Geri Dön

Bakır ince filmlerinin X-ışınları soğurma spektroskopisi ile incelenmesi

A study of copper thin films by X-ray absorption spectroscopy

  1. Tez No: 198081
  2. Yazar: ELA TAZE
  3. Danışmanlar: PROF.DR. YÜKSEL UFUKTEPE
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: X-ışınları soğurma spektroskopisi (XAS), EXAFS, Bakır L2, 3 kenarı, ince filim, geçiş metalleri, X-rays absorption spektroscopy (XAS), EXAFS, Copper L2, 3 edges, thin film, transition metals
  7. Yıl: 2006
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Çukurova Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: 65

Özet

ÖZYÜKSEK LİSANS TEZİEla TAZEÇUKUROVA ÜNİVERSİTESİFEN BİLİMLERİ ENSTİTÜSÜFİZİK ANABİLİM DALIDanışman: Prof.Dr. Yüksel UFUKTEPEYıl: 2005, Sayfa: 65Jüri: Prof.Dr. Yüksel UFUKTEPEDoç.Dr. Metin ÖZDEMİRYrd.Doç.Dr. Zerrin ESMERLİGİLYumuşak X-ışınları soğurma spektroskopisi (X-ray absorption spectroscopy), yüzey fiziğinde ve katı hal fiziğindestandart bir yöntem olarak gelişmektedir. EXAFS (Extended X-ray Absorption Fine Structure Spektroscopy) yerel atomikdüzenleme ve yönelimleri araştırmak için mükemmel bir yöntemdir. Soğurma katsayısı genellikle kalınlığı bilinen bir örnekkullanılarak geçirme (transmission) deneyi ile belirlenir. Geçiş metallerindeki L kenarı X-ışını soğurma ince yapısı (XAFS)çalışmaları p-d dipol geçişleri arasındaki önemli d valans (değerlik) elektronlarıyla bağlantıya izin vermesi nedeniyle büyük ilgigörmektedir.Bu çalışmada Cu (Bakır) ince filimleri 900 eV ile 1100 eV foton enerji değerleri arasında EXAFS ile incelenmiştir. Cumetali L2,3 kenarında x-ışınları soğurma spektroskopisinde iki keskin maksimum gösterir. Maksimumlar iki spin-yörüngebileşenlerinden, 2p 3/2 ve 2p 1/2 geçişlerinden kaynaklanır. L2 ve L3 maksimumlarının benzer yapıda olup genlik büyüklükleri 1:2oranına çok yakındır.

Özet (Çeviri)

ABSTRACTMSc THESISEla TAZEDEPARTMENT OF PHYSICSINSTITUTE OF NATURAL AND APPLIED SCIENCESUNIVERSITY OF CUKUROVASupervisor: Prof.Dr. Yüksel UFUKTEPEYear: 2005, Pages: 65Jurry: Prof.Dr. Yüksel UFUKTEPEAssoc.Prof.Dr. Metin ÖZDEMİRAsist.Prof.Dr. Zerrin ESMERLİGİLAbsorption spectroscopy with soft X-rays (XAS) has been developed into a standart tool in surface science and solidstate physics. Extended x-ray absorption fine structure spectroscopy (EXAFS) is a powerful tool for investigating localatomic order and orientation. Usually the absorption coefficient is determined by a transmission experiment using a sampleof known thickness. L-edge absorption fine structure (XAFS) studies of transition metals have become of great interest,since they allow acces to the important d valence electrons through p-d dipole transitions.In this study results are presented for EXAFS of copper for the photon energy range between 900 eV and 1100 eV.In the x-ray absorption spectra of Cu metal at L2,3 edge shows two sharp peaks. The peaks are attributed to the twospin-orbit compenents from the 2p 3/2 and 2p 1/2 transitions. The L2 and L3 spectra are very similar in shape with their relativemagnitude close to 1:2.

Benzer Tezler

  1. Tenorit ince filmlerinin büyütülmesi ve fiziksel özelliklerine ısıl işlem etkisinin incelenmesi

    Growth of tenorite thin films and investigation of effects of thermal treatment on their physical properties

    ÜNAL AKGÜL

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2015

    Fizik ve Fizik MühendisliğiFırat Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. YUSUF ATICI

  2. CuIn0.7Ga0.3(Se(1-x)Tex)2 ince filmlerin üretimi, yapısal, morfolojik ve optik özelliklerinin incelenmesi

    The production of CuIn0.7Ga0.3(Se(1-x)Tex)2 thin films, analyzing of the structural, morphological and optical properties

    SONGÜL FİAT

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2012

    Fizik ve Fizik MühendisliğiGaziosmanpaşa Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. GÜVEN ÇANKAYA

  3. Kimyasal depolama yöntemiyle üretilen CU2O ince filmlerin yapısal ve optiksel özelliklerinin incelenmesi

    Structural and optical properties of CU2O thin films produced by chemical bathdeposition method

    DİLEK AKER

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2019

    Fizik ve Fizik MühendisliğiErciyes Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. BUKET SAATÇİ

    DOÇ. DR. EMİNE GÜNERİ

  4. Growth and characterization of sol-gel derived Cu(In,Ga)Se2 (CIGS) thin-films and beta irradiation effect

    Cu(In,Ga)Se2 (CIGS) ince filmlerin sol-jel tekniğiyle büyütülmesi, karakterizasyonu ve beta ışınlarının etkisinin incelenmesi

    ŞENGÜL AKYOL

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2015

    Enerjiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Metalurji ve Malzeme Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. HÜSEYİN ÇİMENOĞLU

    PROF. DR. NİLGÜN BAYDOĞAN

  5. ZnSe/CuS ince film heteroeklem yapısının üretilmesi ve karakterizasyonu

    Production and characterization of ZnSe/CuS thin film heterojunction structure

    KÜRŞAT BOLAT

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2020

    Fizik ve Fizik MühendisliğiBursa Uludağ Üniversitesi

    Genel Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. SERTAN KEMAL AKAY