Geri Dön

Cd(1-x)Zn(x)S ince filmleri için Ohmic ve Schottky kontaklar

Ohmic and Schottky contacts of Cd(1-x)Zn(x)S thin films

  1. Tez No: 269815
  2. Yazar: HİLAL RÜZGAR
  3. Danışmanlar: PROF. DR. M. CELALETTİN BAYKUL
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
  7. Yıl: 2010
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Eskişehir Osmangazi Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Katıhal Fiziği Bilim Dalı
  13. Sayfa Sayısı: 69

Özet

Bu çalışmada Ultrasonik Sprey Piroliz (USP) yöntemi ile üretilen n-tipi Cd(1-x)ZnxS (x=0; 0,2; 0,4; 0,6; 0,8; 1,0) yarıiletken ince filmlerinin elektriksel özellikleri incelenmiştir. Cd(1-x)ZnxS ince filmlerinin akım-voltaj karakteristikleri ölçülmüştür. Bu ölçümler oda sıcaklığında ve karanlıkta -35 ile +35 Volt arasında değişen voltaj değerlerinde gerçekleştirilmiştir. Elde edilen ince filmlerin I-V karakteristikleri gümüş kontaklar için lineerdir. Bu lineerlikten gümüş kontakların Cd(1-x)ZnxS yarıiletken ince filmleri için ohmic kontak olduğu anlaşılmıştır. Cd(1-x)ZnxS ince filmlerinin elektriksel özdirençleri iki uç tekniği kullanılarak belirlenmiştir. Yapılan hesaplamalar sonucunda Cd(1-x)ZnxS ince filmlerinin elektriksel özdirenç değerlerinin 4,7?11,4 ? .cm arasında değiştiği hesaplanmıştır.n-tipi Cd(1-x)ZnxS ince filmlerinin yüzeyleri üzerinde Yüksek Termal Vakum Buharlaştırma Yöntemi (High Thermal Vacuum Evaporation Technique) kullanılarak altın (Au) ile kaplanmıştır. Yapılan altın kontaklar oluşturularak hazırlanan filmler oda sıcaklığında ve karanlıkta -0,50 ile +0,95 Volt arasındaki değişen değerlerde akım-voltaj karakteristikleri elde edilmiştir. Bu akım- voltaj değerlerinden yararlanılarak, altın'ın -0,50 ile +0,95 Volt arasında Au/Cd0,2Zn0,8S yarıiletken ince filmi için Schottky kontak olduğu belirlenmiştir. Akımın ln değeri alınarak, voltaj değerlerine karşı grafiği çizilmiştir ve çizmiş olduğumuz grafikten idealite faktörü (n) elde edilmiştir. Au/Cd0,2Zn0,8S yarıiletken ince filmi için kapasitans ölçümleride alınmıştır. Kapasitans-Voltaj (C-V) grafiği çizilmiştir. Bu grafikten yararlanarak Schottky engelinin yüksekliği ve serbest taşıyıcı yük yoğunluğu hesaplanmıştır. Au/Cd0,2Zn0,8S yarıiletken ince filmi için, Schottky engel yüksekliği (E?M) 1,3 eV, serbest taşıyıcı yük yoğunluğu (Nd) 8,21x1019 cm-3 bulunmuştur.

Özet (Çeviri)

In this work, the electrical properties of n-type Cd(1-x)ZnxS (x=0, 0.2, 0.4, 0.6, 0.8, 1.0) thin films were produced by Ultrasonic Spray Pyrolysis (USP) method have been investigated. Current-Voltage characteristics of Cd(1-x )ZnxS thin films were measured. These measurements were performed by applying voltages between -35 and +35 Volts at room temperature in the dark. I-V characteristics of thin films were linear for silver contacts. Due to the linearity, silver contacts have been observed that they were ohmic contacts for Cd(1-x)ZnxS thin films. Electrical resistivities of Cd(1-x)ZnxS thin films have been determined using the two-probe technique. Electrical resistivities of Cd(1-x) Znx S thin films were found between 4.7?11.4 ? .cm.n-type Cd(1-x)ZnxS thin films surfaces were coated with gold (Au), by using High Thermal Vacuum Evaporation Technique. Current-voltage characteristics of Au/n-type Cd(1-x)ZnxS have been obtained between -0.50 and +0.95 volts at room temperature in the dark. By looking at current-voltage curves of Au/Cd(1-x)ZnxS contacts it has been realized that Au/Cd0.2Zn0.8S was a Schottky contact. From the plot of ln I versus Voltage (V), idealite factor (n) was obtained. In addition to that, Schottky barrier height was obtained from the plot of capacitance (C) versus voltage (V). However, the number of free charge carriers was determined. The Schottky barrier height (E?M), and the number of free charge carriers (Nd) were found to 1.3 eV and 8.21x1019 cm3, respectively.

Benzer Tezler

  1. Production and characteriztion of (CdZnS: Cu) nanomaterial for x-ray photon detection

    X-ışını fotonu algılamak iҫin (CdZnS: Cu) nanomalzemelerin üretimi ve karakterızasyonu

    AHMED ABDULHASAN HUSSEIN ZARKOOSHI

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2019

    Fizik ve Fizik MühendisliğiSüleyman Demirel Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    DR. ÖĞR. ÜYESİ MURAT KALELİ

  2. Synthesis of copper zinc tin sulfide CZT(S,Se) with solution based method and formation and characterization of CZT(S,Se) thin films for photovoltaic application

    Solüsyon yöntemiyle CZTS sentezi ve fotovoltaik devreler için CZTS ince film oluşturma ve film özelliklerini inceleme

    RIDVAN ERĞUN

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2015

    Enerjiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Nanobilim ve Nanomühendislik Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. ELİF ÜLKÜ ARICI

  3. Termiyonik Vakum Ark (TVA) ile depolanan katkısız ve P2O5, CdO ve ZnO katkılı V2O5 ince filmlerin bazı özelliklerinin incelenmesi

    Investigation of some properties of undoped and P2O5, CdO, and ZnO doped V2O5 thin films deposited by the Thermionic Vacuum Arc (TVA)

    ÇAĞRI DURMUŞ

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2024

    Fizik ve Fizik MühendisliğiEskişehir Osmangazi Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. TAMER AKAN

  4. Grafen-heteroatom temelli katalizörlerin sentezi, karakterizasyonu ve hidrojen üretiminde kullanımı

    Graphene-heteroatom based catalysts and their application for hydrogen production

    DUYGU AKYÜZ

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2019

    EnerjiMarmara Üniversitesi

    Kimya Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. ATIF KOCA

    PROF. DR. ALİ RIZA ÖZKAYA

  5. Toprakta ağır metal giderimine yönelik farklı biyoremediasyon yöntemlerinin kullanılması

    Using different bioremediation methods for heavy metal removal in soil

    FATMA NUR KILIÇ

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2023

    ZiraatErciyes Üniversitesi

    Toprak Bilimi ve Bitki Besleme Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. OSMAN SÖNMEZ