Lazer benek kontrast analizi tekniği ile yüzey pürüzlülüğü ölçümü
Lazer benek kontrast analizi tekniği ile yüzey pürüzlülüğü ölçümü
- Tez No: 223005
- Danışmanlar: DOÇ.DR. GÖKALP KAHRAMAN
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Elektrik ve Elektronik Mühendisliği, Electrical and Electronics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Lazer Kontrast Analizi, Pürüzlülük Ölçümü, Sayısal Görüntü ?sleme, Laser Speckle Contrast, Roughness measurement, Digital Image Processing
- Yıl: 2007
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Ege Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Elektrik-Elektronik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: 53
Özet
Bu çalısmada, zımparalama ve parlatma islemlerine tabi tutulmus metallere ait yüzeylerin pürüzlülüğünü Subjektif Benek Görüntüsü Kontrast hesabı yöntemi ile hesap eden yöntem sunulmaktadır. Lazer Benek Yönteminin dayandığı temel mantık, benek kontrastı ile lazer ısığı tutularak aydınlatılmıs yüzeyin pürüzlülüğü arasında lineer iliski olmasıdır. Baslangıçta küçük gelme açısında dalga boyu 532 nm olan polarize lazer ısığı gönderilerek yaklasık 0.22 mikrometreye kadar pürüzlülük ile benek kontrastı arasında lineer iliski olduğu gösterilmistir. Bu değerden sonra saturasyon meydana gelmektedir. Daha sonra değisik polarizasyonda, pürüzlülük ölçüm kademesi daha da arttırılmıs ve daha iyi bir lineer iliskisi yakalanmıstır. Bu çalısma, özellikle lazer dalga boyundan küçük pürüzlülük değerlerini ölçmek için gayet uygun ve basit bir yöntemdir.
Özet (Çeviri)
A method of measuring surface roughness of sanded and polished metallic surfaces by the subjective speckle contrast method is presented in this paper. The laser speckle contrast technique depends on the existence of an approximately linear relationship between the speckle contrast and the roughness of the illuminated surface. Initially, it was shown that the linear relationship existed up to about 0.225 micrometer roughness at 26 degrees angle of incidence using a 532 nm polarized laser diode light, after which a saturation effect was observed. The effect of varying the incidence angle and polarization showed that greater roughness measurement range and more linear relationship between contrast and roughness can be obtained.
Benzer Tezler
- Young's modulus characterization of polydimethylsiloxane (PDMS) microfluidic chips for viscosity measurements
Viskozite ölçümleri için tasarlanmış polidimetilsiloksan (PDMS) mikroakışkan çiplerinin young modülü karakterizasyonu
CEYDA KÖKSAL
Yüksek Lisans
İngilizce
2024
Biyomühendislikİstanbul Teknik ÜniversitesiElektronik ve Haberleşme Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DR. ÖĞR. ÜYESİ AHMET CAN ERTEN
DOÇ. ONUR FERHANOĞLU
- Superpixel assisted deep neural network for breast tumor segmentation in ultrasound images
Süperpiksel destekli derin sinir ağı ile meme ultrason görüntülerinde tümör segmentasyonu
NEFİSE UYSAL
Yüksek Lisans
İngilizce
2022
Bilgisayar Mühendisliği Bilimleri-Bilgisayar ve Kontrolİstanbul Teknik ÜniversitesiElektronik ve Haberleşme Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. ENDER METE EKŞİOĞLU
ÖĞR. GÖR. MURAT GEZER
- Lazer benek kontrast ve korelasyon yöntemleriyle yüzey pürüzlülüğü ölçümü iyileştirilmesi
Improvement to surface roughness measurement using speckle contrast and speckle correlation methods
BURAK EREN
Yüksek Lisans
Türkçe
2009
Elektrik ve Elektronik MühendisliğiEge ÜniversitesiElektrik-Elektronik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. GÖKALP KAHRAMAN
- Derişim ölçümü için optik tabanlı foto akustik sensör geliştirilmesi
Development of optical photoacoustic sensors for concentration measurements
ÖMER FARUK DİNÇ
Yüksek Lisans
Türkçe
2022
Elektrik ve Elektronik MühendisliğiEge ÜniversitesiElektrik ve Elektronik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. YAVUZ ÖZTÜRK
- Lazerli haberleşme sistemlerinin tasarım parametrelerine çevre ve atmosfer şartlarının etkileri üzerine araştırma
Research on effects of ambient and atmospheric conditions to design parameters of laser communication systems
BİLGEHAN BERNA GÖĞÜSGER
Yüksek Lisans
Türkçe
1999
Elektrik ve Elektronik MühendisliğiAnkara ÜniversitesiElektronik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. FARUK ÖZEK