Rutherford geri saçılma spektroskopisi ile kalınlık ölçümü
Thickness measurement by Rutherford backscattering spectroscopy
- Tez No: 232663
- Danışmanlar: DOÇ. DR. NALAN ÖZKAN GÜRAY
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
- Yıl: 2007
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Kocaeli Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: 77
Özet
Rutherford geri saçılma spektroskopisi (RBS), madde ile iyon etkileşmesini kullanan iyon demet analiz tekniklerinden biridir. RBS analizinde, hafif parçacıkların (~MeV, genellikle 4He+, 1H+) tek enerjili demeti, analizi yapılacak hedef numune üzerine bombardıman edilir. Hedef numuneden geri saçılan parçacıklar, gelen parçacıkların doğrultusuna göre istenilen büyük bir açıda (bu çalışmada 135°) yerleştirilmiş bir dedektör ile sayılır. Geri saçılan parçacıkların enerji spektrumlarından hedef numunenin yapısal ve kristal özellikleri belirlenebilir. RBS tekniği, hedefi tahrip etmeden hedefin kalınlığını ve element bileşimini tespit edebilen çok kullanışlı bir metotdur.Bu tezde, RBS tekniği ve bu teknikle hedeflerin kalınlık hesabının nasıl yapıldığı anlatılmaktadır. Ayrıca, Cd-106 ve Sn-112 izotoplarından oluşan iki ayrı hedef için RBS tekniği ile kalınlık hesabı yapılmıştır. Hedeflerin nükleer ve elektronik durdurma gücü hesapları da SRIM programından elde edilerek aralarındaki fark grafik ile gösterilmiştir.
Özet (Çeviri)
In Rutherford Backscattering (RBS), the beam of monoenergetic (~MeV) light particles (~MeV, usually 4He+, 1H+) is bombarded on the target material that will be analyzed. The backscattered particles from target material are detected by a detector which is placed at desired angle (in our case, 135°) with respect to the direction of the incident beam. From the energy spectra obtained from backscattered particles, structural and crystal properties of target material can be determined. RBS is a very useful technique to be able to determine the target thickness and elemental composition causing any destruction on target material.In this thesis, RBS technique basic principles and how to do the thickness determination are explained. In addition, for two different targets that consist of Cd-106 and Sn-112 isotopes, the thickness calculations were achieved. Calculations of nuclear and electronic stopping power were also obtained by using SRIM programme and the difference between them were graphed.
Benzer Tezler
- Formation of Ge nanocrystals with cw laser irradiation of SiOx:Ge thin films
SiOx:Ge ince filmlerde sürekli dalga lazeri ışınlaması ile germanyum nanokristal oluşumu
MELİKE GÜMÜŞ
Yüksek Lisans
İngilizce
2015
Fizik ve Fizik Mühendisliğiİhsan Doğramacı Bilkent ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. ATİLLA AYDINLI
- Formation of silicon nanocrystals by laser processing of silicon rich oxides
Silisyum zengini oksitlerin lazerle işlenmesiyle silisyum nanoyapıların oluşumu
SİNAN GÜNDOĞDU
Yüksek Lisans
İngilizce
2012
Fizik ve Fizik Mühendisliğiİhsan Doğramacı Bilkent ÜniversitesiFizik Bölümü
PROF. DR. ATİLLA AYDINLI
- Yapay sinir ağlarının gama spektrometrik ölçümlere uygulanması
Application of artificial neural networks to gamma spectrometric measurements
SELİN ERZİN
Doktora
Türkçe
2019
Fizik ve Fizik MühendisliğiEge ÜniversitesiNükleer Bilimler Ana Bilim Dalı
PROF. DR. GÜNSELİ YAPRAK
- B2O3 hedefin 103-127 keV enerjili protonlar ile bombardımanı sonucu gerçekleşen 11B(p,α)2α reaksiyonunun kısmi diferensiyel tesir kesitlerinin ölçülmesi
Measurement of partial differential cross sections of the 11B(p,α)2α reaction occured by bombarding B2O3 target with 103-127 keV protons
OSMAN ALAÇAYIR
Yüksek Lisans
Türkçe
2015
Fizik ve Fizik Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiNükleer Araştırmalar Ana Bilim Dalı
PROF. DR. NİLGÜN BAYDOĞAN
- Manyetik ince filmlerin manyetik ve elektriksel özelliklerinin araştırılması
The investigation of magnetic and electrical properties of magnetic thin films
FİGEN AY
Doktora
Türkçe
2016
Fizik ve Fizik MühendisliğiGebze Teknik ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. BULAT RAMİ