Development of atomic force microscopy system and Kelvin probe microscopy system for use in semiconductor nanocrystal characterization
Yarı iletken nanokristal karakterizasyonunda kullanılmak üzere atomik kuvvet mikroskobu ve Kelvin sondası mikrobu geliştirilmesi
- Tez No: 201924
- Danışmanlar: PROF. DR. RAŞİT TURAN
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Atomik kuvvet mikroskobu, Kelvin sondası mikroskobu, germanyum, nanokristal, Kelvin spektroskopisi, Atomic Force Microscopy, kelvin probe microscopy, germanium, nanocrystal, Kelvin spectroscopy
- Yıl: 2007
- Dil: İngilizce
- Üniversite: Orta Doğu Teknik Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: 68
Özet
Atomik Kuvvet Mikroskobu (AKM) ve Kelvin Sondası Mikroskobu yarıiletken nanokristal uygulamaları için uygun iki yüzey karakterizasyon yöntemleridir. Bu tez çalısmasında, KPM kapasitesine sahip bir AKM sistemi gelistirilip üretilmistir. Kelvin kuvveti algılanmasında tınlasım kolunun örnek ile elektrostatik etkilesiminin etkisinin, yüksek dereceli tınlama modlarının kullanımı ile önemli derecede azaltılabilecegi gözlemlendi. Silisyum taban üzerinde degisik büyüme kosullarında germanium nanokristaller büyütüldü. Her iki karakterizasyon yöntemi üretilen nanokristal örneklere uygulandı. Menevisleme sıcaklıgı degisimine baglı nanokristal boyut farklılıgı gözlendi. KPM kullanarak nanokristal örnekler yapılan Kelvin spektroskopisi ölçümlerinde, yüklenme etkileri gözlendi. vii
Özet (Çeviri)
Atomic Force Microscopy (AFM) and Kelvin Probe Microscopy (KPM) are two surface characterization methods suitable for semiconductor nanocrystal applications. In this thesis work, an AFM system with KPM capability was developed and implemented. It was observed that, the effect of electrostatic interaction of the probe cantilever with the sample can be significantly reduced by using higher order resonant modes for Kelvin force detection. Germanium nanocrystals were grown on silicon substrate using different growth conditions. Both characterization methods were applied to the nanocrystal samples. Variation of nanocrystal sizes with varying annealing temperature were observed. Kelvin spectroscopy measurements made on nanocrystal samples using the KPM apparatus displayed charging effects. v
Benzer Tezler
- Development of novel donor and acceptor sam molecules for photovoltaic applications
Fotovoltaik uygulamalar için yeni nesil donör ve akseptör kendiliğinden organize tek katman moleküllerin geliştirilmesi
EMRE ARKAN
Doktora
İngilizce
2019
Enerjiİzmir Katip Çelebi ÜniversitesiMalzeme Bilimi ve Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. ŞERAFETTİN DEMİÇ
- BiTeSb tabanlı ince filmlerin yapısal, elektriksel ve termoelektrik özelliklerinin incelenmesi
Investigation of structural, electrical and thermoelectric properties of bitesb based thin films
MEHMET ÇETİN
Yüksek Lisans
Türkçe
2024
EnerjiRecep Tayyip Erdoğan ÜniversitesiEnerji Sistemleri Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. ERCÜMENT YÜZÜAK
- Investigation of graphene/hopg system and uhv system development for the study of germanium surfaces with atomic wires
Graphene/hopg sisteminin incelenmesi ve ge yüzeylerinin atomik teller ile çalışılması için uyv sistem geliştirilmesi
DİLEK YILDIZ
Yüksek Lisans
İngilizce
2014
Bilim ve Teknolojiİstanbul Teknik ÜniversitesiFizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. OĞUZHAN GÜRLÜ
- Sızdırmazlık cam bileşimlerinin geliştirilmesi, farklı yöntemlerle şekillendirilmesi ve karakterizasyonu
Development of sealing glass compositions, forming with different techniques and their characterization
MELİS CAN ÖZDEMİR YANIK
Doktora
Türkçe
2023
Metalurji Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiMalzeme Bilimi ve Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. SÜHEYLA AYDIN
DOÇ. DR. ESİN GÜNAY
- Tam yansıtan ve hiç yansıtmayan çok katmanlı dielektrik filimler
Totally reflecting and antireflecting multilayered dielectric films
ÖZLEM DUYAR
Doktora
Türkçe
2006
Fizik ve Fizik MühendisliğiHacettepe ÜniversitesiFizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. HÜSEYİN ZAFER DURUSOY