Geri Dön

Strain rate analysis in bulge test

Şişirme testinde uzama hızının çözümlemesi

  1. Tez No: 216325
  2. Yazar: KAMİL BUĞRA TOGA
  3. Danışmanlar: YRD. DOÇ. ERDEM ALACA
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Makine Mühendisliği, Metalurji Mühendisliği, Mühendislik Bilimleri, Mechanical Engineering, Metallurgical Engineering, Engineering Sciences
  6. Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
  7. Yıl: 2008
  8. Dil: İngilizce
  9. Üniversite: Koç Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Malzeme Bilimi ve Mühendisliği Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: 71

Özet

Önemli bir mekanik karakterizasyon tekniği olan şişirme deneyi, mikron-altı kalınlıktaki altın ince filmlerin sabit gerilim hızı koşullarındaki akma mukavemetini ölçmek için özelleştirildi. Altının baskı-gerilim davranışı ince uzun bir dikdörtgen diyaframın şişirme methodu ile ölçülen basınç-esneme davranışından elde edildi. Sabit gerilim hızı koşulu hali hazırda var olan bir analitik modelden türetildi ve deney düzeneğinin otomasyonuna dahil edildi. 500 nm kalınlıktaki diyaframlar yaygın olarak kullanılan Silikon mikro fabrikasyon tekniğiyle üretildi. Numune hazırlanması, deney düzeneğinin detayları, deneyel prosedür ve data alımı-işlenmesi etraflıca değerlendirildi. Elastik modül kalıp halindeki altın malzemenin elastik modülünden düşük bulundu; kristal yapı analizleri ve literatürdeki değerler mevcut durumu destekledi. Malzemenin akma mukavemetinin artan gerilim hızına bağlı olarak arttığı gözlemlendi.

Özet (Çeviri)

A powerful mechanical characterization method applicable to sub-micron membranes is qualified to determine strain rate dependent yield behavior of free standing gold films. In this technique, the stress-strain behavior of gold is determined from the pressure-deflection behavior of a long rectangular diaphragm. Constant strain rate condition is derived from a readily available analytical model and implemented to the automation facility. A traditional silicon micromachining technique is performed to open 500 nm thick gold diaphragms. The significant considerations on sample preparation, experimental procedure and data acquisition are evaluated. Young?s modulus is measured smaller than the bulk value which is verified by the literature and the crystallographic texture analysis. Residual stress and yield strain is found to be in agreement with finite element simulations. The yield stress of gold films differed considerably at different strain rates increasing at rapid measurements.

Benzer Tezler

  1. Çift eksenli gerilme altında parçalı hopkinson basma çubuğu ile malzeme analizi

    Material analysis with the hopkinson pressure bar inbiaxial stress state

    SELİN GÜMÜŞ

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2019

    Makine Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Makine Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. EMİN SÜNBÜLOĞLU

  2. Al.Fe.Si. ve Al.Fe.Si.Mn. alaşımlı alüminyum folyoların mekanik performans özelliklerinin karşılaştırılması

    Başlık çevirisi yok

    SEFER SINMAZ

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1998

    Metalurji Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Metalurji Eğitimi Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. EYÜP SABRİ KAYALI

  3. Experimental investigation of influence parameters on forming limit diagrams of aluminum alloy-Al 2024

    Alüminyum alaşımı-Al 2024 için şekillendirilebilme sınır diyagramlarını etkileyen parametrelerin deneysel olarak incelenmesi

    GÖKHAN ÇELİK

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2010

    Mühendislik BilimleriAtılım Üniversitesi

    DR. CELALETTİN KARADOĞAN

    PROF. DR. BİLGİN KAFTANOĞLU

  4. Energy dissipation and rate-dependent deformation behavior of STF-integrated PU foam nanocomposites

    STF entegre PU köpük nanokompozitlerin enerji emme ve hıza bağlı deformasyon davranışı

    EMRE GÜNDÜZ

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2023

    Polimer Bilim ve Teknolojisiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Polimer Bilim ve Teknolojisi Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. BÜNYAMİN KARAGÖZ

  5. Bacillus subtilis GntR ailesine ait LutR transkripsiyon faktörünün doğrudan kontrolü altındaki genlerin CHIP ve EMSA yöntemleriyle belirlenmesi

    Determination of genes under the direct control of GntR-type transcriptional factor LutR in Bacillus subtilis PY79 by CHIP and EMSA methods

    MURAT KEMAL AVCI

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2015

    Biyoteknolojiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Moleküler Biyoloji-Genetik ve Biyoteknoloji Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. AYTEN KARATAŞ