SILAR metodu ile hazırlanan PbS ince filmlerinin elektrokimyasal düzenlenmesi
Electrochemical orientation of PbS thin films prepared by SILAR method
- Tez No: 352140
- Danışmanlar: DOÇ. DR. MURAT ALANYALIOĞLU
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Kimya, Chemistry
- Anahtar Kelimeler: PbS, SILAR, elektrokimya, yarıiletken, XRD, STM, PbS, SILAR, electrochemistry, semiconductor, XRD, STM
- Yıl: 2014
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Atatürk Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Kimya Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.
Özet
Bu tez çalışması kapsamında, SILAR metodu kullanılarak Au elektrot üzerinde PbS ince filmlerinin hazırlanması, hazırlanan ince filmlerin elektrokimyasal özelliklerinin incelenmesi ve elektrokimyasal uygulamalar ile daha düzenli ve kristal yapılar elde edilmesi amaçlanmıştır. Hazırlanan PbS ince filmleri; CV (Dönüşümlü voltametri), STM (Taramalı Tünelleme Mikroskobu), XRD (X-ışınları Kırınımı) ve Uv-Vis-NIR spektroskopisi teknikleri ile karakterize edildi. Filmlerin düzenlenmesi için iki farklı yol kullanılmıştır. Bunlardan ilkinde potansiyel kontrollü elektroliz (PKE) yönteminden faydalanılmıştır. CV verilerinden elde edilen sonuçlar doğrultusunda PKE yöntemi için gerekli olan en uygun potansiyel -450 mV olarak belirlenmiştir. Filmleri düzenlemek için kullandığımız ikinci yöntem ise ardışık CV tekniğidir. Bu yöntem için uygun potansiyel aralığı -800 mV ile 50 mV arasında olduğu belirlendi. STM verilerinden elektrokimyasal prosesler sonrasında filmlerin nispeten daha düzenli ve kübik görünümlü kristal bir yapıya dönüştüğü gözlendi. XRD verilerinden ise yapının amorf yapıdan baskın olarak PbS(200) difraksiyonuna sahip polikristal yapıya dönüştüğü sonucuna varıldı. Uv-Vis-NIR spektrumlarından filmlerin optik özelliklerinin değişmediği belirlendi. Tüm bu veriler, ince filmlerin elektrokimyasal prosesler sonrasında daha düzenli bir yapıya dönüştüğünü göstermektedir.
Özet (Çeviri)
In this study, it is aimed to prepare PbS thin films by the SILAR method on Au electrode, to investigate electrochemical properties of prepared thin films and to obtain more ordered crystal structures with electrochemical applications. Prepared PbS thin films were characterized by CV (cyclic voltammetry), STM (scanning tunneling microscopy), XRD (powder X-ray diffraction) and Uv-Vis-NIR spectroscopy techniques. Two different electrochemical procedure were used for the orientation of films. First procedure was potential controlled electrolysis (PCE) method. In accordance with the results obtained from CV data, the most optimal potential which is necessary for PCE method was determined as -450 mV. The second procedure was successive CV technique. Optimal potential range for this method was determined to be between -800 mV and 50 mV. STM data presents that films are relatively more regular and transformed a cubic-like crystalline structure. XRD data presents a structure transformed to the polycrystalline PbS structure from the amorphous structure after electrochemical processes. Uv-Vis-NIR spectroscopy shows that optical properties of films didn't change. All these data show that PbS films transformed into a more regular and crystalline structure of thin films after electrochemical applications.
Benzer Tezler
- Synthesis and characterization of boron-acrylate/SBA-15 polymer composites
Bor-akrilat/SBA-15 polimer kompozitlerinin sentez ve karakterizasyonu
NARGIZ ALIYEVA
Yüksek Lisans
İngilizce
2019
İstanbul Teknik ÜniversitesiPolimer Bilim ve Teknolojisi Ana Bilim Dalı
Yükleniyor...
- Lead-free organometallic perovskite characterization for environmentally friendly solar cells
Çevre dostu güneş hücreleri için kurşunsuz organometalik perovskite karakterizasyonu
İBRAHİM ŞİMŞEK
- Kitozan mikrokürelerden DNA serbestleşmesinin in vitro koşullarda incelenmesi
The investigation of DNA release from chitosan microspheres in vitro conditions
TUĞÇE DAŞTAN
- Investigation of the effect of nickel doped on the structural surface and optical properties of zno thin films prepared by the silar method
Sılar metodu ile hazırlanan fto/zno ince filmlerinin yapısal yüzeysel ve optik özellikleri üzerinde nikel katkısının etkisinin incelenmesi
AMMAR HAMDAN DHEYAB DHEYAB
- SILAR Yöntemi ile hazırlanan CdO ince filmlerin fiziksel özelliklerinin araştırılması
Investigation of physical properties of CdO thin films prepared by SILAR method
GÖKHAN GÖKALP
