Geri Dön

Ni/n-GaP Schottky diyodunun kontak parametrelerinin incelenmesi

Determination of contact parameters of Ni/n-GaP Schottky contacts

  1. Tez No: 284363
  2. Yazar: ÖZLEM YİĞİT
  3. Danışmanlar: DOÇ. DR. SONGÜL DUMAN
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
  7. Yıl: 2011
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Atatürk Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: 65

Özet

Bu çalışmada, aynı şartlarda hazırlanmış 15 adet Ni/n-GaP Schottky diyotlarının akım?voltaj karakteristikleri oda sıcaklığında tayin edilmiş ve bu diyotlara ait bazı parametreler hesaplanmıştır. Akım-voltaj karakteristiklerinden elde edilen Schottky engel yüksekliklerinin 0,87 eV ve 0,97 eV arasında ve idealite faktörü değerlerinin ise 1,76 ve 1,08 arasında değiştiği belirlenmiştir. Bu Schottky diyotlardan birinin akım-voltaj ve kapasite-frekans ölçümleri, karanlık ortamda 120-320 K sıcaklık aralığında 20 K'lik adımlarla alınmıştır. Numune sıcaklığına bağlı olarak, Schottky diyodun engel yüksekliği, idealite faktörü ve seri direnç gibi karakteristik parametreleri hesaplanmıştır. Yarıiletken bant aralığında arayüzey seviyeleri ve zaman sabiti kapasite-frekans karakteristiğinden belirlenmiştir.

Özet (Çeviri)

In this study, current-voltage (I?V) characteristic of 15 dot Ni/n-GaP Schottky diodes identically prepared was determined in room temperature and some parameters of these diodes was calculated. It was determined that Schottky barrier heights (BH) obtained from current-voltage characteristics changed between 0,87 eV and 0,97 eV and ideality factor values changed between 1,76 and 1,08. Current-voltage and capacitance-frequency measurements of one of these Schottky diodes was performed in the range of 120-320 K with a temperature step of 20 K under dark conditions. The characteristic parameters of Schottky diode such as barrier height (BH), ideality factor and series resistance were calculated depending on the temperature of the sample. The interface states in the semiconductor bandgap and their relaxation times were determined from the capacitance-frequency characteristics.

Benzer Tezler

  1. Au/CdTe ve Ag/CdTe eklemlerin yapısal ve opto-elektronik özellikleri

    Structural and opto-electronic properties of Au/CdTe and Ag/CdTe junctions

    MURAT ÇALIŞKAN

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2006

    Fizik ve Fizik MühendisliğiYıldız Teknik Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF.DR. TAYYAR CAFEROV

  2. Ni/n-6H SiC schottky diyodunda bazı elektriksel özelliklerin sıcaklıkla değişiminin incelenmesi

    Investigaton of some electrical properties with temperature for Ni/n-6H SiC schottky diode

    ASLIHAN SEFAOĞLU

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2008

    Fizik ve Fizik MühendisliğiAtatürk Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. SEYDİ DOĞAN

  3. Metal (Au, Ni, Cr)/GO-Fe3O4 (NP)/ n-Si /Al heteroyapıların üretimi ve elektriksel özelliklerinin sıcaklığa bağlı olarak incelenmesi

    Fabrication and investigation of electrical properties of Metal/GO-Fe3O4(NP)/n-Si/Al heterojunctions dependent on temperature

    İLKNUR GÜMÜŞ

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2022

    Fizik ve Fizik MühendisliğiAtatürk Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. ŞAKİR AYDOĞAN

  4. Karbon nanotüp arayüzeyli n-GaP schottky diyot üretilmesi ve akım iletim mekanizmasından parametrelerinin belirlenmesi

    Production of n-GaP schottky diode with carbon nanotube interface and determination its parameters from the currentconduction mechanism

    KÜRŞAT EKİZ

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2022

    Fizik ve Fizik MühendisliğiGazi Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. METİN ÖZER

  5. Ni/n-4H-SiC ve Ni/n-6H-SiC tabanlı schottky ve Au/Ni/n-4H-SiC ve Au/Ni/n-6H-SiC omik kontaklarda yüksek enerjili ve düşük dozlu elektronlarla ışınlamanın etkisi

    The influence of high energy and low dose electron irradiation on Ni /n-4H-SiC and Ni /n-6H-SiC based schottky and Au/Ni /n-4h-sic and au/ni /n-6h-sic ohmic contacts

    KÜBRA ÇINAR

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2008

    Fizik ve Fizik MühendisliğiAtatürk Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. CEVDET COŞKUN