Geri Dön

SILAR tekniği ile büyütülen MnS ince filmlerin özelliklerinin film kalınlığına bağlı incelenmesi

The investigation of properties of MnS thin films grown SILAR technique as a function of film thickness

  1. Tez No: 351869
  2. Yazar: İLKE CAVANMİRZA
  3. Danışmanlar: YRD. DOÇ. DR. MEMET ALİ YILDIRIM
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Dielektrik Sabiti, Film Kalınlığı, İnce Film, Kırılma İndisi, MnS, SEM, SILAR, XRD, Yarı iletken ince filmler, Semiconductor thin films
  7. Yıl: 2013
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Erzincan Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.

Özet

MnS yarıiletken ince filmler, Successive Ionic Layer Adsorption and Reaction (SILAR) tekniği ile cam taban malzemeler üzerine oda sıcaklığında büyütüldü. Filmlerin yapısal, yüzeysel, optik ve elektriksel özellikleri farklı analiz teknikleri ile incelendi ve film kalınlığının bu özellikler üzerine etkisi araştırıldı. X-ışını kırınımı (XRD) ve taramalı elektron mikroskobu (SEM) analizleri filmlerin polikristal yapıda olduğunu, taban malzeme yüzeyine iyi kaplandığını gösterdi. Optik soğurma ve sıcaklığa bağlı I-V ölçümleri yardımıyla, film kalınlığının 180 nm'den 350 nm'ye artması ile filmlerin yasak enerji aralığı değerleri 3,39 eV'tan 2,92 eV'ta, elektriksel özdirenç değerleri 11,84x106 -cm'den 1,80x106 -cm'ye azaldığı belirlenmiştir. Kırılma indisi (n), statik dielektrik (o) ve yüksek frekans dielektrik sabiti değerleri film kalınlığına bağlı olarak hesaplandı. Sonuç olarak, film kalınlığının filmlerin karakteristik özelliklerinde dikkate değer etkiler oluşturduğu ve bu özelliklerin film kalınlığı ile iyileştiği görüldü.

Özet (Çeviri)

MnS thin films were grown on glass substrates using Successive Ionic Layer Adsorption and Reaction (SILAR) technique at room temperature. The structural, morphological, optical and electrical properties of the films were investigated by different analysis techniques and the film thickness effect on these properties was analyzed. The X-ray diffraction (XRD) and scanning electron microscopy (SEM) analysis showed that all the films exhibited polycrystalline nature and were covered well on substrates. With the help of optical absorption and temperature-dependent I-V measurements, it was determined that band gap values of films decreased from 3,39 eV to 2,92 eV and electrical resistivity changed from 11,84x106 -cm to 1,80x106 -cm as the film thickness increased from 180 nm to 350 nm. The refractive index (n), optical static (o) and high frequency dielectric constants values were calculated as a function of the film thickness. Finally, it was seen that the film thickness have noticeable effects on the characteristic properties of the films and film thickness improves these properties.

Benzer Tezler

  1. Pasif güneş enerjisi sistemi ile bina ısıtılmasının ekonomik analizi

    Başlık çevirisi yok

    AHMET AKDENİZ

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1987

    EnerjiEge Üniversitesi

    Enerji Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. HULUSİ DEMİR

  2. Tekstil işletmelerinin çevre kirlenmelerine etkileri

    Başlık çevirisi yok

    REMZİ GEMCİ

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1987

    Tekstil ve Tekstil MühendisliğiUludağ Üniversitesi

    Tekstil Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    YRD. DOÇ. DR. MEHMET TASMACI

  3. Güneş enerjisi ile çalışan R21-DMF li soğurmalı soğutma çevrimin analizi ve bazı tersinmezliklerin çevrimin performansı üzerindeki etkilerinin incelenmesi

    Analysis of R21-DMF solar powered absorpption refrigeration system and effect of someirreversbilities on the Performance of the cycle

    SEYİT ARİF TÜR

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1987

    Makine MühendisliğiGazi Üniversitesi

    Makine Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. ERCAN ATAER

  4. İdrar kültürlerinden izole edilen coag (-) staphylococcus (s. epidrmidis ve s. saprophyticus)'ların idrar yolu enfeksiyonlarındaki yeri

    The Place of coag (-) staphylococcus to the urinary tract infectron which are isolated from the urine cultures

    SUMRU ÇITAK(KORMAN)

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1985

    ÜrolojiGazi Üniversitesi

    YRD. DOÇ. DR. URAZ GÜVEN