Geri Dön

Development of atomic force microscopy system and Kelvin probe microscopy system for use in semiconductor nanocrystal characterization

Yarı iletken nanokristal karakterizasyonunda kullanılmak üzere atomik kuvvet mikroskobu ve Kelvin sondası mikrobu geliştirilmesi

  1. Tez No: 201924
  2. Yazar: UMUT BOSTANCI
  3. Danışmanlar: PROF. DR. RAŞİT TURAN
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Atomik kuvvet mikroskobu, Kelvin sondası mikroskobu, germanyum, nanokristal, Kelvin spektroskopisi, Atomic Force Microscopy, kelvin probe microscopy, germanium, nanocrystal, Kelvin spectroscopy
  7. Yıl: 2007
  8. Dil: İngilizce
  9. Üniversite: Orta Doğu Teknik Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: 68

Özet

Atomik Kuvvet Mikroskobu (AKM) ve Kelvin Sondası Mikroskobu yarıiletken nanokristal uygulamaları için uygun iki yüzey karakterizasyon yöntemleridir. Bu tez çalısmasında, KPM kapasitesine sahip bir AKM sistemi gelistirilip üretilmistir. Kelvin kuvveti algılanmasında tınlasım kolunun örnek ile elektrostatik etkilesiminin etkisinin, yüksek dereceli tınlama modlarının kullanımı ile önemli derecede azaltılabilecegi gözlemlendi. Silisyum taban üzerinde degisik büyüme kosullarında germanium nanokristaller büyütüldü. Her iki karakterizasyon yöntemi üretilen nanokristal örneklere uygulandı. Menevisleme sıcaklıgı degisimine baglı nanokristal boyut farklılıgı gözlendi. KPM kullanarak nanokristal örnekler yapılan Kelvin spektroskopisi ölçümlerinde, yüklenme etkileri gözlendi. vii

Özet (Çeviri)

Atomic Force Microscopy (AFM) and Kelvin Probe Microscopy (KPM) are two surface characterization methods suitable for semiconductor nanocrystal applications. In this thesis work, an AFM system with KPM capability was developed and implemented. It was observed that, the effect of electrostatic interaction of the probe cantilever with the sample can be significantly reduced by using higher order resonant modes for Kelvin force detection. Germanium nanocrystals were grown on silicon substrate using different growth conditions. Both characterization methods were applied to the nanocrystal samples. Variation of nanocrystal sizes with varying annealing temperature were observed. Kelvin spectroscopy measurements made on nanocrystal samples using the KPM apparatus displayed charging effects. v

Benzer Tezler

  1. Development of novel donor and acceptor sam molecules for photovoltaic applications

    Fotovoltaik uygulamalar için yeni nesil donör ve akseptör kendiliğinden organize tek katman moleküllerin geliştirilmesi

    EMRE ARKAN

    Doktora

    İngilizce

    İngilizce

    2019

    Enerjiİzmir Katip Çelebi Üniversitesi

    Malzeme Bilimi ve Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. ŞERAFETTİN DEMİÇ

  2. BiTeSb tabanlı ince filmlerin yapısal, elektriksel ve termoelektrik özelliklerinin incelenmesi

    Investigation of structural, electrical and thermoelectric properties of bitesb based thin films

    MEHMET ÇETİN

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2024

    EnerjiRecep Tayyip Erdoğan Üniversitesi

    Enerji Sistemleri Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. ERCÜMENT YÜZÜAK

  3. Investigation of graphene/hopg system and uhv system development for the study of germanium surfaces with atomic wires

    Graphene/hopg sisteminin incelenmesi ve ge yüzeylerinin atomik teller ile çalışılması için uyv sistem geliştirilmesi

    DİLEK YILDIZ

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2014

    Bilim ve Teknolojiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Fizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. OĞUZHAN GÜRLÜ

  4. Sızdırmazlık cam bileşimlerinin geliştirilmesi, farklı yöntemlerle şekillendirilmesi ve karakterizasyonu

    Development of sealing glass compositions, forming with different techniques and their characterization

    MELİS CAN ÖZDEMİR YANIK

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2023

    Metalurji Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Malzeme Bilimi ve Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. SÜHEYLA AYDIN

    DOÇ. DR. ESİN GÜNAY

  5. Tam yansıtan ve hiç yansıtmayan çok katmanlı dielektrik filimler

    Totally reflecting and antireflecting multilayered dielectric films

    ÖZLEM DUYAR

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2006

    Fizik ve Fizik MühendisliğiHacettepe Üniversitesi

    Fizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. HÜSEYİN ZAFER DURUSOY