Geri Dön

Bizmut tabaka yapılı ferroelektrik ince filmlerde elektriksel özelliklere mikroyapının tesiri

Influence of microstructure on the electrical properties of bismuth layared structured ferroelectric thin films

  1. Tez No: 360653
  2. Yazar: NURVET KIRKGEÇİT
  3. Danışmanlar: DOÇ. DR. MEHMET SAİT BOZGEYİK
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
  7. Yıl: 2014
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Kahramanmaraş Sütçü İmam Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Katıhal Fiziği Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Katıhal Fiziği Bilim Dalı
  13. Sayfa Sayısı: 84

Özet

Bu tez çalışmasında bizmut tabaka yapılı bir ferroelektrik olan SBT ince filmlerin mikroyapı (zerrelerin boyutu, şekli, morfolojisi, boyut dağılımları, sınırları, yüzey morfolojileri, farklı ikincil fazların oluşumu, gözenek yoğunluğu vb.), film/elektrot arayüzeyleri, kristalin yapı ve kristal kalitesi vb. özelliklerin akım-gerilim (I-V), kapasitans-gerilim (C-V), kutuplanma-gerilim (P-V) gibi elektriksel özelliklere olan etkisi araştırılmıştır. SBT ferroelektrik ince filmlere ait olan Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) mikroyapı görüntülerinden ve kristal yapı XRD verileri elektriksel özellikler P-V, C-V ve I-V verileriyle anlaşılmaya çalışılmıştır. Kısaca filmlerin mikroyapısı anlaşılarak elektriksel mekanizmalar ve özellikler yorumlanması verilerle beraber anlaşılmıştır.

Özet (Çeviri)

In this thesis it was investigated the influence of microstructure properties (like grain size, grain shape, size distributions, grain boundaries, porosity density, morphology, and film electrode interfaces), formations of secondary phases, and structure and quality of crystal of SBT thin film, which is a bismuth layered structure type ferroelectric, on the electrical properties such as current-valtage (I-V), capacitance-voltage (C-V) and polarization-voltage (P-V). Atomic Force Microscopy (AFM) microstructure picture and X-ray diffraction (XRD) data of SBT thin films were studied to understand the electrical properties by means of P-V, C-V, and I-V data. Briefly, by studing the microstructure of the film, insights into the interpretation of the electrical mechanisms and properties were understood together with data.

Benzer Tezler

  1. Temel prensı̇pler yöntemı̇ kullanarak ı̇kı̇ boyutlu yüzeyler üzerı̇nde nanokümelerı̇n büyütülmesı̇

    Growth of nanocluster on two dimensional surface by using first principles methods

    YELDA KADIOĞLU

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2019

    Fizik ve Fizik MühendisliğiAydın Adnan Menderes Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. OLCAY ÜZENGİ AKTÜRK

  2. Sızdırmazlık cam bileşimlerinin geliştirilmesi, farklı yöntemlerle şekillendirilmesi ve karakterizasyonu

    Development of sealing glass compositions, forming with different techniques and their characterization

    MELİS CAN ÖZDEMİR YANIK

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2023

    Metalurji Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Malzeme Bilimi ve Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. SÜHEYLA AYDIN

    DOÇ. DR. ESİN GÜNAY

  3. Al/Bi4Ti3O12/p-Si schottky bariyer diyotların sıcaklığa bağlı elektriksel karakterizasyonu

    Temperature dependent electrical characterization of Al/Bi4Ti3O12/p-Si schottky barrier diodes

    MERT YILDIRIM

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2014

    Fizik ve Fizik MühendisliğiGazi Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. PERİHAN DURMUŞ

    DOÇ. DR. MUHARREM GÖKÇEN

  4. Au(111) elektrotu üzerinde elektrokimyasal atomik tabaka epitaksi yöntemi ile Bi2S3 sentezi ve ilk tabakanın kinetiğinin incelenmesi

    Synthesis of Bi2S3 on Au(111) electrode by electrochemical atomic layer epitaxy technique and investigated the kinetics of first layer

    TUBA ÖZNÜLÜER

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2001

    KimyaAtatürk Üniversitesi

    Kimya Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. ÜMİT DEMİR

  5. Monte Carlo simülasyonu ile radyasyondan koruyucu malzemelerde kullanılan bizmut, kurşun ve alternatif kompozit malzemelerin atenüasyon etkilerinin değerlendirilmesi

    Monte Carlo evaluation of the attenuation effects of bismuth, lead and alternative composite materials used in radiation protection

    GİZEM ŞİŞMAN

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2015

    Fizik ve Fizik MühendisliğiDokuz Eylül Üniversitesi

    Medikal Fizik Ana Bilim Dalı

    YRD. DOÇ. DR. HAKAN EPİK

    YRD. DOÇ. DR. AYŞEGÜL YURT