Yarıiletken malzemelerde difüzyon ve geçiş sığalarının deneysel bir yöntemle belirlenmesi ve sıcaklığa bağlılıklarının incelenmesi
In semiconductor materials the determination of junction and diffusion capacitance using an experimental method and the investigation of theirs depending on the temperature
- Tez No: 315630
- Danışmanlar: YRD. DOÇ. DR. TEOMAN YILDIZ
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Diyodlar, Kapasite, Yarı iletkenler, p-n eklemler, Diodes, Capacity, Semiconductors, p-n junctions
- Yıl: 2012
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Ege Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Genel Fizik Bilim Dalı
- Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.
Özet
Bu tezde, bir diyodun eklem kapasitesi ölçülmüştür. p-n eklemiyle ilgili iki tip kapasite vardır: birincisi eklem kapasitesi, ikincisi ise difüzyon kapasitesidir. Eklem kapasitesi ters yöonde kutuplanma gerilimi altında baskın iken difüzyon kapasitesi eklem ileri yönde kutuplandığı zaman baskındır(Streetman 1995). Eklem kapasitesi değerleri, bir titreşim devresinde rezonans frekansı oluşturularak hesaplanmıştır. Bu değerler deneysel ve teorik olarak bulunup karşılaştırılmıştır ve birbirleriyle tutarlı oldukları görülmüştür. Ayrıca, difüuzyon kapasitesi değerleri de bir RLC ölçer kullanılarak direkt olarak ölçülmüş ve sıcaklığa bağlı değişimleri incelenmiştir.
Özet (Çeviri)
In this thesis, we have measured junction capacitance for a diode. There are two types of capacitance related to a p-n junction: one is the junction capacitance, and the other is the diffusion capacitance. The junction capacitance is dominant under reverse bias voltages while the diffusion capacitance is dominant when the junction is forward bias (Streetman 1995).Junction capacitance values have been calculated by making use of resonance frequency that occurs at a vibration circuit. These values have been evaluated comparing theoretically and experimentally. We have seen that experimental and theoretical values are consistent. Also, we have measured diffusion capacitance directly using RLC meter and these values have been investigated depending on the temperature.
Benzer Tezler
- Detection and classification of faults on the dc side of photovoltaic systems using logistic model tree algorithm
Lojistik model ağacı algoritması ile fotovoltaik sistemlerin dc tarafındaki hataların tespiti ve sınıflandırılması
BOĞAÇ OĞUZ TOĞAY
Yüksek Lisans
İngilizce
2024
Enerjiİstanbul Teknik ÜniversitesiEnerji Bilimi ve Teknolojileri Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. COŞKUN FIRAT
- Optimization of optical and electrochemical properties of PANI, PEDOT conducting polymers to design electrochromic device
PANI, PEDOT iletken polimerin elektrokromik cihaz tasarımı için optik ve elektrokimyasal özelliklerinin optimizasyonu
İSMAİL BÜTÜN
Yüksek Lisans
İngilizce
2018
Fizik ve Fizik Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiFizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. ESRA ÖZKAN ZAYİM
- Katodik ark plazma işlemi ile CrSi2 yarıiletken filmlerin üretimi
CrSi2 semiconductor film production via cathodic arc plasma deposition
BERİL KOZÇAZ
Yüksek Lisans
Türkçe
2012
Metalurji Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiMetalurji ve Malzeme Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. MUSTAFA ÜRGEN
- Hidrofilik vehidrofobik etkileşimlerin polimer metal komleks yapıları üzerindeki etkilerin döngülü voltametri ile incelenmesi
Investigation of the effects of hydrophobic and hydrophilic interactions on the structures of polymer- metal complexes by cyclic voltammetry
ARGUN TALAT GÖKÇEÖREN
Yüksek Lisans
Türkçe
2003
Kimyaİstanbul Teknik ÜniversitesiKimyagerlik Bilim Dalı
PROF. DR. CANDAN ERBİL
- Yüksek dielektrik sabitli yalıtkan filmlerin üretilmesi ve mos yapıda incelenmesi
Fabrication and characterization of high-k dielectric films in mos structure
AYŞE EVRİM SAATCİ
Doktora
Türkçe
2015
Fizik ve Fizik MühendisliğiYıldız Teknik ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. KUBİLAY KUTLU