Geri Dön

Güç kuvvetlendirici performansı üzerine yorulmuş MOSFET etkisinin incelenmesi

Investigation of degraded MOSFET effect on power amplifier performance

  1. Tez No: 507866
  2. Yazar: MEHMET AKİF MEYDANCI
  3. Danışmanlar: DOÇ. DR. YASİN ÖZÇELEP
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Elektrik ve Elektronik Mühendisliği, Electrical and Electronics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
  7. Yıl: 2018
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: İstanbul Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Elektrik-Elektronik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Elektrik Elektronik Mühendisliği Bilim Dalı
  13. Sayfa Sayısı: 100

Özet

Günümüz elektronik endüstrisinde en çok kullanılan yarıiletken elemanlardan olan güç MOSFET'lerinin çalışma süreleri boyunca maruz kaldıkları farklı bozulma mekanizmaları bulunmaktadır. Bu bozulma mekanizmaları güç MOSFET'lerinin çalışma değerlerini etkileyerek beklenen çalışma performanslarının alınamamasına sebep olmaktadırlar. Bu etkiler, güç MOSFET'lerinin çoğunlukla içinde yer aldığı elektronik uygulamaların da davranış biçimlerini doğrudan belirlemektedirler. Bu etkilerin doğru şekilde yorumlanabilmesi için çalışma ömrü boyunca oluşan değişimler incelenmekle birlikte, hızlandırılmış testlerin yardımıyla bozulma etkilerinin değişiminin incelenmesi de önemli bir yer tutmaktadır. Bu çalışmada güç kuvvetlendiricilerinin, güç MOSFET'lerinin yorulma etkisiyle beraber, gösterdikleri değişim incelenmiştir. Farklı güç kuvvetlendirici topolojileri için, güç MOSFET'lerine yüksek gerilim yorma metodu ile hızlandırılmış testler uygulanıp, sonuçlar araştırılmıştır. Yapılan ölçümler ve elde edilen sonuçlar sayesinde, farklı güç kuvvetlendirici sınıfları için erken bozulma etkilerinin göz önünde bulundurulmasıyla daha güvenilir elektronik uygulamaların ortaya çıkmasına katkı sağlanacaktır.

Özet (Çeviri)

Power MOSFETs which are widely used semiconductors in today electronics industry have been exposed to different failure mechanisms during their life cycle. These failure mechanisms are causing not able to obtain expected operation performances by affecting power MOSFET operation parameters. These effects directly determine behaviour of power MOSFETs, which are commonly used in electronic applications. Along with the changes occurred during the life cycle are investigated to understand these effects, investigation of failure mechanisms with the help of accelerated tests also take important place. In this work, performance changes of power amplifiers which contains degraded power MOSFET effect have been investigated. Accelerated tests with high voltage stress method are applied to power MOSFETs for different power amplifier topologies and outputs have been analysed. Thanks to the measurements made and the results obtained, it will be contributed to the development of more reliable electronic applications by considering the early wear-out effects for different power amplifier classes.

Benzer Tezler

  1. First order noise shaping sar adc with a novel sc filter

    Özgün anahtarlamalı kondansatör filtreli birinci derece gürültü şekillendiren ardışıl yaklaşımlı analogdan sayısala dönüştürücü

    HÜSEYİN OZAN GÜLEÇ

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2020

    Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Elektronik ve Haberleşme Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    DR. ÖĞR. ÜYESİ İSMAİL ÇEVİK

  2. Low-voltage low-power design and implementation of current-mode circuits

    Düşük besleme gerilimli düşük güç tüketen akım-modlu devrelerin tasarımı ve gerçeklenmesi

    CEM ÇAKIR

    Doktora

    İngilizce

    İngilizce

    2010

    Elektrik ve Elektronik MühendisliğiBoğaziçi Üniversitesi

    Elektrik-Elektronik Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. OĞUZHAN ÇİÇEKOĞLU

  3. A 14-bit 100-kHz continuous-time delta-sigma analog-to-digital converter for Hall effect based current sensor application

    Hall etkisi bazlı akım sensörü uygulaması için 14-bit 100-kHz sürekli zamanlı delta-sigma analog dijital çevirici

    ALPER GİRGİN

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2017

    Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Elektronik ve Haberleşme Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    YRD. DOÇ. DR. TUFAN COŞKUN KARALAR

  4. Performance assessment of nonlinear active devices to design broadband microwave power amplifiers via virtual gain optimization

    Doğrusal olmayan aktif elemanların performans analizi ve sanal kazanç optimizasyonuyla genişbandlı mikrodalga güç kuvvetlendiricisi tasarımı

    SEDAT KILINÇ

    Doktora

    İngilizce

    İngilizce

    2023

    Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Elektronik ve Haberleşme Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. İSMAİL SERDAR ÖZOĞUZ

    PROF. DR. BEKİR SIDDIK BİNBOĞA YARMAN

  5. Quadrature signal generation in 5-6GHz range using SiGe BICMOS process

    5-6GHz aralığında SiGe BICMOS proses kullanılarak 90 derece faz farklı işaret üretimi

    PINAR TAŞCI

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2002

    Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Elektronik ve Haberleşme Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. ALİ TOKER