Vanadyum oksit ince filmlerinin sol-jel yöntemi ile hazırlanması ve karakterizasyonu
Preparation and characterization of vanadium oxide thin films by sol-gel method
- Tez No: 295439
- Danışmanlar: PROF. DR. FATMA Z. TEPEHAN
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
- Yıl: 2011
- Dil: Türkçe
- Üniversite: İstanbul Teknik Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Fizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: 77
Özet
Bu çalışmada vanadyum oksit filmleri döndürerek kaplama ve daldırarak kaplama sol-jel metotlarıyla hazırlanmıştır. Hazırlanan filmler değişik sıcaklıklarda, değişik sürelerde ve değişik gaz ortamlarında ısıl işlemlere tabi tutulmuştur. Yüksek sıcaklıklarda yapılan ısıl işlemlerin film stokiyometrisine etkisi araştırılmıştır. Yapılan ısıl işlemler sonucu VO2 (B) ve VO2 (M) filmleri elde edilmiştir. Ardından düşük sıcaklıklarda yapılan ısıl işlemlerin, film kalınlığının ve anlık sıcaklık değişiminin filmlerin optik özellikleri üzerindeki etkisi gözlemlenmiştir. Son olarak VO2 (B) filmleri ile VO2 (M) filmlerinin yüzey morfolojileri ve optik özellikleri karşılaştırılmıştır. Filmlerin optik parametreleri NKD spektrofotometresinden elde edilmiştir. Filmlerin kristal yapıları ve yüzey morfolojileri sırasıyla X-ışını kırınımı (XRD) ve Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) kullanılarak analiz edilmiştir.
Özet (Çeviri)
In this study, vanadium oxide films were prepared by sol?gel spin coating and sol-gel dip coating methods. Prepared films were annealed at different annealing temperatures, for different times and in different ambient gases. The effect of high temperature annealing to the film stoichiometry were investigated. VO2 (B) and VO2 (M) films are obtained. Then the effects of film thickness, low temperature annealing and instant temperature change on the optical properties of vanadium oxide thin films were observed. Finally the surface morphology and the optical properties of VO2 (B) and VO2 (M) films were compared. Optical parameters of the films were obtained from the NKD spectrophotometer. The crystalline structure and surface morphology of the films were analyzed by X-Ray Diffraction (XRD) and Atomic Force Microscopy (AFM), respectively.
Benzer Tezler
- Vanadyum oksit ve katkılı vanadyum oksit ince filmlerinin hazırlanması ve karakterizasyonu
Preparation and characterization of vanadium oxide and mixed vanadium oxide thin films
İBRAHİM TÜRHAN
Doktora
Türkçe
2008
Fizik ve Fizik Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiFizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. GALİP G. TEPEHAN
- Tungsten oksit ve katkılı tungsten oksit ince filmlerin hazırlanması ve karakterizasyonu
Preparation and characterization of tungsten oxide and doped tungsten oxide thin films
ESRA ÖZKAN ZAYİM
Doktora
Türkçe
2002
Fizik ve Fizik Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiFizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. FATMA Z. TEPEHAN
- Vanadium oxide (VOx) thin films elaborated by sol-gel method for microbolometer applications
Mikrobolometre uygulamarı için sol-gel yöntemiyle hazırlanan Vanadyum oksit (VOx) ince filmler
KADİR KARSLI
Yüksek Lisans
İngilizce
2012
Mühendislik BilimleriOrta Doğu Teknik ÜniversitesiMikro ve Nanoteknoloji Ana Bilim Dalı
PROF. DR. TAYFUN AKIN
DOÇ. DR. CANER DURUCAN
- A microbolometer detector based on a sol-gel technology
Sol jel teknolojisine dayalı mikrobolometre dedektörü
ÖZGECAN DERVİŞOĞLU
Doktora
İngilizce
2013
Elektrik ve Elektronik MühendisliğiOrta Doğu Teknik ÜniversitesiMikro ve Nanoteknoloji Ana Bilim Dalı
PROF. DR. TAYFUN AKIN
DOÇ. DR. CANER DURUCAN
- Katı elektrokromik cihaz tasarımı
Design of solid electrochromic device
DİLEK EVECAN
Yüksek Lisans
Türkçe
2012
Fizik ve Fizik Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiFizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. ESRA ÖZKAN ZAYİM