Kelvin probe force microscopy and its applications
Kelvin kuvvet aygıtı mikroskobu ve uygulamaları
- Tez No: 292181
- Danışmanlar: DOÇ. DR. H. ÖZGÜR ÖZER
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
- Yıl: 2010
- Dil: İngilizce
- Üniversite: İstanbul Teknik Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Fizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: 115
Özet
Kelvin Kuvvet Aygıtı Mikroskobu (KKAM) yüzeylerin iş fonksiyonlarını atomik ve moleküler ölçekte gözleyebilen atomik kuvvet mikroskobunun (AKM) değişik bir türüdür. Bu yüzden“Yüzey Potansiyeli Mikroskobu”olarak da bilinir. Kelvin Kuvvet Aygıtı Mikroskobu'nun Atomik Kuvvet Mikroskobundan farkı Kelvin metodu prensibine göre çalışması ve yüksek çözünürlüklü topografi bilgisinin yanı sıra yüzeylerin iş fonksiyonları farkını vermesidir. Kelvin Kuvvet Aygıtı Mikroskobu ile sağladığımız iş fonksiyonu haritası, o materyalin yerel yapılarının elektronik durumları ve kompozisyonu hakkında bilgi verir. Bu çalışmada Kuvvet Aygıtı Mikroskobu ile farklı malzemeler incelenmiştir.
Özet (Çeviri)
Kelvin Probe Force Microscopy(KPFM) is a modified version of Atomic Force Microscopy(AFM) which measures the local surface potential or work function of different metals with high spatial resolution. It is also known as 'Surface Potential Microcopy'. The difference of KPFM from AFM is that it depends on the principle of Kelvin method and provides work function difference of metals as well as high resolution topography imaging. The work function map obtained from KPFM provides electronic characterization of materials. In this work different materials werw analyzed by KPFM.
Benzer Tezler
- Functionalized CVD grown graphene for gas sensing applications
KBB yöntemi ile büyütülen fonksiyonelleştirilmiş grafenin gaz algılama uygulamaları
NESLİ YAĞMURCUKARDEŞ
Doktora
İngilizce
2017
Fizik ve Fizik Mühendisliğiİzmir Yüksek Teknoloji EnstitüsüMalzeme Bilimi ve Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. CEM ÇELEBİ
YRD. DOÇ. DR. ÖZHAN ÜNVERDİ
- Atomic force microscopy experiments on atomically thinmaterials
Atomik incelikteki malzemelerde atomik kuvvet mikroskobu deneyleri
ALİ SHERAZ
Yüksek Lisans
İngilizce
2020
Fizik ve Fizik Mühendisliğiİhsan Doğramacı Bilkent ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
DR. TALİP SERKAN KASIRGA
- Synthesis and nitrogen doping of graphene by chemical vapor deposition
Kimyasal buhar biriktirme ile grafenin sentezlenmesi ve azot ile katkılanması
ALPER YANILMAZ
Yüksek Lisans
İngilizce
2015
Fizik ve Fizik Mühendisliğiİzmir Yüksek Teknoloji EnstitüsüMalzeme Bilimi ve Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. CEM ÇELEBİ
YRD. DOÇ. DR. UMUT ADEM
- LiP-CVD growth of multi-shape monolayer WS2: Determination and investigation of defect domains
Çok şekilli tek katmanlı WS2' ün LiP-CVD ile büyütülmesi: Kusur alanlarının belirlenmesi ve incelenmesi
HASRET AĞIRCAN
Doktora
İngilizce
2024
Metalurji Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiMetalurji ve Malzeme Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. GÜLDEM KARTAL ŞİRELİ
- Application of self assembled monolayer technique to improve hole transport in organic LEDs
Organik LED'lerde deşik iletimini artırmaya yönelik organize tek katman tekniğinin uygulanması
MAVİŞE ŞEKER
Yüksek Lisans
İngilizce
2011
Fizik ve Fizik Mühendisliğiİzmir Yüksek Teknoloji EnstitüsüFizik Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. SALİH OKUR