Geri Dön

Elektronik kartların saha verilerine dayalı güvenilirlik analizi

Reliability analysis of electronic boards based on field data

PDF İndir

  1. Tez No: 418991
  2. Yazar: SALİH VEHBİ CÖMERT
  3. Danışmanlar: YRD. DOÇ. DR. MUSTAFA ALTUN
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Elektrik ve Elektronik Mühendisliği, Electrical and Electronics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
  7. Yıl: 2015
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: İstanbul Teknik Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Elektronik ve Haberleşme Mühendisliği Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Elektronik Mühendisliği Bilim Dalı
  13. Sayfa Sayısı: 91

Özet

Teknolojik gelişmelerin hızlı ilerlediği, karmaşık sistemlerin geliştirilmesi ve müşterilerin kalite beklentisi, üreticileri yüksek kalitede ürünler çıkarmaya zorlamaktadır. Gelişen teknoloji ile elektronik sistemler, birçok ürünün vazgeçilmez bir bileşeni haline gelmiştir. Bu nedenle özellikle tüketici elektroniği alanındaki üreticiler başta olmak üzere çoğu alandaki üreticler için elektronik sistemlerin güvenilirliklerini doğru ve erken bir şekilde kestirmek, gerek tasarım safhasına geribesleme verebilmek ve gerekse garanti önlemlerini alabilmek adına büyük önem taşımaktadır. Elektronik sistemlerin, güvenilirlik kestirimleri için kullanılan yöntemler, hızlandırılmış testler, komponent bazında yapılan testler, kök neden simülasyonları ve saha verilerinin istatistiksel analizi yöntemleri olarak sınıflandırılabilir . Klasik hızlandırılmış testler maliyetli ve zaman alıcı olmaları nedeniyle günümüzün tüketici elektroniğinin hızlı geliştirmeyi amaçlayan politikalarına uygun düşmemektedir. Komponent ve alt sistemler için kök neden benzetimi öneren yöntemler, süreden tasarruf sağlasalar da bu tip benzetimlerin gerçek dünyaya uygun olmayan sonuçlar ürettiği olabilmektedir. Bu nedenle saha verilerinin analizi ile ulaşılacak bir güvenilirlik kestirimi, gerek saha verisinin, ürünün sahada görülen gerçek durumunu yansıtması gerekse az maliyetli ve zaman kazandırıcı olması sebebiyle, güvenilirlik kestirimi için iyi bir yöntem olarak ortaya çıkmaktadır. Bu çalışmada, Avrupa'nın en büyük beyaz eşya üreticilerinden birisine ait 4 adet beyaz eşya elektronik kartının yüksek satış ve dönüş sayılarına sahip, garanti verileri istatisksel yöntemlerle incelenmiştir. Arıza oranı (risk oranı), sahada çalışmakta olan bir sistemin anlık arızalanma olasılığı olarak tanımlanır. Beyaz eşya örneğinde olduğu gibi sahada çalışan ürün sayısının çok olduğu uygulamalarda, arıza oranı önemli bir güvenilirlik ölçütüdür. Bu çalışmada da arıza oranı fonksiyonları ve arıza oranı değerleri üzerinde çalışılmıştır. Çalışmanın temel amacı saha verilerinin analizi ile bir elektronik kart için arıza oranı eğrisini doğru ve kısa bir dönemi kapsayan saha verisi ile elde etmektir. Saha verilerinin değerlendirilmesinde önemli bir adım verinin doğru kaynaklardan doğru şekilde geldiğine emin olmak ve verinin bütünlüğünü korumaktır. Geniş çapta tüketiciye ulaşan ürünlerin geniş bir coğrafyaya da yayılacağı düşünülürse, saha verilerini düzgün şekilde elde etmek, güvenilirlik analizinin en önemli kısmını oluşturmaktadır. Ancak genellikle hatasız bir veri elde etmek neredeyse imkansızdır. Verideki hata sayısı fazla olduğunda ise deterministik ve istatistiksel analizin de yanlış sonuçlar vereceği açıktır. Bu nedenle saha verisinin istatistiksel analizden önce bir taramadan geçirilmesi ve hatalı olup olmadığının araştırılması gerekmektedir. Bu çalışmada Weibull dağılımı yardımıyla, gözlem süresi içindeki gizli hataların bulunduğu hatalı zaman aralığını, yaklaşık olarak bulmak için bir yöntem önerilmiştir. Bir sistemin sahadaki anlık arızalanma riski genellikle küvet eğrisi ile tasvir edilir. Saha verilerinin analizi veya hızlandırılmış test vb. herhangi bir yöntemle küvet eğrisinin tamamını kestirmek büyük ölçüde hatalara sebep olacaktır. Örneğin beklenen ömrü 10 yıl olan elektronik kartların garanti verisinin istatistiksel analizi ile yıpranma bölgesini kestirmek gerçekçi olmayacaktır. Bu nedenle bu çalışmada, garanti verisi kullanılarak, küvet eğrisinin ilk iki evresinin kestirimi yoluna gidilmiştir. Bu amaçla literatürde sık kullanılan Weibull-üstel birleşimi kullanılmıştır. Bu şekilde parçalı arıza oranı eğrilerinin güvenilirlik verisini modellemede kullanılması, bir değişim noktası problemini de beraberinde getirir. Değişim noktası problemleri istatistik alanında çeşitli veri tipleri için güncelliğini koruyan bir alandır. Problem tanımı, veri tipine ve değişimin arandığı ölçüte göre değişmektedir .Örneğin, aranan değişim, verinin uyduğu dağılım tipinin değişmesi ya da dağılım tipi aynı kalsa bile parametrelerinin değişmesi şeklinde tanımlanabilir. Güvenilirlik literatüründe, değişim noktası, çalışmakta olan donanım veya yazılıma ait hata verilerinin dağılımının belli bir süreden sonra değiştiği zaman olarak tanımlanır. Komponent ve kompleks donanım güvenilirliğinde ise değişim noktası, arıza oranının eğiliminde meydana delen değişimler olarak ele alınır. Bu çalışmada, değişim noktası problemine, elektronik karta ait saha verisinden yola çıkılarak istatiksel ve uygulanabilir bir çözüm üretilmiştir. Değişim noktası, arıza oranı eğrisinin erken hata evresinden, faydalı ömür evresine geçiş noktası olarak alınmıştır. Bu çalışmada saha verisi analizi yapılırken uzun dönem ve kısa dönem olmak üzere iki tip veri öngörülmüştür. Bol örnek sayılı ve uzun bir süreyi kapsayan (uzun dönem) bir saha verisinden, iki parçalı (iki dağılımlı) veya tek parçalı (tek dağılımlı) arıza oranı eğrisine istatistiksel yöntemlerle ulaşılmaktadır. Ancak parametrik veya parametrik olmayan klasik yöntemlerle yapılan bu kestirimler, tüm saha verisini kullanırken, çok kısa bir gelecek için gerçekçi olmaktadırlar. Beyaz eşya gibi sahaya çıkışların yüksek sayıda olduğu uygulamalarda, yeni sahaya çıkmış bir ürün hakkında, ona ait saha verisini kullanarak, bir kestirim yapabilmek büyük önem taşımaktadır. Bu çalışmada 3 aylık kısa dönem saha verisinden 36 aylık güvenilirlik kestirimi yapılmasını amaçlayan bir yöntem önerilmiştir. Metodun temeli önceki nesil benzer ürünlere ait istatistiklere dayanmaktadır. Benzer tasarıma sahip kartlar aile olarak adlandırılmış ve aynı aileye mensup kartların benzer güvenilirlik istatistiklerine sahip oldukları görülmüştür.

Özet (Çeviri)

The rapid developments in electronics, especially in the last decade, have elevated the importance of electronics reliability More complex electronic systems and their widespread usage, spanning almost all large industrial fields, requires high reliability. This demand reveals a need for an accurate and early reliability prediction to give feedback for the design and warranty precautions. There are many suggested methods to predict reliability of electronics in the literature such as using accelerated life tests, component based numerical and probabilistic simulations, and statistical field data based methods. Conventional accelerated reliability test do not meet the demands of today's very rapid electronic product cycles; they are time consuming and expensive . Using simulations for components and systems is another option, which is time saving, but simulation test data never reflects the real-world performance of the product and results in accuracy problems for various failure mechanisms . Therefore, laboratory and simulation data based predictions can be deceptive for many applications. This underlines the importance of using the product's field return data for reliability analysis that is relatively accurate, cheap and time saving. If one assumes that the return data is error free then it is not difficult to claim that it is the most trustworthy data in analyzing reliability of a product compared to accelerated test or simulation based data. However, in reality field return data contains errors corresponding to improper, correlated, incomplete, and poorly collected data that result in misleading reliability predictions. In this study, a systematic approach based on Weibull analysis to eliminate errors from field return data is proposed. In the elimination process, two types of errors are defined : obvious and hidden errors. Obvious errors are the errors that can be easily determined with applying one-by-one data check. Changing data orderings make this process even faster. Examples for such errors are unknown assembly dates, invalid time-to-failure values, and quality related errors. In contrary to the obvious errors, hidden errors and their probable sources cannot be directly determined from the data. Examples for hidden errors are significant changes in product manufacturing process, data loss, and inappropriate data recording in services. Hidden errors are fatal and overwhelm obvious errors in terms the number of occurrences. This obligates us to eliminate hidden errors before starting statistical analysis. After, debuging field data, prediction model is based on the Weibull-exponential piecewise hazard rate scheme considering early failure and useful life phases of the boards. This scheme is preferred for products not getting into the wear-out region during their warranty times or anticipated lives. Electronic boards, studied in this work, fall into these product groups. Electronic boards are expected to work at least 10-15 years with a warranty period of at most 5 years. Using a piecewise hazard rate function for reliability modelling is a well-studied subject in the reliability and statistics literature. This includes the determination of the turning/change time often called as the change point problem .Different approaches are proposed to solve this problem . Studies exploiting parametric change point analysis of non-monotonic hazard rate functions consider the change point as a parameter and propose statistical estimation methods including maximum likelihood, least squares, and Bayesian methods Additionally, non-parametric methods are studied widely. Regarding these problems, a practical yet accurate change point detection method is given by performing forward and backward data analysis with left and right truncated data. The given reliability prediction model has an input of either short- term or long-term field data corresponding to early failure and useful life phases of the boards, respectively. The output of the model is the reliability prediction covering the full warranty period which is 36 months in this study. In case of having long-term data, proposed practical change point method is directly applied to depict a hazard rate curve with Weibull and Exponential distributions using maximum likelihood and rank regression methods. In case of having short-term data, first it is investigated that how the Weibull shape parameter β varies with different time intervals of the field data. For this purpose it is used 36-month (full warranty period) of field data belonging to previous and/or current (if available) versions of the board. Then a mathematical function of beta is given in terms of time and board dependent parameters. Additionally, empirical findings and iteration methods are used to estimate other distribution parameters. Finally prediction model based on the developed Weibull-exponential scheme is constructed . This study contributes to an early reliability prediction methodology. A 36-month reliability prediction of a board can be made with its field data as short as 3 months. Conventional field data based reliability prediction methods, either parametric or non-parametric, have an important constraint .They can only predict very near future reliability of a product. In non-parametric analysis, it is not possible to accurately predict large time spans. In conventional parametric analysis, it is assumed that the failure mechanism of a system will be the same in contrary to real cases. Indeed, a product, consisting of many components, has different failure mechanisms for different operating time intervals corresponding to early failure, useful life, and wear-out regions. For example, with conventional methods one cannot predict the products reliability performance for the useful life period by using the data from the early failure period. With the proposed methodology, this problem is overcome considerably . Four different data sets belonging to four different boards Board-B, Board-E, Board- F, and Board-K are used. The field data contains assembly and return dates for each warranty call. Warranty period of the boards is 3 years. The maintenance policy for electronic boards under this study is to replace the board with a new one in any suspected case such as stopping from time to time or breaking down entirely in the field. Therefore the analyzed data has no record of repaired boards. The proposed methodology, illustrated, has an input of a new board's field data classified as long-term or short-term that is determined by applying the proposed forward and backward data analysis. If the analysis results in a change point that separates early failure and useful life regions then it is called the input data as the long-term data that is modelled with Weibull and exponential distributions. In this case, reliability prediction is achieved by using the exponential distribution that is expected to keep its validity until the end of the warranty period. If the analysis results in a single distribution, no change point found, then it is called the input data as the short-term data. In this study a framework that connects the prior knowledge based on an old board with a new one is used. The evaluation of the field data of an old board goes in forward time spans in order to obtain time dependent behavior of the Weibull β parameter. Ideally, a specific component or a material is expected have its own constant β that is time independent. However, similarly for most of the electronic applications, electronic boards consist of hundreds of different components/elements. Some of these elements such as integrated chips are almost perfectly reliable throughout the early failure phase that results in β >1. On the other hand, the components, especially used in power supply and mechanical control blocks which face much more stress, have serious early reliability issues that results in β

Benzer Tezler

  1. Tez No

    439447

    Reliability analysis of electronic boards: analyzing of field return data and the impact of varistor degradation

    Elektronik kartların güvenilirliği: Saha verilerın analizi ve varistorun bozunma etkisi

    HADI YADAVARI

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2016

    Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Kontrol ve Otomasyon Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. SERHAT İKİZOĞLU

    YRD. DOÇ. DR. MUSTAFA ALTUN

  2. Tez No

    846836

    Assessment of urbanization history of Addis Ababa city, Ethiopia

    Addıs Ababa cıty, Ethıopıa'nın kentleşme tarihinin değerlendirilmesi

    ABDURAHMAN HUSSEN YIMER

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2023

    Şehircilik ve Bölge PlanlamaMersin Üniversitesi

    Şehir ve Bölge Planlama Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. ALİ CENAP YOLOĞLU

  3. Tez No

    792999

    K bant ve C bant frekans modülasyonlu sürekli dalga radarı tasarımı ve gerçeklenmesi

    Design and implementation of K-band and C-band frequency modulated continuous wave radar

    ABDULKADİR GEYLANİ KÜÇÜKOĞLU

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2023

    Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Savunma Teknolojileri Ana Bilim Dalı

    DR. ÖĞR. ÜYESİ RAMAZAN YENİÇERİ

  4. Tez No

    323733

    Design and optimization of radon field monitor based on silicon PIN photodiodes

    Silikon PIN fotodiyot bazlı radon saha monitörü dizayn ve optimizasyonu

    AHMET BAYRAK

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2012

    Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Fizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. CENAP Ş. ÖZBEN

  5. Tez No

    68230

    Elektromanyetik uyumluluk için baskılı devre kartlarından kaynaklanan emisyonların modellenmesi

    Modelling on emission origins from PCB for EMC

    BEKTAŞ ÇOLAK

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1997

    Elektrik ve Elektronik MühendisliğiSakarya Üniversitesi

    Elektrik-Elektronik Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. OSMAN ÇEREZCİ

Geri Dön