Düzlem malzemelerin ekranlama özelliklerinin ölçümü için TEM hücre tasarımı
Design of a TEM cell for the measurement of shielding properties of planar materials
- Tez No: 521494
- Danışmanlar: PROF. DR. BİRSEN SAKA TANATAR
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Elektrik ve Elektronik Mühendisliği, Electrical and Electronics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
- Yıl: 2018
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Hacettepe Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Elektrik-Elektronik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: 100
Özet
Ekranlama etkinliği ölçümlerinde kullanılacak yöntem belirlenirken, ekran malzemesinin büyüklüğü ve şekli ile birlikte maliyet, uygulanabilirlik, zaman tüketimi ve malzemenin kullanılacağı frekans aralığı özellikleri dikkate alınmaktadır. Boş uzay ve ekranlı oda yöntemleri en temel ekranlama etkinliği ölçüm yöntemlerindendir. Ancak, kullanılan yansımasız test odalarının ve test düzeneği donanımlarının oldukça maliyetli olması nedeniyle yeni yöntemlerin geliştirilmesi ihtiyacı doğmuştur. Bu bağlamda, ekran malzemesinin büyüklüğü ve şekli göz önünde bulundurulduğunda, düzlem malzemelerin küçük boyutlarda numunelerinin alınarak testlerde kullanılabilmesi uygulanabilirlik ve maliyet açısından kazanç sağlamaktadır. Tüm bu nedenlerden dolayı, düzlem malzemelerin ekranlama etkinliği değerlendirilirken eş eksenli iletim hattı yöntemleri ve ikili TEM hücresi yöntemi gibi daha düşük maliyetli ve yapısal olarak daha basit yöntemler geliştirilmiştir. Bu çalışma kapsamında ikili TEM hücresi metodundan farklı olarak, iletim yoluyla ekranlama etkinliği yöntemini benimseyen tek bir TEM hücresinin eş iki parça halinde kullanılması ile ortaya çıkan Ayrık TEM hücresi (TEM-t) metodu üzerinde çalışılmıştır. TEM hücresi yapısal olarak orta noktasından simetrik bir şekilde ikiye ayrılmıştır. Test edilen ekran malzemeleri iletim hattının orta noktasına yerleştirilir. Hem referans hem de test edilen ekran malzemesi ile birlikte yapılan ölçümler sonucunda ekranlama etkinliği ölçümlerinin gerçekleştirilmesi amaçlanmıştır. Bu çalışma ile, ayrık TEM hücresi üretilmiştir. Bu çalışmanın amacı ise küçük boyutlardaki düzlem malzemelerin ekranlama özelliklerini, tasarımı ve üretimi gerçekleştirilen TEM-t hücreleri ile analiz etmektir.
Özet (Çeviri)
When determining the method to be used in shielding effectiveness measurements, the size and shape of the screen material together with the cost, applicability, time consumption and frequency range characteristics to be used in for the screening material are taken into account. Free space and shielded box methods are the most basic methods of shielding effectiveness measurement. However, the need for the development of new methods has arisen, as the use of anechoic test chambers and testing equipment is costly. In this context, considering the size and shape of the screen material, the ability to use the small size samples of the planar materials in the tests provides benefits in terms of applicability and cost. For all these reasons, lower cost and structurally simpler methods such as the coaxial holder method and the dual TEM cell method have been developed while evaluating the shielding effectiveness of plane materials. In this study, unlike the dual TEM Cell method, a single TEM Cell was used in two identical parts called the flanged TEM Cell (TEM-t) method. TEM Cell is structurally divided into two symmetrically parts from the midpoint. Test samples are placed at the midpoint of the transmission line. It is aimed to perform shielding effectiveness measurements as a result of the measurements performed with both the reference and the sample materials. With this study, a flanged TEM cell was produced. The purpose of this study is to analyze the screening properties of small sized planar materials with TEM-t cells that are designed and manufactured.
Benzer Tezler
- Magnetorezistiv malzemelerin ekranlama özelliklerinin araştırılması
Shielding properties research of magnetoresistive materials
NUH YALÇIN
Doktora
Türkçe
2006
Elektrik ve Elektronik MühendisliğiGebze Yüksek Teknoloji EnstitüsüFizik Ana Bilim Dalı
PROF.DR. BEKİR AKTAŞ
- Alçak frekanslı elektromagnetik alanların ekranlanması
Shielding of low frequency electromagnetic fields
MELİH PANCAR
Yüksek Lisans
Türkçe
1999
Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiDOÇ.DR. ÖZCAN KALENDERLİ
- Mechanical properties of boron nanotubes
Bor nanotüplerin mekanik özellikleri
ERDEM ÇALIŞKAN
Yüksek Lisans
İngilizce
2021
Makine Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiMakine Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. MESUT KIRCA
- Açık-kapalı forma sahip tem hücre tasarımı ve düzlem malzemelerin ekranlama etkinliklerinin ölçümü
Open/closed formed tem cell design and measurement of shielding effectiveness of planar materials
ESRA NURGÜN
Yüksek Lisans
Türkçe
2024
Elektrik ve Elektronik MühendisliğiHacettepe ÜniversitesiElektrik ve Elektronik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. BİRSEN SAKA TANATAR
- Paslanmaz çeliklerin düzlem yüzey frezelemede talaşlı işlenebilirliğinin incelenmesi
Investigation machinability of stainless steels in face milling
MEHMET ETİK
Yüksek Lisans
Türkçe
2004
Makine MühendisliğiMarmara ÜniversitesiMakine Eğitimi Ana Bilim Dalı
Y.DOÇ.DR. SENAİ YALÇINKAYA