Geri Dön

Saçtırma tekniğiyle hazırlanan kobalt ince filmlerinin manyetik karakterizasyonu

Magnetic characterization of cobalt thin films which prepared with sputtering technique

  1. Tez No: 179139
  2. Yazar: TARIK YILMAZ
  3. Danışmanlar: PROF. DR. BEKİR AKTAŞ
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
  7. Yıl: 2008
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Gebze Yüksek Teknoloji Enstitüsü
  10. Enstitü: Mühendislik ve Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: 68

Özet

Bu tezde bir ferromanyetik malzeme olan Kobalt' ın değişik kalınlıklardaki filmleri büyütülerek manyetik özellikleri incelenmiştir.İnce filmler Ultra High Vacuum (UHV) ortamında sputtering tekniğiyle hazırlanmış ve X ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) kullanılarak, hazırlanan numunelerin elemental analizleri yapılarak, hazırlanan numunelerin içersinde olabilecek ve hazırlanan filmlerin manyetik özelliklerini istenemeyen şekilde etkileyecek yabancı malzemelerin olup olmadığı kontrol edilmiştir. Film hazırlama sistemiyle, yüzey karakterizasyon sisteminin aynı sistem içersinde olmasının getirdiği bu avantaj ince filmlerin hazırlanmasında etkili olarak kullanılmıştır. Hazırlanan ince filmlerin kalınlıkları QCM (Quartz Crystal Monitoring ) ve XPS tekniği kullanılarak tespit edilmiştir.Hazırlanan ince filmlerin manyetik özelliklerinin araştırılmasında Manyetik Rezonans tekniği kullanılmıştır. Özellikle ince filmlerin manyetik özelliklerinin ortaya çıkarılması için ESR (Elektron Spin Rezonans) tekniği kullanıldı. Dış alan film normaline göre yeterince küçük açılarda uygulandığında elde edilen spektrumların, bazı kalınlıklarda manyetik alan ekseninde belli bir kurala göre dizilmiş çoklu piklerden oluştuğu gözlendi. Açısal incelemeler bu piklerin Spin Dalga Rezonansının (SDR) yüzey ve hacim modlarına ait olduğunu gösterdi.Mıknatıslanma, yüzey anizotropi parametreleri, yarı eğri genişliği ve durulma zamanı gibi parametrelerin kalınlığın fonksiyonu olarak değiştiği sonucuna varıldı.

Özet (Çeviri)

In this thesis, Cobalt thin films, Cobalt is a ferromagnetic material, are prepared different thickness by sputtering techniques in Ultra High Vacuum (UHV) conditions and investigated magnetic properties.Our chamber contains sputtering system and surface analysis system, so X ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) used very effective to determination the thin films quality. The thin films thickness determinated by XPS and Quartz Crystal Monitoring (QCM).Magnetic properties of the thin films investigated with Magnetic Resonance technique. A series of Spin Wave Resonance (SWR) peaks were observed when the external DC magnetic field was applied along the directions lying in a small angular interval with respect to the film normal. The angular studies revealed that these peaks belong to the various surface and bulk models of usual SWR spectra. Both surface and bulk anisotropy energies were found to be axial in character from the classical SWR analysis. The easy direction for bulk spins is the film normal while it corresponds to the hard axis for the surface spins.The magnetic energy parameters such magnetization, the bulk and the surface anisotropies, line width and relaxation time were deduced from the analysis of SWR spectra. All these parameters were found to vary by the thin film thickness.

Benzer Tezler

  1. Aynı şartlarda hazırlanan Cr/n-GaAs Schottky kontaklarında numune sıcaklığına bağlı T0 anormalliğinin ısıl tavlamayla iyileştirilmesi

    Improvement of T0 anomaly depending on sample temperature in similarly fabricated Cr/n-GaAs schottky diodes by means of thermal annealing

    HATUN KORKUT

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2009

    Fizik ve Fizik MühendisliğiAtatürk Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. ABDÜLMECİT TÜRÜT

  2. Development of conductive oxide based thin film modified electrodes and biosensors applications

    İletken oksit tabanlı ince film modifiye elektrodların geliştirilmesi ve biyosensör uygulamaları

    BETÜL YURTTAŞ

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2021

    Biyoteknolojiİzmir Yüksek Teknoloji Enstitüsü

    Biyoteknoloji ve Biyomühendislik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. LÜTFİ ÖZYÜZER

    PROF. DR. KADRİYE ARZUM ERDEM GÜRSAN

  3. TaN ince filmlerde kalıntı gerilme ve tercihli yönelim analizi

    Residual stress and texture analysis on TaN thin films

    FIRAT ANĞAY

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2018

    Fizik ve Fizik MühendisliğiDicle Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. ÖMER ÇELİK

  4. Magnetron sputter deposition of metal-oxide thin film layers for electrochromic device applications

    Elektrokromik cihaz uygulamaları için metal oksit ince film katmanlarının mıknatıssal saçtırma tekniğiyle kaplanması

    JOSE ENRIQUE MARTINEZ MEDINA

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2020

    Fizik ve Fizik MühendisliğiDokuz Eylül Üniversitesi

    Nanobilim ve Nanomühendislik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. ELİF ŞAHİN IŞGIN

    PROF. DR. GÜLNUR AYGÜN ÖZYÜZER

  5. RF saçtırma yöntemi ile InXGa1-XN üçlü bileşiğinin ince film olarak büyütülmesi ve karakterisitik özelliklerinin deneysel olarak incelenmesi

    Growth of InXGa1-XN ternary compound as thin film by RF magnetron sputtering technique and investigation of characteristic properties with experimental analysis

    ERMAN ERDOĞAN

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2017

    Fizik ve Fizik MühendisliğiAtatürk Üniversitesi

    Nanobilim ve Nanomühendislik Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. MUTLU KUNDAKÇİ