Non-contact atomic force microscope in ultra high vacuum using radiation pressure excitation of cantilever with Fabry-Perot interferometer
Ultra yüksek vakumda çalışan Fabry-Perot girişim ölçerine sahip yayı radyasyon basıncı ile tahrik edilen yüzeye değmeden atomik kuvvet mikroskobu
- Tez No: 474871
- Danışmanlar: PROF. DR. AHMET ORAL
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
- Yıl: 2017
- Dil: İngilizce
- Üniversite: Orta Doğu Teknik Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: 82
Özet
Bu çalışmada yüzeye değmeden atomic kuvvet mikroskobu görüntülemesi özel bir ultra yüksek vakum sisteminde yayın radyasyon basıncıyla tahriki yoluyla gerçekleştirilmiştir. Hem yayın tahriki hem de sapmasının ölçümü fiber ucundaki TiO2 kaplamasıyla oluşturulmuş Fabry-Pérot girişimölçeri kullanılarak yapıldı. Bu kaplama sayesinde girişim deseninin eğiminde birkaç kata kadar iyileşme görülmektedir. Yay titreşiminin hem ilk hem de ikinci modu yayın radyasyon basıncı ile tahrik esnasında açıkça ve yalancı pikler olmadan Fabry-Pérot girişimölçeri kullanılarak ilk defa gözlemlenmiştir. Yay sabiti ölçümü ısıl tahrik ve radyason basıncıyla tahrik yoluyla elde edilmiş yay sabiti ölçüm sonuçları karşılaştırılarak radyasyon basıncıyla tahrik yönteminin güvenilirliği gösterilmiştir. Girişimölçeri test etmek için bir grafit numunesi yayın piezo akustik yolla titreştirilmesiyle görüntülenmiştir. Daha sonra yayın radyasyon basıncıyla tahriki yoluyla temiz bir Si(111) (7x7) yüzeyinin atomik çözünürlükte görüntülenmesi denenmiştir.
Özet (Çeviri)
In this study Non-Contact Atomic Force Microscope (NC-AFM) imaging was performed by excitation of the cantilever via radiation pressure in a custom Ultra-High Vacuum (UHV) system. Both the excitation of the cantilever and the measurement of the deflection of the cantilever were done by employing a fiber Fabry-Pérot interferometer obtained by a TiO2 coating of the fiber end. This coating allows for a several times higher interference slope. The second normal mode of the cantilever oscillation, along with the first mode was clearly observed by excitation via radiation pressure without spurious peaks with Fabry-Pérot interferometer for the first time. By comparing the results of the cantilever spring constant measurements obtained by thermal excitation and radiation pressure excitation amplitude modulation, the reliability of the method of excitation by radiation pressure was shown. In order to test the interferometer a highly ordered pyrolytic graphite (HOPG) sample was imaged by exciting the cantilever with piezo-acoustic excitation. Then imaging experiments were carried out for obtaining atomic resolution image of a clean Si(111) (7x7) surface by exciting the cantilever with radiation pressure.
Benzer Tezler
- Non-contact atomic force microscope operation in ultra high vacuum using radiation pressure excitation of cantilever
Ultra yüksek vakumda, radyasyon basıncı ile tahrik edilen, yüzeye değmeden atomik kuvvet mikroskopisi
YİĞİT UYSALLI
Yüksek Lisans
İngilizce
2016
Fizik ve Fizik MühendisliğiOrta Doğu Teknik ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. AHMET ORAL
- Non contact atomic force microscopy investigation of silicon nanoparticles deposited on hopg
Hopg üzerine depolanmış silisyum nanoparçacıkların temazsız atomik kuvvet mikroskobu ile incelenmesi
MÜMİN MEHMET KOÇ
Doktora
İngilizce
2015
Fizik ve Fizik MühendisliğiUniversity of LeicesterFizik Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. KLAUS VON HAEFTEN
- Simultaneous STM/ AC-AFM investigation of clean Si(001)-(2x1) surface and Ge epitaxial growth on Si(001)-(2x1)
Temiz Si(001)-(2x1) yüzeyi ve üzerine eşörgüsel Ge tabakası büyütülmüş Si(001)-(2x1) yüzeylerinin TTM/ temassız AKM eşzamanlı kullanılarak incelenmesi
MEHRDAD ATABAK
Yüksek Lisans
İngilizce
2001
Fizik ve Fizik Mühendisliğiİhsan Doğramacı Bilkent ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
YRD. DOÇ. DR. AHMET ORAL
- Atomic resolution imaging and force spectroscopy of silicon surfaces with atomic force microscopy
Silikon yüzeyinin atomik kuvvet mikroskopisi ile atomik çözünürlükte görüntülenmesi ve kuvvet spektroskopisi
HAKAN ÖZGÜR ÖZEN
Doktora
İngilizce
2001
Fizik ve Fizik Mühendisliğiİhsan Doğramacı Bilkent ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. RECAİ ELLİALTIOĞLU
YRD. DOÇ. DR. AHMET ORAL
- Boundary lubrication mechanisms of diamond-like carbon coatings with oil additives
Başlık çevirisi yok
HACI ABDULLAH TAŞDEMİR