Bizmut tabaka yapılı ferroelektrik ince filmlerde elektriksel özelliklere mikroyapının tesiri
Influence of microstructure on the electrical properties of bismuth layared structured ferroelectric thin films
- Tez No: 360653
- Danışmanlar: DOÇ. DR. MEHMET SAİT BOZGEYİK
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
- Yıl: 2014
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Kahramanmaraş Sütçü İmam Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Katıhal Fiziği Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Katıhal Fiziği Bilim Dalı
- Sayfa Sayısı: 84
Özet
Bu tez çalışmasında bizmut tabaka yapılı bir ferroelektrik olan SBT ince filmlerin mikroyapı (zerrelerin boyutu, şekli, morfolojisi, boyut dağılımları, sınırları, yüzey morfolojileri, farklı ikincil fazların oluşumu, gözenek yoğunluğu vb.), film/elektrot arayüzeyleri, kristalin yapı ve kristal kalitesi vb. özelliklerin akım-gerilim (I-V), kapasitans-gerilim (C-V), kutuplanma-gerilim (P-V) gibi elektriksel özelliklere olan etkisi araştırılmıştır. SBT ferroelektrik ince filmlere ait olan Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) mikroyapı görüntülerinden ve kristal yapı XRD verileri elektriksel özellikler P-V, C-V ve I-V verileriyle anlaşılmaya çalışılmıştır. Kısaca filmlerin mikroyapısı anlaşılarak elektriksel mekanizmalar ve özellikler yorumlanması verilerle beraber anlaşılmıştır.
Özet (Çeviri)
In this thesis it was investigated the influence of microstructure properties (like grain size, grain shape, size distributions, grain boundaries, porosity density, morphology, and film electrode interfaces), formations of secondary phases, and structure and quality of crystal of SBT thin film, which is a bismuth layered structure type ferroelectric, on the electrical properties such as current-valtage (I-V), capacitance-voltage (C-V) and polarization-voltage (P-V). Atomic Force Microscopy (AFM) microstructure picture and X-ray diffraction (XRD) data of SBT thin films were studied to understand the electrical properties by means of P-V, C-V, and I-V data. Briefly, by studing the microstructure of the film, insights into the interpretation of the electrical mechanisms and properties were understood together with data.
Benzer Tezler
- Temel prensı̇pler yöntemı̇ kullanarak ı̇kı̇ boyutlu yüzeyler üzerı̇nde nanokümelerı̇n büyütülmesı̇
Growth of nanocluster on two dimensional surface by using first principles methods
YELDA KADIOĞLU
Doktora
Türkçe
2019
Fizik ve Fizik MühendisliğiAydın Adnan Menderes ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. OLCAY ÜZENGİ AKTÜRK
- Sızdırmazlık cam bileşimlerinin geliştirilmesi, farklı yöntemlerle şekillendirilmesi ve karakterizasyonu
Development of sealing glass compositions, forming with different techniques and their characterization
MELİS CAN ÖZDEMİR YANIK
Doktora
Türkçe
2023
Metalurji Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiMalzeme Bilimi ve Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. SÜHEYLA AYDIN
DOÇ. DR. ESİN GÜNAY
- Yüksek manganlı çeliklerde alaşım elementlerinin mekanik özelliklere etkisi
Effect of alloying elements on the mechani̇cal properties of high-manganese steels
İSMAİL KANKAL
Yüksek Lisans
Türkçe
2025
Metalurji MühendisliğiSakarya ÜniversitesiMetalurji ve Malzeme Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. MEHMET UYSAL
DOÇ. DR. UĞUR GÜROL
- Al/Bi4Ti3O12/p-Si schottky bariyer diyotların sıcaklığa bağlı elektriksel karakterizasyonu
Temperature dependent electrical characterization of Al/Bi4Ti3O12/p-Si schottky barrier diodes
MERT YILDIRIM
Doktora
Türkçe
2014
Fizik ve Fizik MühendisliğiGazi ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. PERİHAN DURMUŞ
DOÇ. DR. MUHARREM GÖKÇEN
- Au(111) elektrotu üzerinde elektrokimyasal atomik tabaka epitaksi yöntemi ile Bi2S3 sentezi ve ilk tabakanın kinetiğinin incelenmesi
Synthesis of Bi2S3 on Au(111) electrode by electrochemical atomic layer epitaxy technique and investigated the kinetics of first layer
TUBA ÖZNÜLÜER