Geri Dön

Gap yarıiletkeni ile hazırlanan metal-yarıiletken kontakların elektriksel özelliklerinin incelenmesi

The investigation of electrical properties of metal-semiconductor contacts prepared with gap semiconductor

  1. Tez No: 245569
  2. Yazar: BİROL ÖNAL
  3. Danışmanlar: YRD. DOÇ. DR. METİN ÖZER
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
  7. Yıl: 2009
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Gazi Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Bölümü
  12. Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
  13. Sayfa Sayısı: 83

Özet

Bu çalışmada, (100) yönelimli, 300?m kalınlığında, 1x1018cm-3 taşıyıcı yoğunluğuna sahip n-tipi GaP yarıiletken üzerine metal buharlaştırma metodu ile Au/n-GaP yapılar oluşturuldu. Bu yapıların temel bazı elektriksel parametreleri 80-380K sıcaklık aralığında incelendi. Hazırlanan bu yapıların 80K-380K sıcaklık aralığında yapılan akım-gerilim (I-V) ölçümlerinden; idealite faktörü n, Schottky engel yüksekliği ?B ve diğer bazı diyot parametreleri hesaplandı. Oda sıcaklığında engel yüksekliği 0.785 eV, idealite faktörü ise 1.47 olarak bulundu. Sıcaklık artışıyla idealite faktörünün azaldığı, engel yüksekliğinin ise arttığı gözlendi. I-V ölçümlerinden ara yüzey durum yoğunluğu değerleri hesaplandı ve sıcaklığa bağlı olarak azaldığı görüldü. Oda sıcaklığında 5 kHz - 400 kHz aralığında frekansa bağlı sığa-gerilim (C-V) karakteristikleri, 1 MHz frekansta ise sıcaklığa bağlı sığa-gerilim (C-V) özellikleri incelendi. 1/C²-V grafiği kullanılarak; difüzyon potansiyeli VD, engel yüksekliği ?B, verici atomların yoğunluğu ND, tüketim tabakası genişliği WD veyalıtkan tabaka kalınlığı ? hesaplandı. Oda sıcaklığında engel yüksekliği C-V ölçümlerinden 1.02 eV olarak bulundu.

Özet (Çeviri)

In this study, Au/n-GaP structures were prepared on n-type GaP semiconductor with orientation (100) and having 300 ?m thickness and carriers concentration of 1x1018cm-3 by metal evaporation method. Some basic electrical parameters of these structures were investigated in the range of 80K-380K. Prepared structure's current-voltage (I-V) specifications have been calculated under 80K-380K temperature ranges and ideality factor n, Schottky barrier heights ?B and other related diode parameters has been evaluated. At room temperature, it has been determined for barrier height as 0.785 eV and for ideality factor as 1.47. It has been observed that ideality factor decreases barrier height increases as temperature increases. Characteristics of current-voltage (I-V) at room temperature and characteristics of capacitance-voltage (C-V) which is bound to frequency range of 5 kHz-400 kHz has been analyzed. At 1 MHz frequency, capacitance-voltage (C-V) specifications has been analyzed depend on temperature. Density of interface states values were evaluated from I-V measurements and it has been noticed that it decreases as temperature increases. Using 1/C²-V graphic data; diffusion voltage VD, barrier height ?B, concentration of donor ND, width of depletion layer WD and insulation layer thickness has been calculated. At room temperature barrier height value has been calculated as 1.02 eV from C-V measurements.

Benzer Tezler

  1. N-GaP yarıiletkeni ile hazırlanan metal yarıiletken kontakların diyot ve optik özelliklerinin incelenmesi

    Investigation of the diode and optical properties of metal semiconductors contacts prepared with n-GaP semiconductor

    AYKUT KIYMAZ

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2010

    Fizik ve Fizik MühendisliğiGazi Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. METİN ÖZER

  2. MgO ara yüzey tabakalı yarıiletken aygıtların elektronik ve optoelektronik özelliklerinin incelenmesi

    Investigation of electronic and optoelectronic properties of MgO interface layer semiconductor devices

    BAŞAK ÇAĞLAYAN TOPRAK

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2024

    Fizik ve Fizik MühendisliğiGazi Üniversitesi

    Fotonik Bilimi ve Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. SAİME ŞEBNEM AYDIN

  3. Metal-kompleks yarıiletgen schottky diyotların elektronik özelliklerinin belirlenmesi

    Investigation of the electronic properties of metal-complex semiconductor schottky diodes

    FETHİ DAĞDELEN

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2004

    Fizik ve Fizik MühendisliğiFırat Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    DOÇ.DR. AYŞE AYDOĞDU

  4. Au/n-InP ve Au/Pyronine-B/n-InP Schottky yapıların sıcaklığa bağlı elektriksel karakterizasyonu

    Temperature dependence of electrical characteristics of Au/n-InP and Au/Pyronine-B/n-InP Schottky structures

    MURAT SOYLU

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2007

    Fizik ve Fizik MühendisliğiAtatürk Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF.DR. BAHATTİN ABAY

  5. Organik yarıiletken tabanlı fotovoltaik aygıtlar için şekilli ince film altlıkların kullanımı ve etkilerinin incelenmesi

    The effect of the usage of sculptured thin film substrates for organic semiconductor based photovoltaic devices

    DİLEK DEMİROĞLU

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2019

    Enerjiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Malzeme Bilimi ve Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. MUSTAFA KAMİL ÜRGEN

    DR. ÖĞR. ÜYESİ BEYHAN TATAR