Amorf ınte yarıiletken malzemesinin fiziksel özelliklerinin araştırılması
Investigating of physcial properties of amorphous inte semiconductor material
- Tez No: 185314
- Danışmanlar: DOÇ.DR. FAHRETTİN YAKUPHANOĞLU
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: InTe, Elektriksel İletkenlik, Amorf Yarıiletken, Dielektrik Sabiti, InTe, Electrical Conductivity, Amorphous Semiconductour, Dielectric constantI
- Yıl: 2006
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Fırat Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: 80
Özet
ÖZETYÜKSEK LİSANS TEZİAMORF InTe YARIİLETKEN MALZEMESİNİN FİZİKSEL ÖZELLİKLERİNİNARAŞTIRILMASIHandan BOSTANCIFırat ÜniversitesiFen Bilimleri EnstitüsüFizik Anabilim Dalı2006, Sayfa : 80Bu çalışmada, InTe amorf yarıiletken malzemenin, X ışını difraksiyonu, elektrikseliletkenliği, optik ve dielektrik özellikleri araştırıldı. X-ışını difraksiyon sonuçları InTenumunesinin amorf yapıya sahip olduğunu gösterir. Numunenin elektriksel iletkenliğininsıcaklığa bağlılığı araştırıldı ve bulunan sonuçlar numunenin bir amorf yarıiletken olduğunudoğrular. InTe numunesi fotoiletkenlik özellik gösterir. Numunenin optik band aralığı ve optiksabitleri geçirgenlik ve yansıma spektrumları kullanılarak hesaplandı. Numunede doğrudanoptik geçişler meydana geldi. Numunenin kırılma indisi dispersiyon eğrisi tek osilatör modelineuydu. Numunenin dielektrik özellikleri frekansın ve sıcaklığın bir fonsiyonu olarak araştırıldı.Dielektrik parametrelerin sıcaklık ve frekansla değiştiği bulundu. Elektrik modulus eğrileridielektrik relaksasyon olayını analiz etmek için kullanıldı.
Özet (Çeviri)
ABSTRACTMASTER THESISINVESTIGATING OF PHYSICAL PROPERTIES OF AMORPHOUS InTeSEMICONDUCTOR MATERIALHandan BOSTANCIFırat UniversityGraduate School of Natural and Applied SciencesDepartment of Physics2006, Page: 80In this study, X-ray diffraction, electrical conductivity, optical and dielectrical propertiesof the InTe amorphous semiconductor material have been investigated. X-ray diffraction resultsshow that InTe sample has an amorphous structure. Temperature dependence of electricalconductivity of the sample has been investigated and the obtained results confirm that InTe is anamorphous semiconductor. The InTe sample shows photoconductivity behavior. The opticalband gap and optical constants of the sample were calculated using transmittance andreflectance spectra. In the sample, the direct optical transitions take place. The refractive indexdispersion curve of the sample obeys the single oscillator model. The dielectrical properties ofthe sample have been investigated as a function of frequency and temperature. It was found thatthe dielectrical parameters were changed with temperature and frequency. The electricalmodulus curves were used to analyze the dielectrical relaxation processes.
Benzer Tezler
- InSe, InTe ve InTe: Er yarıiletken ince filmlerin doğrusal olmayan optik özelliklerinin incelenmesi
Investigation of nonlinear optical properties of InSe, InTe ve InTe: Er semiconductors
ECRİN AVCI
Yüksek Lisans
Türkçe
2022
Fizik ve Fizik MühendisliğiAnkara ÜniversitesiFizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. AHMET KARATAY
- Amorf ve nanokristal yapıda üretilen Cu50Zr40Ni5M5 (M= Al, Y, Ti, Mg, Si) alaşımlarının yapısal, ısısal ve mekaniksel özelliklerinin incelenmesi
Investigation of structural, thermal and mechanical properties of amorphous and nanocrystalline Cu50Zr40Ni5M5 (M= Al, Y, Ti, Mg, Si) alloys
CELAL KURŞUN
Doktora
İngilizce
2015
Fizik ve Fizik MühendisliğiKahramanmaraş Sütçü İmam ÜniversitesiMalzeme Bilimi ve Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. MUSA GÖGEBAKAN
- Characterization of fly ashes from thermal power plants in Turkey
Türkiye termik santrallerinden elde edilen uçucu küllerin karakterizasyonu
MELTEM TANGÜLER BAYRAMTAN
Yüksek Lisans
İngilizce
2015
İnşaat MühendisliğiOrta Doğu Teknik Üniversitesiİnşaat Mühendisliği Ana Bilim Dalı
YRD. DOÇ. ÇAĞLA MERAL
- Amorf nanokristal şeritlerin EMI kalkanlama ve mikroşerit yama anten olarak kullanımının araştırılması
Investigation of the use of amorphous nanocrystalline ribbons as EMI shielding and microstrip patch antenna
MUHAMMED SENCER PALA
Yüksek Lisans
Türkçe
2023
Elektrik ve Elektronik MühendisliğiSivas Bilim ve Teknoloji ÜniversitesiSavunma Teknolojileri Ana Bilim Dalı
PROF. DR. MUHAMMED FATİH KILIÇASLAN
- Bor katkılı demir fosfat camlarının sentezi ve özellikleri
Synthesis and properties of boron doped iron phosphate glasses
BURCU YÜCE
Yüksek Lisans
Türkçe
2009
Fizik ve Fizik MühendisliğiKafkas ÜniversitesiFizik Bölümü
PROF. DR. MEVLÜT KARABULUT