Yalıtkan filmlerin yansıma spektrumu kullanılarak Gabor dalgacığı ile kırılma indisinin belirlenmesi
Determination of the refractive index of dielectric films from the reflectance spectrum by using Gabor wavelet
- Tez No: 424139
- Danışmanlar: PROF. DR. SERHAT ÖZDER
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
- Yıl: 2015
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Çanakkale Onsekiz Mart Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: 48
Özet
Bu çalışmada yalıtkan bir film için teorik olarak elde edilen yansıma spektrumu analiz edilerek kırılma indisi dağılımı, sürekli dalgacık dönüşümü (SDD) yöntemi ile Gabor dalgacığı kullanılarak belirlenmiştir. Fourier dönüşümü (FD) ve SDD yöntemleri, zamana bağlı sinyallerin frekans bilgilerini elde etmek için kullanılan yöntemlerdir. Bu çalışmada FD ve SDD yöntemleri yalıtkan filmlerin kırılma indisini belirlemek için uyarlanmıştır. Önceki çalışmalarda, SDD yöntemi ince filmlerin geçirgenlik spektrumu analizinde kullanılmıştır. Bu çalışmada ise SDD yöntemi; yalıtkan filmlerin yansıma spektrumunun analizinde kullanılmıştır. Bu çalışma için ilk olarak yalıtkan filmlerin yansıma spektrumu teorik olarak elde edilmiştir. Sonrasında elde edilen teorik yansıma spektrumunun SDD ile analizi yapılarak, yalıtkan filmin kırılma indisi belirlenmiştir. Yapılan tez çalışmasının sonucu olarak yalıtkan filmlerin optik analizlerinde kullanılabilecek yeni bir yöntem geliştirilmiştir.
Özet (Çeviri)
In this work, the refractive index dispersion of a dielectric film whose reflectance spectrum is achieved as theoretically is determined by using continuous wavelet transform (CWT) with Gabor wavelet. Fourier transform (FT) and CWT are methods which are used for determining frequency informations of the time dependent signals. In this study, FT and CWT methods are adapted for determining refractive index of dielectric films. In previous works, CWT method was used for analysing the transmittance spectrum of thin films. In case of this study, CWT method is used for analysing reflectance spectrum of a dielectric film. Primarily, the theoretical reflectance spectrum of a dielectric film is derived, then the refractive index of dielectric film was determined from the analysing of theoretical reflectance spectrum of the dielectric film by using the CWT method. Consequently, a new method that can be used in optical analysis of dielectric films is improved.
Benzer Tezler
- Genelleştirilmiş Morse dalgacığı kullanılarak mikrometre ölçeğinde yüzey profili belirlenmesi
Determination of surface profile at micrometer scale by using generalized morse wavelet
ERHAN TİRYAKİ
Doktora
Türkçe
2021
Fizik ve Fizik MühendisliğiÇanakkale Onsekiz Mart ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. SERHAT ÖZDER
DOÇ. DR. ÖZLEM KOCAHAN YILMAZ
- Organik boya katkılı kompozitlerin optik, dielektrik ve termal özelliklerinin incelenmesi
Investigation of optical, dielectric and thermal properties of organic dye additive composites
TURGAY YILDIRIM
- Localized surface plasmons in metal nanoparticles engineered by electron beam lithography
Elektron demet litografisi ile işlenmiş metal nanoparçacıklarda lokalize yüzey plazmonları
URCAN GÜLER
Yüksek Lisans
İngilizce
2009
Fizik ve Fizik MühendisliğiOrta Doğu Teknik ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. RAŞİT TURAN
- RF saçtırma yöntemiyle üretilmiş MgF2 ince filmlerin optik özelliklerinin incelenmesi
The investigation of optical properties of MgF2 thin films produced by RF scattering method
ERKAN AYKUT
Yüksek Lisans
Türkçe
2019
Fizik ve Fizik MühendisliğiSüleyman Demirel ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. SEYFETTİN ÇAKMAK
- Yüksek dielektrik sabitli yalıtkan filmlerin üretilmesi ve mos yapıda incelenmesi
Fabrication and characterization of high-k dielectric films in mos structure
AYŞE EVRİM SAATCİ
Doktora
Türkçe
2015
Fizik ve Fizik MühendisliğiYıldız Teknik ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. KUBİLAY KUTLU