik ve Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: 163

Özet

ÖZET SİLİKON YÜZEYİNİN ATOMİK KUVVET MİKROSKOPİSİ İLE ATOMİK ÇÖZÜNÜRLÜKTE GÖRÜNTÜLENMESİ VE KUVVET SPEKTROSKOPİSİ Hakan Özgür Özer Fizik Doktora Tez Yöneticisi: Doç. Dr. Recai Ellialtıoğlu Yd. Tez Yöneticisi: Yd. Doç. Dr. Ahmet Oral Temmuz 2001 Çok küçük salınım genlikleriyle (0.5 Âpp) çalışmak üzere, fiber interferometri temeline dayalı yeni bir Atomik Kuvvet Mikroskobu/Taramalı Tünelleme Mikroskobu (AKM/TTM) yaptık. İnterferometre 5 x 10~4 Â/-\/Hz ölçülmüş hassasiyete sahiptir. Küçük salınım genlikleri kullanılması bize atomlararası kuvvet gradyanlarmı doğrudan ve nicel olarak ölçme olanağı sağladı. Mikroskop Si(100) 2x1, Si(lll) 7x7 ve Cu(100) yüzeylerinin incelenmesinde kullanıldı. Tipik yay sabitleri yaklaşık 150 N/m olan, kendi yaptığımız W yaylar kullandık. Adı geçen yüzeylerin eş-zamanlı TTM, kuvvet ve kuvvet gradyanı görüntüleri elde edildi. Yüksek çözünürlükteki Si(100) yüzeyi görüntüleri çiftil dizilerini, kusurları, yüzeye tutunan atomları, hatta tek çiftlileri gösterdi. Kuvvet gradyanı görüntülerindeki çiftil yüksekliklerinin, tarama sırasındaki uç-yüzey aralığına bağlı olarak 2 ile 4 N/m arasında değiştiği gözlendi. Si (111) yüzeyi üzerindeki deneyler, yüzey atomları ve köşe deliklerinin yanısıra atomik boyutta kusurları sergileyen atomik çözünürlüklü görüntüler verdi. Her iki yüzeyin bazı taramalarında, kuvvet görüntülerinde bile atomik çözünürlük elde edildi. Kuvvet gradyanı görüntülerindeki kontrast genelde TTM görüntüsü kontrastını takip etmesine rağmen, iki görüntüde birbirine göre ters kontrastlı olarak boy gösteren bazı yapılar gözledik. Ayrıca, ilkdefa Angstrom altı salınım genlikleri kullanarak, Si(100) ve Si(lll) yüzeyleri üzerinde Kuvvet-uzaklık (F - d) spektrokopisi deneyleri yaptık. F - d ölçümlerinde, örnek uca doğru yaklaştırılırken ve geri çekilirken kuvvet, kuvvet gradyanı ve tünel akımı kaydedildi. Temelde iki çeşit F - d eğrisi gözlendi. Uçların bazıları, uzun etkileşim mesafeleri sergileyen kuvvet gradyanı eğrileri verdiler ki, bu da kısa menzilli kuvvetlere göre baskın olan van der Waals ve elektrostatik kuvvetlerin belirtisidir. Bazı uçlar da uç ile yüzey arasındaki kovalent bağlanma etkileşimini ölçmemize olanak sağladı. F - d verilerinin detaylı analizi, iki grup uç için eğilme yarıçapını sırasıyla ~65 nm ve ~18 nm olarak verdi. Uç ve örnek arasındaki kısa menzilli etkileşimleri tanımlayan önemli parametreler Si yüzeyleri üzerindeki F - d verileri kullanılarak hesaplandı. Bağlanma enerjisi ve etkileşim menzili W uç-Si(lOO) örnek sistemi için sırasıyla 3.25 eV ve 1 Â, W uç-Si(lll) örnek sistemi için ise sırasıyla 3.42 eV ve 0.54 Â olarak bulundu. Si(100) 2x1 yüzeyindeki F - d spektroskopisi sırasında alman faz ölçümleri, yayın bir salmımı sırasında kaybedilen enerjiyi hesaplamamızı sağladı. Uç-yüzey etkileşimine bağlı sönmeden kaynaklanan enerji kaybı yaklaşık olarak sisteme verilen enerjiye eşittir ve ~80 meV olarak bulunmuştur. Cu(100) yüzeyinin TTM ile görüntülenmesi sırasındaki kuvvet etkilerini ortaya çıkarmak amacıyla görüntüleme deneyleri yapıldı. Atomik çözünürlükte kuvvet gradyanı görüntüleri elde edilirken eş-zamanlı TTM görüntülerinde belirgin bir kontrast olmaması teorik beklentilerle de uyumludur.

Özet (Çeviri)

ABSTRACT ATOMIC RESOLUTION IMAGING AND FORCE SPECTROSCOPY OF SILICON SURFACES WITH ATOMIC FORCE MICROSCOPY Hakan Özgür Özer Ph. D. in Physics Supervisor: Assoc. Prof. Recai Ellialtıoğlu Co-supervisor: Asst. Prof. Ahmet Oral July 2001 We constructed a new, fiber-interferometer based, non-contact Atomic Force Microscope/Scanning Tunneling Microscope (nc-AFM/STM) to work with ultra-low oscillation amplitudes, down to 0.5 Âpp. The interferometer has a measured sensitivity of 5 x 10-4 Â/yTÎz- The use of very small oscillation amplitudes allowed us to measure interatomic force gradients directly and quantitatively. The microscope is used to investigate Si(100) 2x1, Si(lll) 7x7 and Cu(100) surfaces. We used home-made W levers with a typical stiffness of about 150 N/m. Simultaneous STM, force and force gradient images of the mentioned surfaces were obtained. The high resolution images of Si(100) surface showed dimer rows, defects, adsorbates, and even individual dimers. The dimer corrugations in the force gradient images were found to change between 2 to 4 N/m depending on the tip-sample separation during the scan. The experiments on Si(lll) surface revealed atomic resolution images exhibiting atomic size defects as well as adatoms and corner holes. In some scans of both surfaces of Si, atomic resolution is achieved even in the force images. Although the force gradient image contrast follows STM image contrast in general, we observed some features which show up with aninverted contrast between STM and force gradient images. We also carried out Force- distance (F - d) spectroscopy experiments on Si(100) and Si(lll) surfaces using sub- Ângstrom oscillation amplitudes for the first time. In F - d measurements, force, force gradient and tunnel current are recorded as the sample is approached towards the tip and retracted back. There were basically two kinds oîF-d curves. Some of the tips revealed force gradient curves exhibiting a long interaction range, which is an indication of long range van der Waals and electrostatic forces which are dominant over the short-range forces. Some other tips allowed us to resolve short-range covalent bonding interactions between the tip and the sample. The detailed analysis of the F - d data gave us approximate radius of curvature for the two groups of tips to be ~65 nm and ~18 nm, respectively. The relevant parameters describing the short-range interaction between the tip and the sample were calculated from the F - d data on Si surfaces. Binding energy and interaction length scale for W tip-Si(lOO) sample system is 3.25 eV, and 1 Â, respectively, whereas they are 3.42 eV and 0.54 Â for W tip-Si(lll) sample system. The phase measurements during F - d spectroscopy on Si(100) 2x1 surface allowed us to calculate the energy dissipation per cycle of oscillation of the cantilever. The energy loss due to tip-sample interaction damping is approximately equal to the energy input to the system, and is found to be ~80 meV. We carried out preliminary imaging experiments on Cu(100) in order to figure out the effect of forces in STM imaging of this surface. We obtained atomic resolution force gradient images, whereas there were no remarkable contrast in the simultaneous STM image, which is compatible with the theoretical predictions.

Benzer Tezler

  1. Investigation of two dimensional materials with simultaneous atomic force/scanning tunneling microscopy

    İki boyutlu malzemelerin eşzamanlı atomik kuvvet / taramalı tünelleme mikroskobu ile incelenmesi

    MAJID FAZELI JADIDI

    Doktora

    İngilizce

    İngilizce

    2019

    Fizik ve Fizik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Fizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. HAKAN ÖZGÜR ÖZER

  2. Atomik kuvvet mikroskobu ile biyomoleküllerin doğal ortamlarında tayini ve karakterizasyonu

    Detection and characterization of biomolecules with atomic force microscope in their native environments

    DEMET ÇATÇAT KAYIM

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2014

    BiyofizikHacettepe Üniversitesi

    Nanoteknoloji ve Nanotıp Ana Bilim Dalı

    YRD. DOÇ. DR. MEMED DUMAN

    PROF. DR. EMİR BAKİ DENKBAŞ

  3. Sezyum atomik gaz hücresinin yüksek çözünürlüklü spektroskopisi

    High resolution spectroscopy of resonance cesium atomic gas cell

    BERFİN MUHLİSE CAKLI

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2024

    Fizik ve Fizik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Fizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. DEMET AKTAŞ

    DOÇ. DR. RAMİZ HAMİD

  4. Farklı yoğunlukta ve özellikte bulunan polimerlerin topografi, sürtünme, adhezyon ve nanomekanik özelliklerinin atomik kuvvet mikroskobisi kullanılarak belirlenmesi.

    Determination of topographic, tribologic and nanomechanical properties of various bulk polymers by atomic force microscopy

    MERT MUHAMMED KOÇ

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2017

    Kimya MühendisliğiCumhuriyet Üniversitesi

    Nanobilim ve Nanoteknoloji Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. MUSTAFA OĞUZHAN ÇAĞLAYAN

  5. Caharacterization of cadmiun zinc telluride thin films prepared by magnetron sputtering from asingle target

    Püskürtme yöntemiyle tek targettan büyütülen kadminyum çinko teleryum ince filminin karakterizasyonu

    ALİ AKGÖL

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2012

    Fizik ve Fizik MühendisliğiAbant İzzet Baysal Üniversitesi

    Atom ve Molekül Fiziği Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. ERCAN YILMAZ