Geri Dön

Laser-induced refractive index and birefringence control in silicon with advanced spatial laser modulation

Gelişmiş lazer demeti desenlendirme yöntemleri ile silisyum içerisinde kırıcılık indisi ve çift kırılma kontrolü

  1. Tez No: 880090
  2. Yazar: ALPEREN SALTIK
  3. Danışmanlar: DR. ÖĞR. ÜYESİ ONUR TOKEL
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
  7. Yıl: 2024
  8. Dil: İngilizce
  9. Üniversite: İhsan Doğramacı Bilkent Üniversitesi
  10. Enstitü: Mühendislik ve Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: 67

Özet

Madde içerisinde doğrusal olmayan ışık etkileşimlerinden faydalanılması, optik özellikler üzerinde kontrol sağlanması ve üç-boyutta işlevselleştirme açısından özgün kabiliyetler sunmaktadır. Silisyum (Si), elektronik, fotonik ve fotovoltaik için kritik bir malzeme olmakla birlikte, bu teknolojiler, son zamanlara kadar madde yüzeyi ile limitliydi. Mercek, optik ızgara, dalga kılavuzu ve hologramlar gibi son teknoloji optik elemanlar, nanosaniye lazer atımları ile yonganın derinliklerine, yüzeylere zarar vermeden üretilebildi. Bu üç-boyutlu fabrikasyon yöntemi, daha önce mümkün olmayan optik kabiliyetlerin üretimi ve elektronik-fotonik endüstrilerinde sonraki seviye entegrasyonu olanak sağlama potansiyeline sahiptir. Bu amaçla, gelişmiş fotonik işlevlerde kullanılması için madde gövdesinde optik karakterizasyon kabiliyeti gereklidir. Bu tezde, Si içerisinde ilk dalga-plakasına yol açan, özgün hacimsel karakterizasyon yöntemleri geliştirdik. Öncelikle bir faz mikroskobu kurduk ve olası hata kaynakları ve sıkı deneysel şartlar altında faz görüntülemesine olanak sağlayan bir algoritma geliştirdik [Saltik et al. Journal of Optics 26, 035604 (2024).]. Kırıcılık indisi karakterizasyon yeteneği yeni optik etkiler keşfetmemize de olanak sağladı. Faz mikroskobunun da kullanılmasıyla bir analitik stres modeli geliştirdik ve silisyum içerisinde lazer ile yazılan ilk dalga plakalarını gösterdik [Saltik, et al. Optics Letters 49, 49 (2024).]. Son aşama olarak, Airy, vorteks ve Bessel demetleri dahil olmak üzere, desenlendirilmiş lazer demetleri ile yeni fabrikasyon mimarilerini araştırdık [Sabet, et al., Nature Communications 15, 5786 (2024)].

Özet (Çeviri)

Exploiting nonlinear laser interactions within materials offers unique capabilities for exerting control on the optical properties, which can then be converted into three-dimensional (3D) functionality. Silicon (Si), a material critical for electronics, photonics, and photovoltaics technologies, was limited to surface applications until recently. Nanosecond laser pulses were used to create state-of-the-art optical elements, including lenses, gratings, waveguides, and holograms deep within the wafer, without altering the surface. This 3D fabrication paradigm has the potential to enable previously impossible optical capabilities and further integration of photonics and electronics industries. Towards this goal, one needs optical characterization capabilities within the bulk, which can then be leveraged for advanced photonic functionality. In this thesis, we developed novel methods for volumetric characterization, leading to the creation of the first wave-plate optics inside Si. We first built a phase microscope and developed an algorithm to enable phase imaging under general error sources and stringent experimental constraints [Saltik et al. Journal of Optics 26, 035604 (2024).]. The refractive index evaluation capability enabled us to discover a new optical effect, stress-induced birefringence within the bulk of Si. We developed an analytical stress model, which we combined with phase microscopy, to introduce the first laser-written wave plates to the bulk of Si [Saltik, et al. Optics Letters 49, 49 (2024).]. Further, we explored new fabrication architectures with spatially-modulated lasers, using vortex, Airy, and Bessel-type beam profiles. Finally, we apply the phase imaging capability to characterize emerging Bessel-beam written structures [Sabet, et al., Nature Communications 15, 5786 (2024)].

Benzer Tezler

  1. Silindirik odaklı lazer hüzmeleri ile yüzey temizleme ve cam işleme çalışmaları

    Surface cleaning and glass processing studies with cylindrical focused laser beam

    TUĞBA TUNAY

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2015

    Fizik ve Fizik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Fizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. SELÇUK AKTÜRK

  2. Numerical and experimental investigation on laser damage threshold of highly reflective multilayer thin films

    Çok katmanlı yüksek yansıtıcı özellikli ince filmlerin lazer hasar eşiğinin sayısal ve deneysel olarak incelenmesi

    MUSTAFA OCAK

    Doktora

    İngilizce

    İngilizce

    2016

    Makine MühendisliğiOrta Doğu Teknik Üniversitesi

    Makine Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    YRD. DOÇ. DR. CÜNEYT SERT

    DOÇ. DR. HANİFE TUBA OKUTUCU ÖZYURT

  3. Dispersion and waveguiding of ultraslow light in atomic Bose-Einstein condensates

    Atomik Bose-Einstein yoğuşuk maddesinde ultra yavaş ışığın dağınımı ve dalga kılavuzlanması

    DEVRİM TARHAN

    Doktora

    İngilizce

    İngilizce

    2007

    Fizik ve Fizik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    DOÇ.DR. NAZMİ POSTACIOĞLU

    DOÇ.DR. ÖZGÜR MÜSTECAPLIOĞLU

  4. Simulating atmospheric turbulence using a bubble model for free space optical communication links

    Serbest-uzay optik iletişim hatları için baloncuk modeli kullanarak atmosferik çalkantıların benzeştirimi

    DEMET YÜKSEL

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2013

    Elektrik ve Elektronik MühendisliğiBoğaziçi Üniversitesi

    Elektrik-Elektronik Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    YRD. DOÇ. DR. HEBA YÜKSEL

  5. Reduced hardware complexity for viscosity measurements by optical knife-edge detection on micropillar-based microfluidic chips

    Mikrosütun tabanlı mikroakışkan çipler üzerindeki optik bıçak kenarı tespiti ile viskozite ölçümleri için azaltılmış donanım karmaşıklığı

    EZGİ ŞENTÜRK

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2024

    Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Elektronik ve Haberleşme Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    DR. ÖĞR. ÜYESİ AHMET CAN ERTEN

    DOÇ. DR. ONUR FERHANOĞLU