X-ışınları kırınım verileri değerlendirme bilgisayar programı yazılımı
Software development for the analyses of x-ray diffraction data
- Tez No: 5336
- Danışmanlar: PROF.DR. ETİ MUSTAFA UYGUR
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Metalurji Mühendisliği, Metallurgical Engineering
- Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
- Yıl: 1988
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Gazi Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Metalurji Eğitimi Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: 139
Özet
X-ISINLARI KIRINIM VERİLERİ DE?ERLENDİRME BİLGİSAYAR PROGRAMI YAZILIMI ( Yüksek Lisans Tezi ) Yusuf ÖZÇATALBAŞ GAZI ÜNİVERSİTESİ FEN BİLİMLERİ ENSTİTÜSÜ Eylül 1988 ÖZ Türkiye'de kullanılan kırınım cihazlarının büyük bir çoğunluğunda bilgisayar sistemi bulunmamaktadır. Bu sebeple, yapılan kırınımların sonuçlandırılması hayli güç olmakta ve uzun zaman almaktadır. Bu problem göz önüne alınarak, x-ışınları kırınım tayfından yapının ve malzeme yapı parametrelerinin bilgisayar destekli çözülmesi amaçlanmıştır. Bu amaç, GW-BASIC dilinde hazırlanan programla gerçekleştirilmiştir, ilk aşamada 180 adet JCPDS kırınım veri kartı sırasız erişimli kütüğe yüklenmiş ve istenirse ek kayıt yapılması sağlanmıştır. Kırınım uygulanan numunenin yapısının ve paremetrelerinin çözümünde, girilen bu veriler esas alınmıştır. Buradan hareketle, Hanawalt metodunun uygulanması sonucu uygun kart seçimi yapılmıştır. Programın çalıştırılması sırasında operatörden kaynaklanacak her türlü hata düşünülmüş olup, bunların önlenmesi için mümkün olan tedbirler alınmıştır. Numuneye ait seçilen kart ekrana orjinal formatında gelmekte ve operatörün isteğine bağlı olarak aynı formatta printerden kartın çıktısı alınmaktadır. II
Özet (Çeviri)
SOFTWARE DEVELOPMENT FOR THE ANALYSES OF X-RAY DIFFRACTION DATA (M.Sc. Thesis) Yusuf ÖZÇATALBAŞ GAZI UNIVERSITY INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY September 1988 ABSTRACT Most of the X-Ray Diffraction systems used in Turkey don't have a computer system. For this reason, the processing of the data is more difficult and takes more time. To overcome this problem, use of a GU-BASIC computer program was planned to determine the structure and tha parameters of materials. In the first stage 180 JCPDS diffraction data cards had been loaded in a random access file to the computer. In the program the position and intensity of the peaks obtained by XRD are loaded to the computer and thus the lattice parameters and structures of the specimens are obtained. Then using the Hanawalt method, suitable cards are chosen. The possible personnel errors vere considered and some necessary precautions were taken to prevent them. The diffraction data card of the specimen appears in its original format on the screen and can be printed in the same format. Ill
Benzer Tezler
- Karbon nanotüp tabanlı çinko oksit nanotellerin büyütülmesi ve optoelektronik özelliklerinin incelenmesi
Growth of carbon nanotube based zinc oxide nanowires and investigation of their optoelectronic properties
MEHMET DURMAZ
Yüksek Lisans
Türkçe
2024
EnerjiYalova ÜniversitesiEnerji Sistemleri Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. BAYRAM KILIÇ
- Ayatekla (Meryemlik) ören yeri su yapılarının duvar örgü tekniklerinin belgelenmesi ve yapılarda kullanılan harç ve sıvaların karakterizasyonu
Documentation of wall construction techniques of the cisterns at Ayatekla (Meryemlik) archaeological site and characterization of mortars and plasters used in the constructions
MERVE ÖZTÜRK
Yüksek Lisans
Türkçe
2022
Mimarlıkİstanbul Teknik ÜniversitesiMimarlık Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. IŞIL POLAT PEKMEZCİ
- Saray (Tekirdağ) ve Pınarhisar (Kırklareli) kömürlerinin sülfür ve iz element içeriğinin kökeni ve kömürlerin çevresel etkisinin hidrojeokimyasal açıdan değerlendirilmesi
The origin of the sulfur and trace elements of the Saray (Tekirdağ) and Pinarhisar (Kirklareli) coals and evaluation of environmental effects on hydrogeochemistry
CEMİLE ERARSLAN
Doktora
Türkçe
2018
Jeoloji Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiJeoloji Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. YÜKSEL ÖRGÜN TUTAY
- Synthesis of poly(methyl methacrylate) reinforced by graphene nanoplates
Grafen nano plakalar ile güçlendirilmiş poli(metil metakrilat) sentezi
ELİF KOCAÇINAR
Yüksek Lisans
İngilizce
2021
Mühendislik Bilimleriİstanbul Teknik ÜniversitesiNanobilim ve Nanomühendislik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. NİLGÜN BAYDOĞAN
- C9H9ClN4O, C19H18Cl2N2O2,C11H10O2, C54H70O4 organik bileşiklerinin tek kristal X-ışınları kırınım yöntemi ile yapı analizleri
Structure analysis of the C9H9ClN4O, C19H18Cl2N2O2,C11H10O2, C54H70O4 organic compounds with single crystals X-ray diffraction method
NAHİDE BURCU ARSLAN
Yüksek Lisans
Türkçe
2005
Fizik ve Fizik MühendisliğiOndokuz Mayıs ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
YRD. DOÇ. DR. CANAN KAZAK