Geri Dön

Au/n-4H-SiC (MS) schottky diyotların hazırlanması ve elektriksel karekteristiklerinin frekansa bağlı incelenmesi

The preparation of Au/n-4H-SiC (MS) schottky diodes and the investigation their electrical characteristicsas function of frequency

  1. Tez No: 343671
  2. Yazar: ÖMER SEVGİLİ
  3. Danışmanlar: PROF. DR. ŞEMSETTİN ALTINDAL
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
  7. Yıl: 2013
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Gazi Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: 65

Özet

Bu çalışmada, Au/n-4HSiC (MS) Schottky engel diyotları hazırlandı ve bunların temel elektriksel karekteristikleri oda sıcaklığında frekansa bağlı kapasitans/iletkenlik-voltaj (C-V ve G/w-V) verileri kullanılarak incelendi. Katkılanan verici atomların (ND) yoğunluğu, Fermi enerji seviyesi (EF), ve potansiyel engel (?b(C-V)) yüksekliği değerleri geniş bir frekans aralığında (0,7 kHz-1MHz) ölçülen ters gerilimdeki C-2-V eğrilerinden elde edildi. Hem C hem de G/w değerleri oldukça frekansa bağlı olup artan frekansla üstel olarak azalmaktadır. C ve G/w değerlerinde özellikle tüketim bölgesindeki bu değişiklikler, metal yarıiletken arasında yerleşmiş olan arayüzey durumlarının (Nss) varlığına atfedildi. Seri direnç (Rs)-logf grafiği, C ve G/w değerleri kullanılarak elde edildi ve artan frekansla azaldığı gözlendi. Yüksek-düşük frekans kapasitans (CHF-CLF)değerleri kullanılarak elde edilen Nss-V grafiğinde bir pik gözlendi. Özellikle yüksek frekanslardaki C-V eğrilerinde ileri voltajlarda gözlenen bükülme Rs değerine atfedildi.

Özet (Çeviri)

In this study, Au/n-type 4H-SiC Schottky diodes were fabricated and their main electrical characteristics have been investigated as function of frequency by using the capacitance/conductance-voltage (C-V and G/w-V) measurements at room temperature. The doping density of donor atoms (ND), Fermi energy level (EF), and barrier height (?b(C-V)) values were obtained from the reverse bias C-2-V plots in the wide frequency range of 0,7 kHz-1MHz. Both C and G/w values were found as strongly function of frequency and decrease with increasing frequency as almost exponential. The changes in C and G/w values in depletion region were attributed to the particular density distribution of surface states (Nss) between metal and semiconductor. The series resistance (Rs)-logf plots were also obtained by using the C and G/w data and decreases with increasing frequency. The voltage dependent of Nss was also obtained from high-low frequency capacitance (CHF-CLF) method and shows a peak. Especially the concave curvature in high frequency C-V plots for forward biases was attributed to the value of Rs.

Benzer Tezler

  1. The preparation of Au/Zn-nanoparticle-doped PVA/n- SiC (MPS) structures and the investigation of their electrical and dielectric properties as function of frequency and temperature using impedance spectroscopy method

    Au/Zn-nanoparçacıkla-katkılı PVA/n- SiC (MPS) yapıların hazırlanması ve elektrik ile dielektrik özelliklerinin empedans spektroskopi metodu kullanılarak frekans ve sıcaklığa bağlı incelenmesi

    MOHAMMAD HUSSEIN ALI AL DHAROB

    Doktora

    İngilizce

    İngilizce

    2018

    Fizik ve Fizik MühendisliğiSüleyman Demirel Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. ALİ KÖKCE

  2. Au/tio2/n-4h-sic (mıs) schottky diyotların elektrik ve dielektrik özelliklerinin frekansa bağlı incelenmesi

    Frequency dependent electric and dielectric properties of au/tio2/n-4h-sic (mis) schottky diodes

    ESRA ERBİLEN TANRIKULU

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2015

    Fizik ve Fizik MühendisliğiGazi Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. ABDULLAH GÜNEN

  3. Ni/n-4H-SiC ve Ni/n-6H-SiC tabanlı schottky ve Au/Ni/n-4H-SiC ve Au/Ni/n-6H-SiC omik kontaklarda yüksek enerjili ve düşük dozlu elektronlarla ışınlamanın etkisi

    The influence of high energy and low dose electron irradiation on Ni /n-4H-SiC and Ni /n-6H-SiC based schottky and Au/Ni /n-4h-sic and au/ni /n-6h-sic ohmic contacts

    KÜBRA ÇINAR

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2008

    Fizik ve Fizik MühendisliğiAtatürk Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. CEVDET COŞKUN

  4. Au/4H n-SiC schottky diyotların sıcaklığa bağlı akım iletim mekanizmasının incelenmesi

    The investigation of temperature dependence current transmission mechanism of Au/4H n-SiC schottky diodes

    DİLARA ŞEME ŞİRİN

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2021

    Fizik ve Fizik MühendisliğiHitit Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. DİLBER ESRA YILDIZ

  5. Au/Si3N4/4H n-SiC (MYY) yapıların akım iletim mekanizması ve elektriksel özelliklerinin sıcaklığa bağlı incelenmesi

    The investigation of temperature dependence current-conduction mechanism and electrical characteristics of Au/Si3N4/4H n-SiC (MIS) stuctures

    FATİH YİĞİTEROL

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2019

    Fizik ve Fizik MühendisliğiHitit Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. DİLBER ESRA YILDIZ