Geri Dön

ALD yöntemi kullanılarak üretilmiş ZnO,TiO2 ve HfO2 ince film kaplamaların karakterizasyonu ve diyot özelliklerinin incelenmesi

Characterizations and diode properties of ZnO, TiO2 and HfO2 thin films produced by ALD

  1. Tez No: 598824
  2. Yazar: YAĞMUR ALTAN
  3. Danışmanlar: PROF. DR. HAKAN ATEŞ
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Metalurji Mühendisliği, Metallurgical Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
  7. Yıl: 2019
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Gazi Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Metalurji ve Malzeme Mühendisliği Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: 126

Özet

Bu çalışma, atomik katman biriktirme yöntemi ile Si alttaş üzerine farklı sıcaklıklarda büyütülen ZnO, TiO2 ve HfO2 metal oksitlerin karakterizasyonunu ve diyot özelliklerinin incelenmesini kapsamaktadır. Bu amaçla ilk olarak Al 2 O 3 kimyasal yöntemlerle temizlenen Si alttaşlar üzerine yalıtım katmanı olarak ALD ile büyütüldü. Daha sonra bu tez çalışmasında kullanılacak olan metal oksit ince filmlerden ZnO, TiO2 ve HfO2, atomik katman biriktirme yöntemi ile Al2O3 yalıtım tabakasının üzerine büyütüldü ve bu oluşan p- n eklemlerden Schottky diyotlar oluşturuldu. Elde edilen yarı iletken metal oksit ince filmlerin yapısal karakterizasyonları XRD ve XPS ile filmlerin yapısal yüzey morfolojisi AFM ve SEM, spektral tepkileri ve optiksel özellikleri UV- Visible Spektrometre, elektriksel analizleri büyütülen ince filmlerin yüzeyine uygun maske yerleştirilerek gümüş (Ag) kontaklar alınarak akım-gerilim (I-V) ölçümleriyle yapılmıştır. Kaplanan ince filmlerin kalınlık karakterizasyonu elipsometre ile tespit edilmiştir. ZnO ve TiO2 ince filmlerinin elektrisel özellikleri 80°C'de ve 250°C'de başarılı bir şekilde diyot davranışı sergilemiştir. En iyi diyot özelliğinin düşük sıcaklıkta büyütülen filmlerde olduğu görülmüştür. ZnO filminin polikristal yapıda, TiO2 ve HfO2 ince filmlerinin amorf yapıda olduğu görülmüştür. Bu çalışmanın, ALD ile Schottky diyot uygulamaları ve optoelektronik uygulamaları için faydalı bir çalışma olacağına ve ileride düşük sıcaklıklarda daha iyi elektriksel özelliklere sahip diyot üretimi için iyi bir kaynak olacağına inanılmaktadır.

Özet (Çeviri)

This study covers the characterization and diode properties of ZnO, TiO2 and HfO2 metal oxides grown on Si substrate by atomic layer deposition method. For this purpose, Al2O3 was first grown by ALD as an insulating layer on Si substrate which were cleaned by chemical methods. Then, ZnO, TiO2 and HfO2 from the metal oxide thin films to be used in this thesis were grown on the Al2O3 insulation layer by atomic layer deposition and Schottky diodes were formed from these formed p-n junctions. Structural characterization of semiconductor metal oxide thin films by XRD and XPS,structural surface morphology of films by AFM and SEM, spectral responses and optical properties by UV-Visible Spectrometer, electrical analyzes were made by applying current-voltage (I-V) measurements by taking silver (Ag) contacts by placing an appropriate mask on the surface of the grown thin films. Thickness characterization of coated thin films was determined by ellipsometer. The electrical properties of the ZnO and TiO 2 thin films successfully exhibited diode behavior at 80 °C and 250 °C. It has been found that the best diode property is in films grown at low temperature. ZnO film was polycrystalline and TiO2 and HfO2 thin films were found to be amorphous. It is believed that this study will be a useful study for Schottky diode applications and optoelectronic applications with ALD, and it will be a good reference for diode production with better electrical properties at low temperatures in the future.

Benzer Tezler

  1. Zno,tio2 and exotic materials for thin film electronic devices

    Zno, tio2 ve bazı egzotik malzemeler kullanılarak düşük sıcaklıkta oluşturulmuş ince film elektronik aygıtlar

    FEYZA ORUÇ

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2012

    Mühendislik Bilimleriİhsan Doğramacı Bilkent Üniversitesi

    Elektrik ve Elektronik Mühendisliği Bölümü

    YRD. DOÇ. DR. ALİ KEMAL OKYAY

  2. Atomic layer deposition of metal oxides on self-assembled peptide nanofiber templates for fabrication of functional nanomaterials

    Kendıliğinden düzenlenen peptit nanolif kalıplar ve atomik katman kaplama yöntemiyle fonksiyonel nanomalzeme üretimi

    HAMİT EREN

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2016

    Mühendislik Bilimleriİhsan Doğramacı Bilkent Üniversitesi

    Malzeme Bilimi ve Nanoteknoloji Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. MUSTAFA ÖZGÜR GÜLER

  3. İnce film kaplama yöntemleriyle radar soğurucu tekstil malzemelerinin tasarlanması ve üretilmesi

    Design and manifacture of radar absorber textile materials by thin-film coating methods

    ŞEYMA ATICI

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2024

    Elektrik ve Elektronik MühendisliğiBursa Uludağ Üniversitesi

    Optik ve Fotonik Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. ENES YİĞİT

  4. Silisyum nanoyapı tabanlı gaz sensörü üretimi ve karakterizasyonu

    Formation of silicon nanostructure based metal oxide gas sensors

    NİLÜFER USLU UZUN

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2017

    Fizik ve Fizik MühendisliğiDicle Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. YUSUF SELİM OCAK

  5. Atomik katman biriktirme tekniği kullanılarak opto-elektronik cihaz üretimi ve karakterizasyonu

    Fabrication and characterization of opto-electronic device by atomic layer deposition method

    NURİYE KAYMAK

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2022

    Bilim ve TeknolojiGazi Üniversitesi

    İleri Teknolojiler Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. ELİF ORHAN