Geri Dön

Saçılmış X-ışınları ile standardizasyon metodunun farklı seyrelticilerle hazırlanmış matrislerde incelenmesi

Investigation of the standardization method with scattered X-rays in matrices prepared with different diluters

  1. Tez No: 942083
  2. Yazar: ADEM KORKMAZ
  3. Danışmanlar: PROF. DR. DEMET YILMAZ
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
  7. Yıl: 2025
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Atatürk Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.

Özet

XRF'de farklı bağlayıcılar kullanılarak hazırlanmış matrislerde karakterisik ve saçılma piklerinin değişimi literatüre kazandırılacaktır. Bu çalışmada 22<Z<40 atom numaralı bir elementin oksitli bileşiği (MnO2) ve bağlayıcı olarak borikasit, toz şeker, nişasta ve selüloz kullanılarak hazırlanacak farklı matrisler için spektral şiddet oranlarının değerlendirilmesi düşünülmektedir. Mn K x-ışını ile Compton ve koherent saçılma piklerinin altındaki alanlar hesaplanarak ve farklı şiddet oranlarının seyreltilmiş numunlerin ortalama atom numarasıyla ilişkisi incelenmiştir. Belirli bir X-ışını enerjisinde hazırlanan örneklerin kütle soğurma katsayıları EpiXS programıyla hesaplanmıştır. Farklı seyrelticiler kullanılarak hazırlanmış matrislerin ortalama atom numaralarının saçılma şiddet oranları ile değişimleri grafik olarak çizilmiş elde edilen kalibrasyon eğrileri ve korelasyon katsayıları yorumlanmıştır. Soğurma ve şiddetlendirme etkilerini azaltmak üzere veya bu etkilerinden gelecek lineerlikten uzaklaşmayı telafi etmek bağlayıcı olarak H3BO3, nişasta, toz şeker ve selüloz kullanılabilir. Bu bileşiklerin seyreltme metoduyla MnO2 bileşiği ile oluşturulan farklı matrisli numunelerde, MnKα enerjisinde toplam saçılma şiddet oranları ile ortalama atom numarası arasında exponansiyel bir ilişki vardır. Ayrıca hazırlanan numune grubunun Icoh+IComp/(μ/ρ)(Kα) şiddet oranı ile ortalama atom numarası arasında üçüncü dereceden polinomal bir ilişki vardır. Elde edilen kalibrasyon eğrileri aynı matrisli numune gruplarında kalitatif analiz için kullanılabilir.

Özet (Çeviri)

The changes in characteristic and scattering peaks in matrices prepared using different binders in XRF will be added to the literature. In this study, it is planned to evaluate the spectral intensity ratios for different matrices to be prepared using the oxidized compound (MnO2) of an element with medium (22<Z<40) atomic number and boric acid, granulated sugar, starch and cellulose as binders. The areas under the Mn K X-ray and Compton and coherent scattering peaks were calculated, and the relationship between different intensity ratios and the mean atomic number was investigated. The mass attenuation coefficients of samples prepared at a specific X-ray energy were calculated using the EpiXS program. The changes in the average atomic numbers of the matrices prepared using different diluents with the scattering intensity ratios were plotted graphically and the resulting calibration curves and correlation coefficients were interpreted. H3BO3, starch, granulated sugar and cellulose can be used as binders to reduce the absorption and amplification effects or to compensate for the deviation from linearity that will come from these effects. In the samples with different matrices formed with the MnO2 compound by the dilution method of these compounds, there is an exponential relationship between the total scattering intensity ratios in the MnKα energy and the average atomic number. In addition, there is a third-degree polynomial relationship between the intensity ratio of Icoh+IComp/(μ/ρ)(Kα) of the prepared sample group and the average atomic number. The calibration curves obtained can be used for qualitative analysis in the same matrix sample groups.

Benzer Tezler

  1. Dokuma kumaşlarda örgü tipinin ham kumaşın boyutları ve geometrik özellikleri üzerindeki etkilerinin araştırılması

    Başlık çevirisi yok

    EMEL ÖNDER

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1985

    Tekstil ve Tekstil MühendisliğiEge Üniversitesi

    Tekstil Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. GÜNGÖR BAŞER

  2. Çoklu amaçların çözümlemesinde amaç programlaması ile genelleştirilmiş ters yaklaşımı ve yem sanayiinde bir uygulama

    Goal programming and generalieed inverse approaches in the multi-objective analysis and application in feed industry

    HASAN BAL

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    1986

    İstatistikGazi Üniversitesi

    İstatistik Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. FEVZİ KUTAY

  3. Pamuk ipliklerinde istatiksel bir hata analiz yönteminin geliştirilmesi üzerinde araştırmalar

    Başlık çevirisi yok

    AYŞE KARAKOR

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1986

    Tekstil ve Tekstil MühendisliğiEge Üniversitesi

    Tekstil Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. GÜNGÖR BAŞER

  4. Mesleki Eğitim Fakültesi Giyim Endüstrisi ve Giyim Eğitimi Bölümü“makina teknolojisi”dersinin değerlendirilmesi

    Başlık çevirisi yok

    FATMA ERAY

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1987

    Eğitim ve ÖğretimGazi Üniversitesi

    Giyim Endüstrisi ve Giyim Sanatları Ana Bilim Dalı

    YRD. DOÇ. DR. SEMİHA AYDIN