Geri Dön

CuIn1-xGaxSe2 tabanlı fotovoltaik ince filmlerinin üretilmesi ve karakterizasyonu

Production and characterization of CuIn1-xGaxSe2 based photovoltaic thin films

  1. Tez No: 470559
  2. Yazar: HASAN YILDIRIM
  3. Danışmanlar: DOÇ. DR. AHMET PEKSÖZ
  4. Tez Türü: Doktora
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Yarı iletken güneş pili, Yarı iletken ince filmler, Semiconductor solar cell, Semiconductor thin films
  7. Yıl: 2017
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Uludağ Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Atom ve Molekül Fiziği Bilim Dalı
  13. Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.

Özet

Bakır indiyum galyum diselenid (CuInxGa1-xSe2) ince filmlerinnin ardışık elektrodepozisyonu ITO kaplı cam alttaşlar üzerine sulu çözeltilerde potansiyostatik yöntemle gerçekleştirilmiştir. Cu–Ga–S (CGS) and Cu–In–S (CIS) öncü ince filmlerinin ITO alttaşlar üzerine elektrodepozisyon mekanizmaları da dönüşümlü voltammetri yöntemi ile araştırılmıştır. Dönüşümlü voltammetri çalışmaları tekli Cu, Ga, S, In ve Se sistemleri, ikili Cu–S, G–S ve Cu–Ga sistemleri, üçlü Cu–Ga–S ve Cu–In–S sistemleri için yapılmıştır. Cu–Ga–S öncü filmlerinin birlikte depozisyonunda GaCl3 konsantrasyonun etkisi detaylı olarak incelenmiştir. En yüksek Ga elemental bileşen oranına sahip CGS öncü filmi 20 mM GaCl3 içeren çözeltiden depozite edilmiştir. Bu film 1,7 eV enerji bant aralığına ve 2,32x1016 cm-3 taşıyıcı konsantrasyonuna sahiptir. En uygun depozisyon potansiyelinin belirlenmesi amacıyla Cu–In–S öncü ince filmlerinin birlikte elektrodepozisyonu farklı potansiyellerde gerçekleştirilmiştir. Taramalı elektron mikroskobu (SEM) ve enerji dağılımlı x-ışını (EDX) analizleri -0,9 V'ta depozite edilen CIS öncü filminin %15,82 Cu, %41,45 In ve %42,73 S ile en iyi elemental bileşim oranına ve yaklaşık 0,4 μm tanecik boyutları ile düzgün yüzey yapısına sahir olduğunu göstermiştir. Cu/In/Cu/Ga/Cu/Se katmanlı yapıları farklı sıcaklıklarda (250 °C – 550 °C) tavlanmışlardır. Taramalı elektron mikroskobu analizlerinden CIGS ince filmlerin tavlama sıcaklıklarına bağlı olarak farklı yüzey özelliklerine sahip oldukları görülmüştür. EDX analizleri, tavlama sıcaklığı arttıkça CIGS ince filmlerdeki Se elemental bileşen oranının %46,99'dan %14,84'e düştüğünü göstermiştir. XRD analizlerine göre 550 °C'de tavlanan CIGS ince filmin sitokiyometrik CuGa0,6In0,4Se2 fazına sahip olduğu görülmüştür. CIGS ince filmlerin enerji bant aralıkları 1,41 eV ile 2,19 eV arasında değişim göstermektedir. Depozite edilen CIGS filmleri ~1016 cm-3 taşıyıcı konsantrasyonuna sahiptirler. Hall etkisi ölçümleri CGS, CGS ve CIGS filmlerinin p–tipi yarıiletken özelliklere sahip olduklarını göstermiştir.

Özet (Çeviri)

Sequential electrodeposition of copper indium gallium diselenide (CuInxGa1-xSe2) thin films on ITO coated glass substrates was carried out by potentiostatic method in aqueous solutions. The electrodeposition mechanism of Cu–Ga–S (CGS) and Cu–In–S (CIS) precursor thin films on ITO substrates has also been investigated using cyclic voltammetry technique. The cyclic voltammetry study was performed in unitary Cu, Ga, S, In and Se systems, binary Cu–S, Ga–S and Cu–Ga systems, ternary Cu–Ga–S and Cu–In–S systems. The effect of Ga concentration on the properies of codeposition of Cu–Ga–S precursor films has been investigated in detail. The CGS precursor film with the biggest Ga concentration has been deposited in the bath containing 20 mM GaCl3. This film has an energy band gap of 1.7 eV and a carrier concentration of 2.32x1016 cm-3. The codeposition of Cu–In–S precursor thin films was caried out at diferent potentials to determine the optimal deposition potential. Scanning electron microscopy (SEM) and energy dispersive x-rays (EDX) analysis shows that the CIS precursor film deposited at -0.9 V has the best elemental composition rates of %15.82 Cu, %41.45 In and %42.73 S, and a good morphology with approximately 0.4 μm grain size. The Cu/In/Cu/Ga/Cu/Se stacked layers were annealed at different temperatures (250 °C – 550 °C). From scanning electron microscopy, it was found that CIGS thin films exhibited different surface morphologies depending on annealing temperature. EDX analysis showed that elemental ratio of Se in CIGS films decreased from 46.99 to 14.84 (%), as annealing temperature was increased. XRD analysis showed that the CIGS film annealed at 550° had CuGa0.6In0.4Se2 stoichiometric phase. Energy band gap of the CIGS films vary between 1.41 and 2.19 eV. Deposited CIGS thin films have carrier concentration of ~1016 cm-3. Hall–effect measurements showed that CGS, CIS and CIGS films had p–type semiconductor conductivity.

Benzer Tezler

  1. C17H11O2N ve C15H10O3 moleküllerinin kristal yapılarının incelenmesi

    The structures of C17H11O2N and C15H10O3 molecules

    SABAHAT ÖZCAN

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1999

    Fizik ve Fizik MühendisliğiHacettepe Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. ENGİN KENDİ

  2. ZnO/CdS/CuIn(S,Se)2 heteroeklem güneş pillerinde admittans spektroskopisi ve akım-iletim mekanizmaları

    Admittance spectroscopy and current-transport mechanisms of ZnO/CdS/CuIn(S,Se)2 heterojunction solar cells

    OSMAN PAKMA

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2002

    Fizik ve Fizik MühendisliğiMuğla Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF.DR. ŞENER OKTİK

  3. Ankara Sancağı'nın tarihi coğrafya bakımından terleşme ve nüfusu (1871-1907)

    The settlement and population of the province of Ankara, 1871-1907: A study from the perspective of histoical geography

    BİRSEN EDANUR YILDIRIM

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2006

    CoğrafyaAnkara Üniversitesi

    Coğrafya Ana Bilim Dalı

    PROF.DR. MESUT ELİBÜYÜK

  4. Servikal ıntraepiteliyal neoplazilerde leep sonrası takipte HPV DNA testinin servikal sitolojik takibe katkısı ve düşük dereceli servikal lezyonlarda (CIN1) LEEP işleminin HPV eradikasyonu üzerine etkisi

    The additional role of HPV DNA test over cytology in the follow-up of cervical intraepithelial neoplasia after LEEP and influence of LEEP on the eradication of HPV for low grade squamous intraepithelial lesions

    NASUH UTKU DOĞAN

    Tıpta Uzmanlık

    Türkçe

    Türkçe

    2008

    Kadın Hastalıkları ve DoğumHacettepe Üniversitesi

    Kadın Hastalıkları ve Doğum Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. KUNTER YÜCE