Simultaneous STM/ AC-AFM investigation of clean Si(001)-(2x1) surface and Ge epitaxial growth on Si(001)-(2x1)
Temiz Si(001)-(2x1) yüzeyi ve üzerine eşörgüsel Ge tabakası büyütülmüş Si(001)-(2x1) yüzeylerinin TTM/ temassız AKM eşzamanlı kullanılarak incelenmesi
- Tez No: 112544
- Danışmanlar: YRD. DOÇ. DR. AHMET ORAL
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Ultra Yüksek Vakum Sistemi, Taramalı Tünelleme Mikroskobu, Atomik Kuvvet Mikroskobu, Kuvvet-Uzaklık Tayfı, Eşörgüsel Büyüme. m, Germanyum, Silisyum, Spektrum, Vakum, Ultra High Vacuum, Scanning Tunnelling Microscopy, Atomic Force Microscopy, Force-Distance Spectroscopy, Epitaxial growth. u, Germanium, Silicon, Spectrum, Scanning tunnelling microscope, Vacuum
- Yıl: 2001
- Dil: İngilizce
- Üniversite: İhsan Doğramacı Bilkent Üniversitesi
- Enstitü: Mühendislik ve Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.
Özet
Özet TEMİZ Sİ(001)-(2xl) YÜZEYİ VE ÜZERİNE EŞÖRGÜSEL GE TABAKASI BÜYÜTÜLMÜŞ Sİ(001)-(2xl) YÜZEYLERİNİN TARAMALI TÜNELLEME MİKROSKOBU VE TEMASSIZ ATOMİK KUVVET MİKROSKOBUNUN EŞZAMANLI KULLANILARAK İNCELENMESİ Mehrdad Atabak Fizik Yüksek Lisans Tez Yöneticisi: Asst. Prof. Ahmet Oral Eylül 2001 Bu tez çalışmasında, taramalı tünelleme mikroskobu (TTM) ve temassız atomik kuvvet mikroskobu (temassız- AKM), temiz Si(001)-(2xl) yüzeylerinin ve üzerinde eşörgüsel büyütülmüş germanyum olan Si(001)-(2xl) yüzeylerinin incelenmesinde birlikte kullanılmıştır. TTM/temassız-AKM ve mikroskobun içine kurulduğu ultra yüksek vakum sistemi tanıtıldı. Bu mikroskobun temiz Si(001) yüzeyini ve üzerinde eşörgüsel germanyum büyütülmüş Si(001) yüzeyini ve Si (001) 'in kuvvet-uzaklık tayfını görüntülemekteki kapasitesi gösterildi.
Özet (Çeviri)
Abstract SIMULTANEOUS STM/NC-AFM INVESTIGATION OF CLEAN SI(001)-(2 x 1) SURFACE AND GE EPITAXIAL GROWTH ON SI(001)-(2 x 1) Mehrdad Atabak M. S. in Physics Supervisor: Asst. Prof. Ahmet Oral September 2001 In this thesis work, a combined Scanning Tunnelling Microscope and non- contact Atomic Force Microscope -STM/ncAFM- is used to investigate clean Si(001)-(2 x 1) and Ge epitaxial growth on Si(001)-(2 x 1) surfaces. The STM/nc-AFM and Ultra High Vacuum system (UHV) in which the microscope is installed, are also described. The capability of our new microscope to image the clean Si(001) and Ge epitaxial growth on Si(001) and force-distance spectroscopy on Si(001) is demonstrated.
Benzer Tezler
- Simultaneous scanning tunneling/atomic force microscopy investigation of diamond surfaces in ultra high vacuum
Elmas yüzeylerin eşzamanlı taramalı tünelleme/atomik kuvvet mikroskobu ile ultra yüksek vakumda incelenmesi
İPEN DEMİREL
Yüksek Lisans
İngilizce
2018
Fizik ve Fizik Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiFizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. HAKAN ÖZGÜR ÖZER
- Asenkron motorlar için algılayıcısız akı gözlemleyicisi ve kontrolü
Sensorless flux observer and controller for asynchronous motors
COŞKUN ŞAHİN
Doktora
Türkçe
1997
Bilgisayar Mühendisliği Bilimleri-Bilgisayar ve Kontrolİstanbul Teknik ÜniversitesiBilgisayar Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. METİN GÖKAŞAN
- 15 katlı betonarme bir yapının projelendirilmesi
The design of 15 storey reinforced concrete building
CEMALETTİN ERBAŞ
Yüksek Lisans
Türkçe
1997
İnşaat Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesiİnşaat Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. HALİT DEMİR
- A new method for data association in 3-d localization: One-point ransac with epipolar constraint
Üç boyutlu konumlandırma problemleri için yeni bir veri eşleştirme çözüm yöntemi: One-poınt ransac wıth epıpolar constraınt
SELÇUK KILIÇ
Yüksek Lisans
İngilizce
2014
Bilgisayar Mühendisliği Bilimleri-Bilgisayar ve KontrolÖzyeğin ÜniversitesiBilgisayar Mühendisliği Bölümü
PROF. DR. ARİF TANJU ERDEM