Geri Dön

Reliability improvement of RF MEMS devices based on lifetime measurements

RF MEMS aygıtların güvenilirliğinin yaşam süresi ölçümlerine dayalı olarak artırılması

  1. Tez No: 269406
  2. Yazar: OZAN DOĞAN GÜRBÜZ
  3. Danışmanlar: DOÇ. DR. ŞİMŞEK DEMİR, PROF. DR. TAYFUN AKIN
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Elektrik ve Elektronik Mühendisliği, Electrical and Electronics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
  7. Yıl: 2010
  8. Dil: İngilizce
  9. Üniversite: Orta Doğu Teknik Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Elektrik ve Elektronik Mühendisliği Bölümü
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.

Özet

Bu tez çalışmasında belli milimetre dalga başarım ölçütlerine gore tasarlanmış parallel, sığaç değeçli RF MEMS anahtarların üretimi anlatılmıştır. Güvenilirlik ve ömür sınama testleriyle inceleme için tasarlanan anahtarlarda değişiklikler yapılmıştır.Anahtarların gerçek zamanlı başarımlarını izleyebilmek amacıyla zamana bağlı ölçüm düzeneği kurulmuş ve SG (sığaya karşılık uygulanan gerilim) grafiği ölçümü yapılabilen bir birim de SG grafiklerinin çıkarılabilmesi, aşağı çekme ve geri bırakma gerilimlerinin belirlenebilmesi ve bunlardaki kaymaların gözlenebilmesi için sisteme eklenmiştir.Kurulan düzenekle değişik hareketlendirme gerilim şekilleri uygulanarak farklı ölçüm ortamlarında güvenilirlik ve ömür sınama testleri gerçekleştirilmiştir. Ömrü uzatmak için en uygun koşulların belirlenmesinden sonra uzun vadeli denemeler yapılmış ve döngülü hareketlendirme gerilim şekli uygulamasında 885 saatlik çalışma başarımı elde edilmiştir.

Özet (Çeviri)

This thesis presents fabrication of shunt, capacitive contact type RF MEMS switches which are designed according to given mm-wave performance specifications. The designed switches are modified for investigation in terms of reliability and lifetime.To observe the real-time performance of switches a time domain measurement setup is established and a CV (capacitance vs. voltage) curve measurement system is also included to measure CV curves, pull-in and hold-down voltages and the shifts of these due to actuations.By using the established setup reliability and lifetime measurements under different bias waveforms in different environments are performed. After investigation for the most suitable condition for improving lifetime long-term tests are performed and the outstanding result of more than 885 hours of operation under cycling bias waveform is obtained.

Benzer Tezler

  1. Improvement in performance and reliability of gallium nitride based high electron mobility transistor (HEMT)

    Galyum nitrür tabanli yüksek elektron hareketliliğine sahip transistörün (HEMT) performans ve güvenilirliğinde iyileştirme.

    AMIR ALI JOYA

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2026

    Bilim ve Teknolojiİhsan Doğramacı Bilkent Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. EKMEL ÖZBAY

    PROF. DR. CEYHUN BULUTAY

    PROF. DR. ALİ BOZBEY

  2. Füze arayıcı başlığı için güvenilirlik analizi ve güvenilirlik iyileştirme çalışması

    Reliability anaysis and reliability improvement for a missile seeker

    EBRU ÇEVİK BAKIRLI

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2021

    Savunma ve Savunma TeknolojileriBaşkent Üniversitesi

    Savunma Teknolojileri ve Sistemleri Ana Bilim Dalı

    DR. ÖĞR. ÜYESİ MURAT ÜÇÜNCÜ

  3. Spinal kord yaralanmalı hastalarda nörojenik bağırsak disfonksiyon skorunun Türkçe geçerlilik ve güvenirlik çalışması

    Reliability and validity of Turkish version of neurogenic bowel dysfunction score in patients with spinal cord injury

    DİDEM ERDEM

    Tıpta Uzmanlık

    Türkçe

    Türkçe

    2015

    Fiziksel Tıp ve RehabilitasyonDokuz Eylül Üniversitesi

    Fiziksel Tıp ve Rehabilitasyon Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. SELMİN GÜLBAHAR

  4. Design of a wearable sensor system for artificial intelligence based motion analysis in telerehabilitation

    Telerehabilitasyon amaçlı yapay zekâ tabanlı hareket analizi içingiyilebilir sensör sistemi tasarımı

    AHMED ABDELWAHAB MAHGOUB HAKIM

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2025

    Elektrik ve Elektronik MühendisliğiHacettepe Üniversitesi

    Elektrik-Elektronik Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. ŞÖLEN KUMBAY YILDIZ

    PROF. DR. ATİLA YILMAZ

  5. Computational analyses of die-embedded microchannels for high electron mobility transistors considering thermal, hydrodynamic and structural behavior

    Yüksek elektron mobiliteli transistorlara uygulanmış gömülü mikrokanal yapılarının ısıl, hidrodinamik ve yapısal davranışlarının hesaplamalı analizleri

    ORÇUN YILDIZ

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2023

    Makine Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Makine Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    DR. ÖĞR. ÜYESİ ALAEDDİN BURAK İREZ

    PROF. DR. LÜTFULLAH KUDDUSİ