Geri Dön

Elektrooptik sapma aygıtı ve özellikleri

Başlık çevirisi mevcut değil.

  1. Tez No: 58108
  2. Yazar: HALİDE ŞAHAN ŞENGÜL
  3. Danışmanlar: PROF. DR. GÜLTEN GÜNEL
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
  7. Yıl: 1996
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Çukurova Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: 73

Özet

Gptoelektronik, ışığın gaz, sıvı veya katı haldeki madde ile etkileşmelerini ve bu etkileşmelerden yararlanan aygıtları konu edinen ve hızla gelişmekte olan bir fen dalıdır. Bu alanda yapılan araştırmaların amacı, büyük hızla çalışabilen optik bilgisayarların ve optiksel kayıt ve depolama için yeni ortamların geliştirilmesidir. Önemli optiksel metatyellerin çoğu anisotropık kristallerdir. Başka bir deyişle, kristalin kırılma indisi, kristal içindeki doğrultuya bağlı olarak değişir. Elektrooptik aygıtların tasarım ve yapımında kristal içinde kırılma indieideğerierinin dağılımını bilmek çok önemlidir. Bu nedenle, bu çalışmanın büyük bölümü, camların ve kristallerin kırılma indislerinin ölçüm ve hesaplanmasından oluşmaktadır. Kristallerin kırılma indis değerleri, prizmatik ve interferometrik yöntemler' ile ölçülmüştür. Farklı kalınlıklar daki camların kırılma indisleri, Brewster açısı ve çoklu yansıma yöntemleri ile ölçülmüştür. Polarizör, analizör, lazer ve Fabry Perot interferometresi gibi deneysel araçlar kullanılmıştır. LiNbO'3 ve LiTaOj kristallerininnormal ve anormal kırılma indisleri ölçülmüş ve bunların ışığın dalga boyuna bağlılığı incelenmiştir. Brewster açısı yöntemiyle ölçülen kırılma indisi değerlerinin, çoklu yansıma yöntemiyle ölçülen değerlerle bir uyuşma içinde olduğu gözlenmiştir.

Özet (Çeviri)

Optoelectronics is a rapidly developing branch of science dealing with the interaction of light with matter in gaseous, lkfiid or solid form and devices which depend on these interactions. Research in this area is mainly concerned with the development of high speed optical computers and new media for optical recording and data storage. Many important optical materials are anisotropic crystals in other words the refractive index of the crystal varies with the direction in the crystal. İt is very important to know the distribution of the refractive index values within the crystal in the designing and manufacturing of the elect o-optie devices. For this reason the major part of this work consists of the measurement and determination of the refractive index values of glassses and crystals. The refractive index values of crystals were measured by prismatic and interferometric methods. The refractive index values of glasses of different thicknesses were measured by Brewster angle and multiple reflection methods. The experimental apparatus such as polarizer, analyzer, laser and Fabry Perot interferometer were used. The ordinary and extraordinary refractive index values for LiNb03 and LiTa03 crystals were measured and the dependence of these values to the wavelength of the light was investigated. İt was observed that the refractive index values measured by Brewster angle method were in good agreement with the values measured by multible reflection method

Benzer Tezler

  1. Wide speed sensorless control of PMSM drive with smooth transition between HFSİ and extended luenberger observer

    Yüksek frekanslı sinyal enjeksiyon ve genişletilmiş luenberger gözlemci arasında sorunsuz geçiş ile geniş hız aralığında SMSM sürücünün sensörsüz kontrolü

    MUSTAFA MUS AB AVCI

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2023

    Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Elektrik Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. SALİH BARIŞ ÖZTÜRK

  2. Raman spectroscopic investigations on monomeric deltahedral nanogermanide clusters and their condensed oligomeric and polymeric derivatives

    Tekiz dokuz atomlu germanyum gruplarının ve bunların türevleri olan çoklu ve polimer yapılarının Raman spektroskopiyle incelenmesi

    ASLIHAN KIRCALI

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2007

    KimyaKoç Üniversitesi

    Malzeme Bilimi ve Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF.DR. MEHMET SOMER

  3. Altın, palladyum ve platinin amberlite xad-7 dolgulu kolonla katı faz ekstraksiyonu

    Solid phase extraction of gold, palladium and platinum on a column filled amberlite xad-7

    EMEL BÜYÜKPATIR

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2000

    KimyaErciyes Üniversitesi

    Kimya Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. LATİF ELÇİ

    DOÇ. DR. MUSTAFA SOYLAK

  4. Siyanür tayini için yeni bir spektrofotometrik yöntem

    A new spectrophotometric method for determination of cyanide

    GÜLÇİN GÜMÜŞ

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2001

    Kimyaİstanbul Teknik Üniversitesi

    DOÇ. DR. BİRSEN DEMİRATA ÖZTÜRK

  5. Altının amberlit XAD-2000 kolonuyla zenginleştirilmesi

    Enrichment of gold by amberlit XAD-2000 column

    DERYA ŞAHAN

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2003

    KimyaPamukkale Üniversitesi

    Kimya Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. LATİF ELÇİ