Geri Dön

Plant-on-a-chip devices for seed screening

Tohum taraması için yonga-üstü-bitki aygıtları

  1. Tez No: 563837
  2. Yazar: ALİ YETGİN
  3. Danışmanlar: PROF. DR. DEVRİM PESEN OKVUR, DOÇ. DR. KEREM CANLI
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Biyoteknoloji, Biotechnology
  6. Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
  7. Yıl: 2019
  8. Dil: İngilizce
  9. Üniversite: İzmir Yüksek Teknoloji Enstitüsü
  10. Enstitü: Mühendislik ve Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Biyoteknoloji ve Biyomühendislik Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: 41

Özet

Daha sonra doldurulacaktır.

Özet (Çeviri)

Daha sonra doldurulacaktır.

Benzer Tezler

  1. Tek merkezden denetlenen çok PLC'li bir sistemin tekstil boyama prosesinin otomasyonunda kullanımı

    Application of a central controlled multi PLC system to the textile dyeing process

    MUVAFFAK AMASYA

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1995

    Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    DOÇ. DR. MEHMET BÜLENT ÖRENCİK

  2. Microfluidic based differential electrochemical sensors

    Mikroakışkan tabanlı diferansiyel elektrokimyasal sensor

    ÖZGE AKAY

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2013

    Fizik ve Fizik Mühendisliğiİhsan Doğramacı Bilkent Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    ÖĞR. GÖR. COŞKUN KOCABAŞ

  3. Hareketli ortamlar için sensör akış hücresi geliştirilmesi

    Developing sensor flow cells for flowing environments

    ERCAN ASLAN

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2023

    Bilim ve TeknolojiYıldız Teknik Üniversitesi

    Biyomühendislik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. İBRAHİM IŞILDAK

  4. Liquid phase epitaxial growth and characterization of Bi-2212 superconducting thick films

    Bi-2212 süperiletken kalın filmlerin sıvı faz epitaksi yöntemiyle üretimleri ve karakterizasyonları

    ARA RAHIMPOUR

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2023

    Fizik ve Fizik MühendisliğiSabancı Üniversitesi

    DR. ÖĞR. ÜYESİ YILMAZ ŞİMŞEK

  5. 3um N-kuyu CMOS teknolojisi ile test kırmığı tasarımı ve tranzistor eşik gerilimi ayarı

    Test chip design for 3 um N-well CMOS fabrication technology and threshold voltage adjustment

    ZEYNEP D. TOROS

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1991

    Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    PROF.DR. DURAN LEBLEBİCİ