Al katkılı n-ZnO/p-Si heterojonksiyon foto diyotun ışığa duyarlılık performansının incelenmesi
Photosensitivity performance of Al doped n-ZnO/p-Si heterojunction devices
- Tez No: 515619
- Danışmanlar: DR. ÖĞR. ÜYESİ ORHAN KAPLAN, PROF. DR. ABDULLAH YILDIZ
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Elektrik ve Elektronik Mühendisliği, Electrical and Electronics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
- Yıl: 2018
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Gazi Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Elektrik-Elektronik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.
Özet
Al-katkılı ZnO (AZO)/p-Si heterojonksiyon fotodiyot sol – jel spin kaplama yöntemiyle p Si alttaşı üzerine AZO filmlerinin depozisyonu ile üretildi. ZnO tabakasının üç farklı kalınlık değeri için üretilen cihazların diyot, fotodiyot ve fotovoltaik parametreleri araştırıldı. Elde edilen üç farklı kalınlıktaki (AZO 2, AZO 4, AZO 6) ince filmlerin yapısal, yüzeysel ve optik özellikleri araştırıldı. X-ışını difraksiyon (XRD) desenlerinden, üretilen ZnO ince filmlerin hegzagonal yapıda olduğu tespit edildi. Atomik kuvvet mikroskobu (AFM) ölçümleri üretilen üç farklı kalınlıktaki ince filmin yüzeylerinin düzgün ve homojen bir dağılıma sahip olduğu görüldü. Taramalı elektron mikroskobu (SEM) ölçümleri ile ince filmlerin kalınlıkları tespit edildi. İnce filmlerin karanlık ve AM 1.5 standart test şartları altında elde edilen akım-gerilim karakteristiklerinden ışığa duyarlılık (PS) ve doğrultma oranları (RR) hesaplandı. Elde edilen sonuçlardan üretilen ince filmlerin diyot, fotodiyot ve fotovoltaik cihaz olarak çalışması için ZnO tabakasının optimum kalınlıkları tespit edildi. Sonuç olarak AZO 2/Si cihazının, AZO 4/Si ve AZO 6/Si cihazlarına göre nispeten daha iyi sonuçlar verdiği görüldü.
Özet (Çeviri)
Al-doped ZnO (AZO)/p-Si heterojunction devices were fabricated by deposition of AZO films on p-Si substrates using sol - jel spin coating technique. Diode, photodiode and photovoltaic parameters of fabricated devices in three different thickness were studied. Structural, surface and optical properties of fabricated thin films in three different thickness (AZO 2, AZO 4, AZO 6) of ZnO were investigated. It was observed from the x-ray diffraction patterns that AZO films were oriented to the c-axis of the hexagonal wurtzite structure along the growth direction. Scanning AFM measurements presented that ZnO thin films had a homogeneous and uniform distribution. The thickness of the film were measured by scanning electron microscope. Photosensitivity (PS) and rectification rates (RR) of devices were calculated from current-voltage characteristics performed under dark and AM 1.5 standard test conditions. Optimum thickness of ZnO layer for fabricated devices to function as diode, photodiode and photovoltaic device were obtained. It was concluded that AZO 2/Si showed better performance as compared to AZO 4/Si and AZO 6/Si devices.
Benzer Tezler
- ZnO:Mg ince filminin fiziksel özellikleri ve Al/n-ZnO:Mg /p-Si eklem diyot uygulaması
Physical properties of ZnO:Mg thin films and application of Al/n-ZnO:Mg /p-Si heterojuntion diodes
ZEKİYE ABA
Yüksek Lisans
Türkçe
2018
Fizik ve Fizik MühendisliğiHarran ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. ABDULLAH GÖKTAŞ
- Farklı oranlarda bi katkılı ZnO ara yüzey tabakalı Al/(Bi:ZnO)/p-Si (MIS) fotodiyotların optik ve elektrik parametrelerinin incelenmesi
Optical and electrical parameters of Al/(Bi:ZnO)/p-Si (MIS) photodiodeodes with different ratios of bi doped zno interfacial layer
AHMET DEMİRCİ
Yüksek Lisans
Türkçe
2023
Bilim ve TeknolojiGazi ÜniversitesiFotonik Bilimi ve Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. ŞEMSETTİN ALTINDAL
DOÇ. DR. HAYRİYE GÖKÇEN ÇETİNKAYA
- SILAR yöntemi ile Al/Cd:ZnO/p-Si/Al Fotodiyot üretimi ve karakterizasyonu
Characterization of Al/ZnO/p-Si/Al photodiode fabricated by SILAR method
YASEMİN ŞAHİN
Yüksek Lisans
Türkçe
2022
Fizik ve Fizik MühendisliğiGazi Üniversitesiİleri Teknolojiler Ana Bilim Dalı
PROF. DR. ŞÜKRÜ ÇAVDAR
- p-Si, GaAs ve ge alttaşlar üzerine Al:ZnO filmlerin büyütülmesi; yapısal, optik ve elektriksel özelliklerinin incelenmesi
The deposition of Al:ZnO films on p-Si, GaAs and ge substrates: The investigation of structural, optical and electrical properties
GÜRKAN KURTULUŞ
Yüksek Lisans
Türkçe
2014
Fizik ve Fizik MühendisliğiGazi ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. ERGÜN KASAP
- Capacitance-voltage and current-voltage characteristic properties of ZnO:Al/p-Si heterojunction
ZnO:Al/p-Si heterokavşakların kapasitans-voltaj ve akım-voltaj karakteristik özellikleri
YELİZ KÖSE
Yüksek Lisans
İngilizce
2015
Metalurji Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiMetalurji ve Malzeme Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. MURAT BAYDOĞAN