P-tipi Si alttaban üzerine nanotel CdSe ince filmlerin üretilmesi ve yapısal özellikleri
The production and structural properties of nanowire CdSe thin films on p-type Si substrates
- Tez No: 562195
- Danışmanlar: PROF. DR. HÜLYA METİN GÜBÜR
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
- Yıl: 2019
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Mersin Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Nanoteknoloji ve İleri Malzemeler Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.
Özet
Bu çalışmada p-tipi Silisyum alttaban üzerine nanotel Kadmiyum Selenür (CdSe) ince filmleri kimyasal depolama yöntemi kullanılarak büyütülmüştür. Cam ve FTO alttabanlar üzerine büyütülen filmlerinin karakterizasyonu incelendikten sonra bir heteroeklem oluşturmak için silisyum (Si) alttaban üzerinde oluşan CdSe filmlerinin güneş pili olarak kullanılabilirliği burada incelenmiştir. Silisyum alttabanın mat ve parlak yüzeyi olmak üzere 2 farklı yüzeyde depolama işlemi gerçekleştirilerek CdSe filmleri üretilmiştir. Oluşturulan p-n ekleminin karakteristiğini X-ışını difraksiyonu (XRD), taramalı elektron mikroskobu (SEM), Raman ve Fotolüminesans spektroskopisi, I-V ölçümleri, 4 'lü prob ölçümleri kullanılarak belirlenmiştir. Farklı alttaban üzerinde ve farklı depolama sürelerinde oluşturulan CdSe ince filmlerin morfolojik özellikleri karşılaştırmalı olarak verilmiştir.
Özet (Çeviri)
In this study, CdSe nanowire thin films have been produced on p-type Si substrate by using chemical bath deposition. After the characterization of thin films grown on glass and FTO substrates, a heterojunction has been formed by growing an n-CdSe thin film on a p-Si substrate and we have investigated the use of this heterojunction as solar cell. CdSe thin films have been deposited on both faces, front face (polished face) and back face (unpolished face), of Si substrate. The characteristics of p-n heterojunctions have been determined by X-ray diffraction (XRD), scanning electron microscopy (SEM), Raman and Photoluminescence spectroscopy, I-V measurements, and four probe method. The morphological properties of CdSe thin films grown on different substrates at different deposition times have been presented comparatively.
Benzer Tezler
- Pre-eklampsi ve eklampsi vakalarında immünoglobülin düzeylerinin değerlendirilmesi (Klinik ve immünobiolojik araştırma)
Examination des valeurs d'immunoglobulines en cas de la toxemie gravidique
M. MURAT SEMİZ
Tıpta Uzmanlık
Türkçe
1987
Kadın Hastalıkları ve DoğumGazi ÜniversitesiKadın Hastalıkları ve Doğum Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. MÜLAZIM YILDIRIM
- Izgara ve altlık üstünde barındırılan ile de france X kıvırcık (Fl) ve merinos kuzularının entansif besideki performansları
Başlık çevirisi yok
ÜMRAN ŞAHAN
Yüksek Lisans
Türkçe
1987
Veteriner HekimliğiUludağ ÜniversitesiZootekni Ana Bilim Dalı
PROF. DR. ERDOĞAN TUNCEL
- Bromtimol mavisi, bromkresol moru ve klorfenol kırmızısı indikatörleri katılmış özel besiyerlerinin sütlerde antibiyotik belirtilmesine uygunluğu üzerine araştırmalar
Başlık çevirisi yok
ESENGÜL TUNCER
Yüksek Lisans
Türkçe
1985
Gıda MühendisliğiEge ÜniversitesiSüt Teknolojisi Ana Bilim Dalı
PROF. DR. HASAN YAYGIN
- Enez kili ve asitle etkileşmesinin kristal yapı bakımından x-ışını kırınım yöntemi ile incelenmesi
Başlık çevirisi yok
NEZİHE ÇALIŞKAN
Doktora
Türkçe
1986
Fizik ve Fizik Mühendisliğiİnönü ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. NİZAMETTİN ARMAĞAN