Zirkonyum oksit katkılı TiO2/SiO2 ince filminin üretim ve karakterizasyonu
The fabrication and charaterization of zirconium oxide doped TiO2/SiO2 thin film
- Tez No: 364084
- Danışmanlar: DOÇ. DR. AHMET YAVUZ ORAL
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Biyoteknoloji, Kimya, Metalurji Mühendisliği, Biotechnology, Chemistry, Metallurgical Engineering
- Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
- Yıl: 2014
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Gebze Yüksek Teknoloji Enstitüsü
- Enstitü: Mühendislik ve Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Malzeme Bilimi ve Mühendisliği Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: 72
Özet
Bu çalışmada, TiO2 ve SiO2 içeren ince filmlere oranı değişen ZrO2 katkısının etkisi incelenerek yeni ince filmler üretilmesi ve bu filmlerin karakterize edilmesi amaçlanmıştır. Prizma çiftleyicide karakterizasyonun yapılabilmesi için ince filmlerin dalga kılavuzu özelliği göstermesi gereklidir. Bu yüzden ince filmler, daha küçük kırınım indisine sahip mikroskop camı üzerine kaplanarak ölçüm yapılmıştır. Yöntem olarak, maliyeti uygun olan sol-jel daldırarak kaplama yöntemi seçilmiştir. Üretilen ince filmlerin mikroyapıları, taramalı elektron mikroskobu (SEM) ve enerji dağılımlı spektroskopi (EDS) ile incelenmiştir. Kristal yapının karakterize edilmesi amacıyla X-ışınları kırınım cihazı (XRD) kullanılmıştır. Son olarak, prizma çiftleyici (prism coupler) ile kırılma indisleri ve film kalınlıkları, yüksek hassasiyetli olarak ölçülmüş ve sonuçları yorumlanmıştır.
Özet (Çeviri)
The purpose in this study is to investigate and to characterize thin films that include TiO2 and SiO2 in varying proportions and doped with ZrO2. Thin films must be exhibiting the waveguide properties to be characterized by a prism coupler. Therefore, thin films were coated on microscope slides because of their smaller refractive indexes than thin films. Relatively less expensive sol-gel dip coating method was chosen. Fabricated thin film microstructures were investigated by scanning electron microscope (SEM) and energy diffraction spectroscopy (EDS). To characterize crystal structure, X-Ray diffraction (XRD) was used. Finally, refractive index and thickness were measured by prism coupler with high sensitivity and results were interpreted.
Benzer Tezler
- Novel approaches for protection of light metals under various wear conditions via micro arc oxidation process
Hafif metallerin mikro ark oksidasyon yöntemiyle farklı aşınma şartlarında korunmasına yönelik yenilikçi yaklaşımlar
FAİZ MUHAFFEL
Doktora
İngilizce
2021
Mühendislik Bilimleriİstanbul Teknik ÜniversitesiMalzeme Bilimi ve Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. HÜSEYİN ÇİMENOĞLU
- Katı oksit yakıt hücrelerinde elektrolit malzemesi olarak kullanılan kübik zirkonyum oksitin (c-ZrO2) değişik oranlarda metal oksit katkıları ile oda sıcaklığındaki mekanik özelliklerinin iyileştirilmesi
Improvement of room temperature mechanical properties of various amount of metal oxide doping cubic zirconia (c-ZrO2) used as electrolyte material for solid oxide fuel cells
TUĞBA BOYACIOĞLU
Yüksek Lisans
Türkçe
2007
Metalurji MühendisliğiGazi Üniversitesiİleri Teknolojiler Ana Bilim Dalı
PROF. DR. SÜLEYMAN TEKELİ
- Otlukbeli ve Keşiş Dağları arasındaki sahanın litolojik yapı ve araziden yararlanma ilişkisinin Google Earth Engine ve XRF analizi ile değerlendirilmesi
Evaluation of the lithological structure and land use relationship in the area between Otlukbeli and Keşiş Mountains using Google Earth Engine and XRF analysis
ONUR ATABAY
- Mullit katkılı farklı oksitlerle stabilize edilmiş zirkonya seramiklerinin üretimi, karakterizasyonu ve aşınma özelliklerinin incelenmesi
Production, characterization and investigation of wear properties of zirconia ceramics with mullite additives and stabilized with different oxides
MEHMET AKİF HAFIZOĞLU
Doktora
Türkçe
2021
Makine MühendisliğiSivas Cumhuriyet ÜniversitesiMakine Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. AHMET AKKUŞ
- Tungsten oksit ve katkılı tungsten oksit ince filmlerin hazırlanması ve karakterizasyonu
Preparation and characterization of tungsten oxide and doped tungsten oxide thin films
ESRA ÖZKAN ZAYİM
Doktora
Türkçe
2002
Fizik ve Fizik Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiFizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. FATMA Z. TEPEHAN