Kalın bir taşıyıcı üzerindeki soğurucu ince filmlerin optik özelliklerinin belirlenmesi
Başlık çevirisi mevcut değil.
- Tez No: 24829
- Danışmanlar: DOÇ. DR. NEVZAT KAVCAR
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Elipsometri, Optik özellikler, İnce filmler, Ellipsometry, Optical properties, Thin films
- Yıl: 1992
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Cumhuriyet Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.
Özet
ÖZET Bu çalışmada iki katlı film sistemleri olan CuO/Au, CuO/Ag, In/Al ve Ag/Cu lara ait elipsometrik parametrelerden yararlanılarak, üst katman olarak yer alan filmlerin n kırılma indisleri, k sönüm katsayı ları ve d kalınlıkları yaptığımız bir komputür prog ramıyla hesaplanıp, n ve k değerlerinin kullanılan ışığın dalgaboyu ve film kalınlığıyla değişimleri incelendi. Isısal buharlaştırma yöntemiyle, önce alt ta şıyıcılar olan Ag, Al, Au ve Cu kalın filmler cam ü- z er in e hazırlanarak bunların üzerine yine aynı yön temle CuO, Ag ve in ince filmleri kaplandı. Kalın ör neklere ait elipsometrik parametrelerden elde edilen alt metal indisleri ve iki katlı film sistemine ait elipsometrik parametreler yardımıyla üst katman olan ince filmlere ait optik sabitler ve kalınlıklar BASIC programlama dilinde yazılan bir programla, iterasyon tekniği kullanılarak hesaplandı. Sonuçlar çizelge ve grafiklerle verildi.
Özet (Çeviri)
II SUMMARY In this study, by using the experimental ellipso- metric parameters of CuO/Au, CuO/Ag, In/Al, Ag/Cu two layered film systems, the optical constants, n, k and d of the upper layer are calculated by a computer program we prepared and employed. The changing of n, k versus the wavelenght of light, and film thickness are investigated. Ag, Al, Au, Cu thick film samples have been condensed on glass substrates by the method of thermal evaporation and then CuO, Ag, and In thin films of different thicknesses have been covered on these thick layers by the same method. By using the optical constants of the thick underlying films, and ellipsometric para meters of the two layered systems n, k, and d of the thin upper layer have been calculated by an iteration technique written in BASIC language. The results have been presented in tables and graphics.
Benzer Tezler
- Ovulasyon indüksiyonu tedavisinde folliküler gelişimin ultrasonografik takibi
Başlık çevirisi yok
MERİH BAYRAM
Tıpta Uzmanlık
Türkçe
1987
Kadın Hastalıkları ve DoğumGazi ÜniversitesiKadın Hastalıkları ve Doğum Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. MÜLAZIM YILDIRIM
- İlkokul çağı erkek çocuklarında inmemiş testis anomalisi ve insidansı
The anomaly and incidence of cryptorchidism in primary school boys
SERDAR SEZGİN
- Pre-eklampsi ve eklampsi vakalarında immünoglobülin düzeylerinin değerlendirilmesi (Klinik ve immünobiolojik araştırma)
Examination des valeurs d'immunoglobulines en cas de la toxemie gravidique
M. MURAT SEMİZ
Tıpta Uzmanlık
Türkçe
1987
Kadın Hastalıkları ve DoğumGazi ÜniversitesiKadın Hastalıkları ve Doğum Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. MÜLAZIM YILDIRIM
- Ege bölgesi keçi liflerinin bazı önemli fiziksel, kimyasal özellikleri ve değerlendirme imkanları
Başlık çevirisi yok
NİLÜFER ERDEM
Doktora
Türkçe
1985
Tekstil ve Tekstil MühendisliğiEge ÜniversitesiTekstil Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. GÜLSEREN YAZICIOĞLU
- Pulmoner hipertansiyon etyopatogenezinde prostasiklin ve lökotrien C4'ün rolü
Possible role of leukotrien C4 and prostacyclin in the development of pulmonary hypertension
ÜLKÜ AYBERK
Tıpta Uzmanlık
Türkçe
1987
Çocuk Sağlığı ve HastalıklarıGazi ÜniversitesiÇocuk Sağlığı ve Hastalıkları Ana Bilim Dalı