Tek katlı ince palladyum filmlerinin özdirencine film kalınlığı ve sıcaklığın etkileri
Başlık çevirisi mevcut değil.
- Tez No: 50623
- Danışmanlar: DOÇ.DR. NURCAN ARTUNÇ
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Tanecik-sınır saçılması, elektriksel özdirenç, Grain-boundary scattering, electrical resistivity
- Yıl: 1996
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Ege Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: 41
Özet
IV ÖZET TEK KATLI İNCE PALLADYUM FÎLMLERÎN ÖZDÎRENCÎNE FÎLM KALINLI?I VE SICAKLI?IN ETKlLERÎ TÜTÜNCÜ, Şerife Yüksek Lisans Tezi, Fizik Bölümü Tez Yöneticisi: Doç.Dr.Nurcan Artunç Temmuz 1996, 44 sayfa Bu çalışmada, 100-300 K sıcaklık aralığında, kalınlıkları 6.7-56.5 nm arasında değişen tek katlı polikristal palladyum filmlerin özdirencinin film kalınlığına ve sıcaklığa bağlı değişimi incelenmiştir. Ölçüm sonuçlan, Pd film örneklerin özdirencinin sıcaklıkla ve azalan film kalınlığı ile arttığını ortaya koymuştur. Özdirenç verileri Mayadas-Shatzkes'in tanecik-sınır saçılma modeli ile analizlenmiştir. Analiz sonuçlarından, çalışılan tüm sıcaklık ve film kalınlığı aralığı için, tanecik sınırlarından saçılan elektronların ortalama yansıma katsayısı değeri R=0.81 olarak hesaplanmıştır. Elektronların ortalama yansıma katsayısının deneysel değeri ise R=0.80 olarak bulunmuştur.
Özet (Çeviri)
ABSTRACT THE EFFECTS OF FILM THICKNESS AND TEMPERATURE ON THE ELECTRICAL RESISTIVITY OF SINGLE-LAYERED THIN PALLADIUM FILMS TÜTÜNCÜ, Şerife Thesis of MSc in Science Supervisor: Assoc. Prof. Dr. Nurcan Artunç July 1996, 44 pages The temperature and thickness dependence of the electrical resistivity of the single-layered palladium films of which have thicknesses of 6.7-56.5 nm is studied in the temperature range from 100 to 300 K. The resistivity measurements have shown that the electrical resistivity of Pd films increases with both temperature and decreasing film thickness. The resistivity data have been analysed solely in terms of grain-boundary scattering model of Mayadas and Shatzkes. From our analysis, the average reflection coefficient R of the electrons scattered by the grain boundaries is derived to be 0.81 over the whole temperature and thickness range studied. It is found an experimental value of reflection coefficient R=0.80.
Benzer Tezler
- Au, Ag, Pd ve Ho katkılı Y3Fe5O12 ince filmlerinin üretilmesi, manyetik ve optik özelliklerinin araştırılması
Fabrication of Au, Ag, Pd and Ho doped Y3Fe5O12 thin films and investigation of their magnetic and optical properties
NAZAN DEMİRYÜREK PAKSOY
Doktora
Türkçe
2024
Fizik ve Fizik MühendisliğiÇukurova ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. AHMET EKİCİBİL
DOÇ. DR. MUSTAFA AKYOL
- Thickness effects in hydrogen sorption of magnesium/palladium thin films
Magnezyum-paladyum ince filimlerde kalınlığın hidrür kararlığına etkisi
AYSHE GHAREMESHG GHARAVİ
Yüksek Lisans
İngilizce
2012
Metalurji MühendisliğiOrta Doğu Teknik ÜniversitesiMetalurji ve Malzeme Mühendisliği Bölümü
PROF. DR. TAYFUR ÖZTÜRK
- Platin ve paladyum çözümlendirme ve Pt-Pd alaşımlarından saf metal üretimi
Platinum and palladium dissolving and production of pure metals from Pt-Pd alloys
YASEMİN KILIÇ
Yüksek Lisans
Türkçe
2014
Metalurji Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiMetalurji ve Malzeme Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. SERVET İBRAHİM TİMUR
- Tek katlı ince filmlerin optik özelliklerinin Swanepoel modeli ile belirlenmesi için yazılım geliştirilmesi
Development of a Swanepoel model based software for determination of the optical properties of single layer thin films
ÇAĞRI KÖSE
Yüksek Lisans
Türkçe
2017
Fizik ve Fizik MühendisliğiHacettepe ÜniversitesiFizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. ABDULLAH CEYLAN
- TiN ve TiO2 ince filmlerinin hazırlanması ve optik özelliklerinin incelenmesi
Preparation of tin and TiO2 thin films and investigation of their optical properties
AYŞE BEGÜM ARIĞ
Yüksek Lisans
Türkçe
2010
Fizik ve Fizik MühendisliğiHacettepe ÜniversitesiFizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. HÜSEYİN ZAFER DURUSOY