Geri Dön

ZnO ince film örneklerinde optik ve XRF parametrelerinin incelenmesi

Investigation of optical and XRF parameters at ZnO thin film samples

  1. Tez No: 301774
  2. Yazar: MURAT ŞİRİN
  3. Danışmanlar: DOÇ. DR. HASAN BALTAŞ
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Thin film, XRF, Flourescence cross-section, Kß-to- K? X-ray intensity ratios
  7. Yıl: 2012
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Rize Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: 71

Özet

Bu çalışmada, farklı sıcaklıklarda tavlanmış ZnO ince film örnekleri döndürme kaplamayla ilişkili sol-jel tekniği kullanılarak cam altlıklar üzerine büyütüldü. İnce film örneklerinin yapısal ve optik özellikleri X-ışını kırınım analizi (XRD) ve UV-Vis ile belirlendi. Amorf yapıdan polikristal yapıya geçişi en iyi 500 0C tavlama sıcaklığında gözlemlendi. Ayrıca, örneklerin Kß/K? şiddet oranları ve K kabuğu floresans tesir kesitleri gibi XRF parametreleri belirlendi. XRF ( X-ışını floresans) parametreleri ölçümü için örnekler aktivitesi 10 mCi olan Am-241 kaynağıyla uyarılmıştır. Örneklerden yayımlanan K X-ışınları 5.9 keV'de çözünürlüğü 150 eV olan Ultra-LEGe dedektörü ile sayıldı. ZnO ince film örneklerindeki Zn elementinin Kß/K? şiddet oranları ve K kabuğu floresans tesir kesitleri, ısıl tavlama sıcaklığının artmasının etkisine bağlı olarak değişti. Ölçülen değerler saf Zn elementinin literatürde hesaplanmış olan teorik ve deneysel değerleriyle karşılaştırıldı.Anahtar Kelimeler : İnce film, XRF, Floresans tesir kesiti, Kß/K? şiddet oranları

Özet (Çeviri)

In this study, ZnO thin film samples thermally annealed at different temperatures were grown on glass substrate by sol-gel technique associated with spin coating. Structural and optical characterizations have been carried out by using X-ray diffraction (XRD) and ultraviolet- visible (UV-Vis). The phase transition from amorphous to polycrystalline hexagonal wurtzite structure was observed the best at annealing temperature of 500 0C. Also, X-ray flourescence (XRF) parameters of samples such as Kß-to-K? X-ray intensity ratios and K shell fluorescence cross-sections were determined. The samples for XRF parameters measurement were excited by 59.5 keV X-rays from a 10 mCi 241Am annular radioactive point source. K X-rays emitted by samples were counted by an Ultra-LEGe detector with a resolution of 150 eV at 5.9 keV. Kß-to-K? X-ray intensity ratios and K shell fluorescence cross-sections of Zn element at ZnO thin film samples have changed depending on influence of increasing heat annealing treatment. The measured values have been compared with the theoretical predictions and experimental values of pure Zn element.

Benzer Tezler

  1. Çinko-oksit (ZnO) ince filmlerin sentezlenmesi ve fotovoltaik özelliklerinin incelenmesi

    Synthesis and investigation of photovoltaic properties of zinc-oxide thin films

    AHMET MUHAMMED AKBAŞ

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2015

    EnerjiHacettepe Üniversitesi

    Nanoteknoloji ve Nanotıp Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. ABDULLAH CEYLAN

  2. ZnO tabanlı katmanlı ince filmlerin hazırlanması ve karakterizasyonu

    Preparation and characterization of ZnO-based layered thin films

    SEVCAN ERCAN

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2023

    Fizik ve Fizik MühendisliğiBurdur Mehmet Akif Ersoy Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. EBRU GÜNGÖR

  3. ZnO tabanlı fotodedektör tasarımı, fabrikasyonu ve karakterizasyonu

    Design, fabrication and characterisation of a ZnO-based photodetector

    ÜMİT DOĞAN

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2020

    Fizik ve Fizik Mühendisliğiİstanbul Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    DR. ÖĞR. ÜYESİ KAMURAN KARA

  4. Galyum katkılı çinko oksit ince filmlerin karakterizasyonu ve üretim parametrelerinin ince filmlere olan etkilerinin incelenmesi

    Characterization of gallium doped zinc oxide thin films and investigation of the effect of growth parameters on the thin films

    ENVER KAHVECİ

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2017

    Bilim ve TeknolojiHacettepe Üniversitesi

    Nanoteknoloji ve Nanotıp Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. FİLİZ BETÜL KAYNAK

  5. ZnO-TiO2-SiO2 ince filmlerin sol-jel ile sentezlenmesi ve karakterizasyonu

    Synthesis and characterization of ZnO-TiO2-SiO2 thin films with sol-gel

    ENES FURKAN GÜRSES

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2022

    Makine MühendisliğiHarran Üniversitesi

    Makine Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. BÜLENT AKTAŞ