Elektronik kartların sınır tarama kullanılarak test edilmesinde JTAG uygulaması
JTAG application at electronic circuits testing by using boundary scan
- Tez No: 294953
- Danışmanlar: PROF. DR. ETEM KÖKLÜKAYA
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Elektrik ve Elektronik Mühendisliği, Electrical and Electronics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
- Yıl: 2011
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Sakarya Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Elektrik-Elektronik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Elektrik Mühendisliği Bilim Dalı
- Sayfa Sayısı: 61
Özet
Elektronik devre tasarımında kullanılan tümleşik devre bileşenlerinin teknolojik gelişmeler sonucunda paket yapılarında ki küçülmeler, pin yapılarının değişmesi, sahip oldukları özelliklerin artması gibi tümleşik devre bileşenini oluşturan yapısal ve işlevsel özellikler daha karmaşık bir yapıya dönüşmüştür. Bu karmaşık yapıların test edilebilmesi için geliştirilen yeni test teknikleri sonucunda JTAG tekniği geliştirilmiş ve bir IEEE standardı haline getirilmiştir. Bu karmaşık devrelerin kullanıldığı cihazların hatasız bir şekilde test edilerek üretilebilmesi için uygun bir test kurulumu gerekmektedir. Karmaşık devrelerin üzerinde yer alan bağlantı noktalarının çokluğu bu bağlantı noktalarının el ile testini imkânsız hale getirmektedir. Bu nedenle test sürecini otomatikleştirmek gerekmektedir. Bu sorunları çözmek amacıyla geliştirilen test sistemleri içerisinde kurulum, kullanım ve test kapsamı bakımından en avantajlısı Jtag sistemidir. Bu tez çerçevesinde Jtag sistemi ve diğer test sistemleri karşılaştırılmış olup avantajları ve dezavantajları tartışılmıştır. Jtag sistemi için örnek olarak yapılan uygulamada XJTAG firmasının üretmiş olduğu XJTAG test sistemi kullanılarak hata tespiti yapılmıştır.
Özet (Çeviri)
With the development of technology, because of changing structural and functional features such as downsizing package structure, changing pin structures, increasing new features of Integrated Circuits(IC)' -which are used in electronic device development- ICs became more complicated structure. As a result of new testing techniques for testing of this complicated structure, JTAG technique was developed and became an IEEE standart. For defect-free testing and producing of the devices which uses these complicated circuits there must be a suitable testing setup. The majority of the pins on the complex circuits makes it impossible to test these ports manually. For this reason it is necessary to make it automated. In the systems developed for solving this problems Jtag is more advantageous in terms of instalation, usage and test coverage. Within the framework of this thesis, Jtag system and other test systems are compared and advantages and disadvantages are discussed. For an example of an application of Jtag system, error detection is done byusing XJTAG produced by XJTAG company.
Benzer Tezler
- Kaya kütlesindeki süreksizliklerin pürüzlülük ölçümleri için objektif yöntemlerin geliştirilmesi
Development of objective methods for measuring roughness of discontinuity surfaces in rock mass
İBRAHİM EMRE ÖNSEL
Doktora
Türkçe
2014
Maden Mühendisliği ve Madencilikİstanbul Teknik ÜniversitesiMaden Mühendisliği Ana Bilim Dalı
YRD. DOÇ. DR. CÜNEYT ATİLLA ÖZTÜRK
- IEEE 1149.1 standardı kullanarak test edilebilir lojik devre tasarımı
Testable lojik circit design by using IEEE 1149.1 standard
A.BETÜL TUNCER
Yüksek Lisans
Türkçe
1992
Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiPROF. DR. AHMET DERVİŞOĞLU
- Türkiye'de elektrik santralleri ve rüzgar enerjisi: Üretim ve arazi kullanımı ilişkilendirmesi
Examination of power plants & wind energy in Turkey: Relationship between electricity production & land use
MERT ANAMERİÇ
Yüksek Lisans
Türkçe
2019
Enerjiİstanbul Teknik ÜniversitesiGeomatik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. ŞİNASİ KAYA
- Türkiye iktisat politikalarının belirlenmesinde iktisadi kurum-kural ve kuruluşların rolleri
Başlık çevirisi yok
İBRAHİM GÜRAN YUMUŞAK
- High frequency brain potentials evoked in humans by optic stimulation
Başlık çevirisi yok
SİREL KARAKAŞ
